一种微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法技术

本发明专利技术涉及的是一种微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法，它包括利用模型井微电阻率扫描成像测井资料，针对该的砾岩层段进行砾石的识别处理，并生成粒度谱；将不规则砾石理想化为规则球形，选取每段粒径范围的中值作为砾石的直径，计算定窗长

【技术实现步骤摘要】
一种微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法

：
[0001]本专利技术涉及的是测井
，具体涉及的是一种微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法。

技术介绍
：
[0002]砾岩中砾石颗粒大小不均匀，储集性能非均质性强，复杂的岩性组合减弱了储层含油性的常规测井响应，造成常规测井信息难以精细评价砾岩岩性。
[0003]由于微电阻率扫描成像测井资料分辨率高，对地层中砾岩颗粒形状、大小均能够进行直观的描述。现有技术通过利用滑动窗口法划分不同粒径范围内砾石个数，生成粒度谱用于描述砾石岩性，但是粒度谱仅能反映固定窗口下不同粒径范围内砾石颗粒数量，无法对不同粒级砾石颗粒在井筒中的面积进行求取，进而获得不同粒径砾石面积占比，从而对岩性进行细分。

技术实现思路
：
[0004]本专利技术的目的是提供微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法，这种微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法解决现有技术中通过粒度谱用于描述砾石岩性，还不能很好地精细评价砾岩岩性的问题。
[0005]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：这种微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法包括如下步骤：
[0006]步骤一：选取研究区内具有微电阻率扫描成像测井资料的某口井做为模型井，利用其微电阻率扫描成像测井资料，针对该模型井的砾岩层段进行砾石的识别处理，并生成粒度谱；
[0007]步骤二：将不规则砾石理想化为规则球形，选取每段粒径范围的中值作为砾石的直径，计算定窗长
‑
步长内砾石个数；
[0008]步骤三：依据等效球形横截面积计算公式计算出每段粒径范围内砾石面积，将定窗长的粒度谱与对应每段粒径范围内的砾石面积相乘得出每段粒径范围内的砾石面积占比，最终生成粒度面积谱；
[0009]等效球形横截面积计算公式如下：
[0010]S
gravel
＝πr2ꢀꢀ
(3)
[0011]其中，S
gravel
为单一砾石的面积，单位为mm3；π为系数，常数；r为球形横截面的半径，mm；
[0012]步骤四：根据粒度面积谱内细砾部分占比、中砾部分占比以及粗砾部分占比不同将研究区砾石岩性划分为细砾岩、中砾岩以及粗砾岩。
[0013]上述方案中定窗长
‑
步长内砾石个数计算公式如下：
[0014][0015]当粒径＞40mm时，k＝num
ꢀꢀ
(2)
[0016]式中：i为砾石粒径分段区间的序号；num对应粒径分段区间的砾石个数；k为定窗长砾石粒径范围(2*(i
‑
1)～2imm)内的个数。
[0017]上述方案中微电阻率扫描成像测井资料显示有明显砾石的井段，选取测井资料数据时的原则是数据属于砾岩层段。
[0018]上述方案中根据粒度面积谱内细砾部分占比、中砾部分占比以及粗砾部分占比不同，通过电成像岩性标准将研究区砾石岩性划分为细砾岩、中砾岩以及粗砾岩。
[0019]本专利技术具有以下有益效果：
[0020]1、本专利技术在粒度谱的基础上，针对生成的粒度谱进行优化和计算，构建粒度面积谱，划分出不同粒径砾石面积占比，以提高对砾岩储层岩性的精细评价标准。
[0021]2、本专利技术依据微电阻率扫描成像测井资料，基于粒度面积谱中不同粒径砾石面积占比，精细划分储层岩性，进而提高对砾岩储层的评价与开发。
[0022]3、本专利技术依据微电阻率扫描成像测井资料，基于粒度谱，建立砾岩粒度面积谱，精细划分不同粒径砾石的面积占比，进而细分砾岩储层岩性。
[0023]4、本专利技术能够在砾岩储层岩性评价时，很好的解决不同粒径砾石面积占比无法求取的问题。基于粒度面积谱，实现划分不同粒径的砾岩面积占比，对砾岩储层的岩性精细评价具有重要意义。
