一种芯片测试基座制造技术

本实用新型专利技术提供一种芯片测试基座，包括工作台，所述工作台顶部的中心处固定连接有检测盒，所述检测盒的顶部通过铰链铰接有密封盖，所述检测盒内腔的上端设置有活动板，所述检测盒内腔底部的四周均固定连接有第一弹簧，所述第一弹簧的顶部与活动板固定连接，所述密封盖的底部设置有压紧板，所述密封盖的顶部开设有螺纹孔，所述密封盖的顶部设置有螺纹杆，所述螺纹杆远离压紧板的一端贯穿螺纹孔并延伸至密封盖的顶部；本实用新型专利技术通过设置压紧板、螺纹孔和螺纹杆，起到了能够对芯片进行压紧固定的效果，从而能够有效的防止芯片与测试探针本体之间存在间隙，导致检测出现接触不良的情况发生，进而能够有效的提高了芯片的检测效率。进而能够有效的提高了芯片的检测效率。进而能够有效的提高了芯片的检测效率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试基座


[0001]本技术属于芯片测试领域，具体地说是一种芯片测试基座。

技术介绍

[0002]芯片测试基座是用于对芯片测试时对芯片进行承载的装置，能够有效的提高芯片在测试时的稳定性，芯片测试主要是通过探针对芯片施加电流，从而对芯片进行相关测试；
[0003]根据中国专利申请号为：201921247072.0，公开了一种芯片测试常温固定基座，包括：座体，所述座体的左右两侧通过通气孔安装有通气管接头，所述座体中侧均匀设有出气口，所述座体的前后两端中侧分别安装有连接板，所述连接板通过第一螺丝安装有挂板，所述挂板的下端连接有挂钩，对比案例一种芯片测试常温固定基座的优点是：结构紧凑，安装稳固，座体用于承载整个装置，座体两端用第一螺丝固定挂钩，用于外部设备相连接，使整个装置与外部设备固定，提高了产品的易用性；整个装置加入了温度保险丝，用于检测温度，防止温度过高烧坏整个装置；
[0004]对比案例有效的解决了测试装置基座承载不稳定，功能比较单一，导致测试效果差的问题，具有能够防止温度过高烧坏整个装置的优点，从而能够有效的提高了芯片的测试效率，然而在实际使用中，由于芯片是直接放置探针座上，缺少一定的固定装置，从而使得芯片与探针之间容易存在间隙，导致在检测时出现接触不良的情况发生，进而降低了检测效率。
[0005]综上，因此本技术提供了一种芯片测试基座，以解决上述问题。

