【技术实现步骤摘要】
一种Ln系元素掺杂In
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Zn基氧化物靶材的金相显示方法
[0001]本专利技术涉及靶材检测
,尤其涉及一种Ln系元素掺杂In
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Zn基氧化物靶材的金相显示方法。
技术介绍
[0002]Ln系元素由于其独特光学、电学及磁学特性使得其可以作为靶材的优良外加剂,目前Ln系元素作为添加剂已经实现在多个领域的广泛应用。在半导体氧化物靶材制备过程中添加适量的Ln系元素可以改善靶材的烧结温度、载流子浓度及电阻率等;氧化物半导体靶材由于其本身材料的特性导致其脆性较大、易开裂,ZrO2材料本身具有较高的韧性及高抗弯性能,因此添加少量的ZrO2可以增强靶材的硬度及抗弯强度等。
[0003]靶材的晶粒大小、晶粒取向等参数对溅射薄膜的物理性能、力学性能和光电性能等有十分重要的影响。为获得高性能的薄膜,对溅射靶材的晶粒大小和晶粒取向进行表征与控制显得尤为重要。靶材的晶粒度是通过分析金相图像得出的,在现有技术中,靶材需要先经过金相腐蚀,然后再用金相显微镜观察靶材的金相组织以得到靶材的金相图像;但是,由于不同材料对不同种酸的抗腐蚀能力不同,因此,不同材料的腐蚀液的成分及配比往往不同。
[0004]中国专利申请202210298167.5公开了一种镉合金的金相显示方法,包括以下步骤:(1)提供镉合金金相样品,按金相制样标准,切割得到镉合金试样;(2)用碳化硅水性砂纸打磨步骤(1)所得镉合金试样的待检测端面,打磨至端面表面平整接近镜面;(3)对步骤(2)打磨后的镉合金试样的待检测端面进行机械 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种Ln系元素掺杂In
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Zn基氧化物靶材的金相显示方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:使用砂纸打磨;步骤2:使用抛光液抛光;步骤3:使用腐蚀液腐蚀;步骤4:冲洗、干燥、金相显微镜下观察Ln系元素掺杂In
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Zn基氧化物靶材的表面,得到金相组织图像;所述腐蚀液由氢氟酸、盐酸、水制备得到,所述氢氟酸、盐酸、水的体积比为1~1.2:1~1.2:20;所述氢氟酸的浓度为40%,所述盐酸的浓度为78%。2.根据权利要求1所述的Ln系元素掺杂In
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Zn基氧化物靶材的金相显示方法,其特征在于,所述砂纸为碳化硅砂纸;所述抛光液为金刚石抛光液。3.根据权利要求1
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2中任一所述的Ln系元素掺杂In
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Zn基氧化物靶材的金相显示方法,其特征在于,所述步骤1具体为:一次打磨:使用180目的碳化硅砂纸进行一次打磨,一次打磨的转速为240~260r/min,一次打磨的时间为2~4分钟;二次打磨:使用320目的碳化硅砂纸进行二次打磨,二次打磨的转速为290~310r/min,二次打磨的时间为4~6分钟;三次打磨:使用500目的碳化硅砂纸进行三次打磨,三次打磨的转速为290~310r/min,三次打磨的时间为9~11分钟;四次打磨:使用1200目的碳化硅砂纸进行四次打磨,四次打磨的转速为340~360r/min,四次打磨的时间为19~21分钟;五次打磨:使用3000目的碳化硅砂纸进行五次打磨,五次打磨的转速为340~360r/min,五次打磨的时间为19~21分钟。4.根据权利要求1
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2中任一所述的Ln系元素掺杂In
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Zn基氧化物靶材的金相显示方法,其特征在于,所述步骤2具体为:一次抛光:使用粒径为15微米的金刚石抛光液进行一次抛光,一次抛光的转速为340~360r/min,一次抛光的时间为38~42分钟;二次抛光:使用粒径为6微米的金刚石抛光液进行二次抛光,二次抛光的转速为340~360r/min,二...
【专利技术属性】
技术研发人员:谭洪蕾,邵学亮,李开杰,顾德盛,罗斯诗,
申请(专利权)人:先导薄膜材料广东有限公司,
类型:发明
国别省市:
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