本公开提供了一种量子比特激发频率的标定方法、装置、设备及存储介质，涉及超导量子计算机、量子芯片、量子比特、频率标定等技术领域。该方法包括：针对每种扫谱测试频率，均分别以不同脉冲幅值的激发脉冲激发目标量子比特，并根据统计到的激发结果计算平均激发率，该激发结果用于指示该目标量子比特未被成功激发或被成功激发；根据各平均激发率确定目标量子比特的频率谱线；将频率谱线中单峰波形的目标扫谱测试频率，标定为目标量子比特的激发频率。应用该方法能够通过相对更少的测试次数得到相对更加准确的激发频率，提升了通过自动化方式完成对多量子比特的激发频率进行准确标定的标定效率。定的标定效率。定的标定效率。
【技术实现步骤摘要】
量子比特激发频率的标定方法、装置、设备及存储介质
[0001]本公开涉及量子
，具体涉及超导量子计算机、量子芯片、量子比特、频率标定等
，尤其涉及一种量子比特激发频率的标定方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品。
技术介绍
[0002]超导量子比特在制备完成后，由于微加工工艺问题，其比特频率和设计值之间会有一定差异。除此之外，有些超导量子比特是频率可调的，在实际使用中，需要根据实际情况来调节比特的频率。因此，超导量子比特频率的测试和标定是非常重要的。
[0003]如何确保通过扫谱实验扫到高质量的比特激发谱，以此来快速准确的确定比特频率，是超导量子芯片表征标定的一个重要问题，尤其当量子比特数目变多时，自动化的表征标定程序更加需要一种能够稳健比特频率扫谱方法。
技术实现思路
[0004]本公开实施例提出了一种量子比特激发频率的标定方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品。
[0005]第一方面，本公开实施例提出了一种量子比特激发频率的标定方法，包括：针对每种扫谱测试频率，均分别以不同脉冲幅值的激发脉冲激发目标量子比特，并根据统计到的激发结果计算平均激发率；其中，激发结果指示目标量子比特未被成功激发或被成功激发；根据各平均激发率确定目标量子比特的频率谱线；将频率谱线中单峰波形的目标扫谱测试频率，标定为目标量子比特的激发频率。
[0006]第二方面，本公开实施例提出了一种量子比特激发频率的标定装置，包括：变幅值脉冲激发单元，被配置成针对每种扫谱测试频率，均分别以不同脉冲幅值的激发脉冲激发目标量子比特，并根据统计到的激发结果计算平均激发率；其中，激发结果指示目标量子比特未被成功激发或被成功激发；频率谱线绘制单元，被配置成根据各平均激发率确定目标量子比特的频率谱线；激发频率标定单元，被配置成将频率谱线中单峰波形的目标扫谱测试频率，标定为目标量子比特的激发频率。
[0007]第三方面，本公开实施例提供了一种电子设备，该电子设备包括：至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的指令，该指令被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器执行时能够实现如第一方面描述的量子比特激发频率的标定方法。
[0008]第四方面，本公开实施例提供了一种存储有计算机指令的非瞬时计算机可读存储介质，该计算机指令用于使计算机执行时能够实现如第一方面描述的量子比特激发频率的标定方法。
[0009]第五方面，本公开实施例提供了一种包括计算机程序的计算机程序产品，该计算机程序在被处理器执行时能够实现如第一方面描述的量子比特激发频率的标定方法的步
骤。
[0010]本公开所提供的量子比特激发频率的标定方案，针对扫谱实验过程中的每种扫谱测试频率，均将原先仅基于固定脉冲幅值进行多次重复测试的扫谱测试方式，调整为基于变化的脉冲幅值来进行扫谱测试，从而尽可能的避免因所选择的固定脉冲幅值不准确导致的测试效率较低的问题，即通过尝试不同幅值大小的各个脉冲幅值，得以通过相对更少的测试次数得到相对更加准确的激发频率，提升了通过自动化方式完成对多量子比特的激发频率进行准确标定的标定效率。
[0011]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0012]通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本公开的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
[0013]图1是本公开可以应用于其中的示例性系统架构；
[0014]图2为本公开实施例提供的一种量子比特激发频率的标定方法的流程图；
[0015]图3为本公开实施例提供的一种按图2所示标定方法执行完成后绘制得到的一维频率谱线的示例图；
[0016]图4为本公开实施例提供的一种按图2所示标定方法对应得到的布洛赫球表象的示意图；
[0017]图5为本公开实施例提供的另一种量子比特激发频率的标定方法的流程图；
[0018]图6为本公开实施例提供的一种根据单峰波形标定得到激发频率段的方法的流程图；
[0019]图7为本公开实施例提供的一种量子比特激发频率的标定装置的结构框图；