附图说明
[0024]图1为粒度谱原理图。
[0025]图2为构建粒度面积谱原理图。
[0026]图3为砾石岩性细分成果图。
具体实施方式
[0027]下面结合附图对本专利技术做进一步的说明：
[0028]这种微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法，具体包括以下步骤：
[0029]步骤1：选取研究区具有微电阻率扫描成像测井资料的A井，将A井做为模型井。
[0030]选取数据时的原则是该数据属于砾岩储层，微电阻率扫描成像测井资料显示有明显砾石的井段。
[0031]步骤2：依据该井微电阻率扫描成像测井资料构建粒度谱。
[0032]在A井砾岩储层井段内，利用滑动窗口法，统计对应x mm滑动窗口内砾岩颗粒的粒径大小，并由此划分不同粒径范围内砾石的个数，统计属于每个粒径范围内的砾岩颗粒个数，构成粒度谱。
[0033]步骤3：针对生成的粒度谱进行优化和计算，将不规则砾石理想化为规则球形，选取每段粒径范围的中值作为砾石的直径，计算定窗长
‑
步长内砾石个数。
[0034]基于A井砾岩储层井段内xmm窗长范围内不同粒级范围砾石个数，首先通过选取每段粒径范围的中值作为砾石的直径，通过砾石个数计算公式得出定窗长
‑
步长内不同粒径范围内的砾石个数(当粒径在2～4mm内，窗长为2mm时的砾石颗粒数量为窗长40mm数量的3/40，当粒径在4～6mm内，窗长为2mm时的砾石颗粒数量为窗长40mm数量的5/40，以此类推，当粒径大于40mm时，窗长为2mm时的砾石颗粒数量与窗长40mm的数量相等)(公式1,2)：
[0035][0036]当粒径＞40mm时，k＝num
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(2)
[0037]式中：i为砾石粒径分段区间的序号；num对应粒径分段区间的砾石个数；k为定窗长砾石粒径范围(2*(i
‑
1)～2imm)内的个数。
[0038]步骤4：依据粒度谱构建粒度面积谱。
[0039]依据等效球形横截面积计算公式(公式3)计算出每段粒径范围内砾石面积；将定窗长的粒度谱与对应每段粒径范围内的砾石面积相乘得出每段粒径范围内的砾石面积占比，得到粒度面积谱。
[0040]S
gravel
＝πr2ꢀꢀ
(3)
[0041]其中，S
gravel
为单一砾石的面积，单位为mm3；π为系数，常数；r为球形横截面的半径，mm。
[0042]步骤4：依据粒度面积谱中不同粒径砾石面积占比对砾石岩性进行细分。
[0043]对比模型井中粒度面积谱对应的细砾部分面积占比、中砾部分面积占比以及粗砾部分面积占比，结合电成像岩性标准，将大于70％的岩性占比段定为该砾岩段砾石岩性，并总体将研究区砾岩储层划分为细砾岩、中砾岩以及粗砾岩。电成像岩性标准为现有技术中已经制定的标准。
[0044]本专利技术所涉及到的粒度面积谱的参数设定为：窗长为x mm，步长为y mm(不同研究区，x、y值均有不同)。
[004本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微电阻率成像测井的粒度面积谱细分砾岩岩性方法，其特征在于包括如下步骤：步骤一：选取研究区内具有微电阻率扫描成像测井资料的某口井做为模型井，利用其微电阻率扫描成像测井资料，针对该模型井的砾岩层段进行砾石的识别处理，并生成粒度谱；步骤二：将不规则砾石理想化为规则球形，选取每段粒径范围的中值作为砾石的直径，计算定窗长
‑
步长内砾石个数；步骤三：依据等效球形横截面积计算公式计算出每段粒径范围内砾石面积，将定窗长的粒度谱与对应每段粒径范围内的砾石面积相乘得出每段粒径范围内的砾石面积占比，最终生成粒度面积谱；等效球形横截面积计算公式如下：S
gravel
＝πr2ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(3)其中，S
gravel
为单一砾石的面积，单位为mm3；π为系数，常数；r为球形横截面的半径，mm；步骤四：根据粒度面积谱内细砾部分占比、中砾部分占比以及粗砾部分占比不...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵小青，魏建光，李江涛，杨英，王翔宇，朱本轩，
申请(专利权)人：东北石油大学，
类型：发明
国别省市：