[0020]图8为本公开实施例提供的一种适用于执行量子比特激发频率的标定方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0021]以下结合附图对本公开的示范性实施例做出说明，其中包括本公开实施例的各种细节以助于理解，应当将它们认为仅仅是示范性的。因此，本领域普通技术人员应当认识到，可以对这里描述的实施例做出各种改变和修改，而不会背离本公开的范围和精神。同样，为了清楚和简明，以下的描述中省略了对公知功能和结构的描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本公开中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0022]本公开的技术方案中，所涉及的用户个人信息的收集、存储、使用、加工、传输、提供和公开等处理，均符合相关法律法规的规定，且不违背公序良俗。
[0023]图1示出了可以应用本公开的量子比特激发频率的标定方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质的实施例的示例性系统架构100。
[0024]如图1所示，系统架构100可以包括量子芯片101、频率标定设备102、服务器103。频率标定设备102用于按照设定的参数发出激发脉冲，并利用这些激发脉冲尝试对构成量子芯片101的各量子比特进行激发，并收集得到激发结果，频率标定设备102可将该激发结果
发送给服务器103来进行后续计算，以便于根据计算结果完成对量子比特的激发频率的标定。
[0025]用户可以使用频率标定设备102和服务器103共同完成对量子芯片101中量子比特的频率标定。频率标定设备102和服务器103上可以安装有各种用于实现两者之间进行信息通讯的应用，例如激发脉冲参数设定类应用、自动化扫谱实验类应用、激发结果处理类应用等。
[0026]频率标定设备102通常为专用的硬件设备，服务器103则可以为硬件也可以为软件，当服务器103为硬件时，可以实现成多个服务器组成的分布式服务器集群，也可以实现成单个服务器；服务器103为软件时，可以实现成多个软件或软件模块，也可以实现成单个软件或软件模块，在此不做具体限定。
[0027]频率标定设备102和服务器103可以通过内置的各种应用可以提供各种服务，以可以提供自动化的量子比特频率标定服务的频率标定类应用为例，频率标定设备102和服务器103在运行该频率标定类应用时可实现如下效果：首先，频率标定设备102可以针对每种扫谱测试频率，均分别以不同脉冲幅值的激发脉冲激发目标量子比特，并将统计得到的激发结果发送给服务器103，该激发结果用于指示该目标量子比特未被成功激发或被成功激发，目标量子比特若被成功激发将进入激发态；然后，服务器103可以根据该激发结果计算平均激发率；接着，服务器1本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种量子比特激发频率的标定方法，包括：针对每种扫谱测试频率，均分别以不同脉冲幅值的激发脉冲激发目标量子比特，并根据统计到的激发结果计算平均激发率；其中，所述激发结果指示所述目标量子比特未被成功激发或被成功激发；根据各所述平均激发率确定所述目标量子比特的频率谱线；将所述频率谱线中单峰波形的目标扫谱测试频率，标定为所述目标量子比特的激发频率。2.根据权利要求1所述的标定方法，其中，各所述脉冲幅值被包含在与当前的扫谱测试频率对应的、处于预设脉冲长度下的预设脉冲幅值序列中。3.根据权利要求2所述的方法，其中，各所述脉冲幅值按幅值大小递增的顺序排列在所述预设脉冲幅值序列中。4.根据权利要求2所述的方法，其中，包含在所述预设脉冲幅值序列中的各脉冲幅值构成等差数列。5.根据权利要求2所述的标定方法，其中，所述脉冲幅值在所述预设脉冲幅值序列中存在N个，所述N为大于等于2的正整数。6.根据权利要求5所述的标定方法，其中，与不同的脉冲幅值分别对应的N的大小相同。7.根据权利要求1所述的标定方法，其中，所述激发脉冲包括π脉冲。8.根据权利要求1
‑
7任一项所述的标定方法，其中，所述将所述频率谱线中单峰波形的目标扫谱测试频率，标定为所述目标量子比特的激发频率，包括：在所述频率谱线中确定出唯一存在的单峰波形；将所述单峰波形中对应高于预设激发率的波段，确定为激发波段；将与所述激发波段对应的目标扫谱测试频率，标定为所述目标量子比特的激发频率段。9.根据权利要求1
‑
7任一项所述的标定方法，还包括：响应于超导量子计算机的量子芯片上的所有目标量子比特均完成了激发频率的标定，为所述量子芯片附加标定完成标记；利用附加有所述标定完成标记的量子芯片执行运算任务。10.一种量子比特激发频率的标定装置，包括：变幅值脉冲激发单元，被配置成针对每种扫谱测试频率，均分别以不同脉冲幅值的激发脉冲激发目标量子比特，并根据统计到的激发结果计算平均激发率；其中，所述激发结果指示所述目标量子比特未被成功激发或被成功激发；频率谱线绘制单元，被配置成根据各所述平均激发率确定所述目标量子比特的频率谱线；激发频率标定单元，被配置成将所述频率谱线中单峰波形的目标扫谱测...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭学仪，李力，王贺，孟则霖，陈澄，
申请(专利权)人：北京百度网讯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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