技术实现思路

[0006]为了解决上述技术问题，本技术提供一种芯片测试基座，以解决现有技术中由于芯片是直接放置探针座上，缺少一定的固定装置，从而使得芯片与探针之间容易存在间隙，导致在检测时出现接触不良的情况发生，进而降低了检测效率的问题。
[0007]一种芯片测试基座，包括工作台，所述工作台顶部的中心处固定连接有检测盒，所述检测盒的顶部通过铰链铰接有密封盖，所述检测盒内腔的上端设置有活动板，所述检测盒内腔底部的四周均固定连接有第一弹簧，所述第一弹簧的顶部与活动板固定连接，所述密封盖的底部设置有压紧板，所述密封盖的顶部开设有螺纹孔，所述密封盖的顶部设置有螺纹杆，所述螺纹杆远离压紧板的一端贯穿螺纹孔并延伸至密封盖的顶部，且与螺纹孔的内腔螺纹连接，所述螺纹杆的底部通过轴承与压紧板活动连接。
[0008]优选的，所述压紧板顶部的四周均固定连接有第二弹簧，所述第二弹簧远离压紧板的一端与密封盖固定连接。
[0009]优选的，所述螺纹杆位于密封盖顶部的一端固定连接有转把，所述检测盒内腔的底部固定连接有测试探针本体。
[0010]优选的，所述工作台的正面固定连接有PLC控制器，所述工作台顶部的右侧设置有液晶显示器。
[0011]优选的，所述工作台顶部的左侧固定连接有底座，所述底座的顶部固定连接有支撑杆，所述支撑杆远离底座的一端与液晶显示器固定连接。
[0012]优选的，所述检测盒内腔的两侧均开设有限位槽，所述限位槽的内腔滑动连接有限位块，所述限位块远离限位槽内腔的一端与活动板固定连接。
[0013]优选的，所述测试探针本体的输出端与PLC控制器的输入端电性连接，所述PLC控制器的输出端与液晶显示器的输入端电性连接。
[0014]与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：
[0015]1、本技术通过设置检测盒、密封盖和活动板，起到了能够对芯片进行稳定支撑的效果，从而能够有效的提高了芯片在测试时的稳定性。
[0016]2、本技术通过设置压紧板、螺纹孔和螺纹杆，起到了能够对芯片进行压紧固定的效果，转动螺纹杆，螺纹杆沿着螺纹孔的内腔向下运动，螺纹杆向下运动时推动压紧板向工作台的内腔运动，使压紧板推动活动板顶部的芯片与测试探针本体紧密接触，从而能够有效的防止芯片与测试探针本体之间存在间隙，导致检测出现接触不良的情况发生，进而能够有效的提高了芯片的检测效率。
[0017]3、本技术通过设置第一弹簧，起到了能够推动活动板复位的效果，从而能够方便将芯片从检测盒的内腔取出，活动板受到压紧板的推动向下运动时对第一弹簧进行挤压，使第一弹簧受力发生形变，当将密封盖从检测盒的顶部打开时，第一弹簧的复位弹力推动活动板向上运动，从而能够方便将芯片取出。
附图说明
[0018]图1是本技术主视结构示意图；
[0019]图2是本技术检测盒和密封盖的正视剖面结构示意图；
[0020]图3是本技术检测盒与密封盖的分离状态结构示意图；
[0021]图4是本技术系统流程图。
[0022]图中：
[0023]1、工作台；2、检测盒；3、密封盖；4、活动板；5、第一弹簧；6、压紧板；7、螺纹孔；8、螺纹杆；9、第二弹簧；10、转把；11、测试探针本体；12、PLC控制器；13、液晶显示器；14、底座；15、支撑杆；16、限位槽；17、限位块。
具体实施方式
[0024]下面结合附图和实施例对本技术的实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本技术，但不能用来限制本技术的范围。
[0025]如图1
‑
4所示，本技术提供一种芯片测试基座，包括工作台1，工作台1顶部的中心处固定连接有检测盒2，检测盒2的顶部通过铰链铰接有密封盖3，检测盒2内腔的上端设置有活动板4，检测盒2内腔底部的四周均固定连接有第一弹簧5，第一弹簧5的顶部与活动板4固定连接，密封盖3的底部设置有压紧板6，密封盖3的顶部开设有螺纹孔7，密封盖3的顶部设置有螺纹杆8，螺纹杆8远离压紧板6的一端贯穿螺纹孔7并延伸至密封盖3的顶部，且与螺纹孔7的内腔螺纹连接，螺纹杆8的底部通过轴承与压紧板6活动连接。
[0026]作为本技术的一种实施方式，压紧板6顶部的四周均固定连接有第二弹簧9，
第二弹簧9远离压紧板6的一端与密封盖3固定连接，通过设置第二弹簧9，起到了能够对压紧板6进行稳定支撑的效果。
[0027]作为本技术的一种实施方式，螺纹杆8位于密封盖3顶部的一端固定连接有转把10，检测盒2内腔的底部固定连接有测试探针本体11，通过设置转把10，用于转动螺纹杆8，通过设置测试探针本体11，用于对芯片进行测试。
[0028]作为本技术的一种实施方式，工作台1的正面固定连接有PLC控制器12，工作台1顶部的右侧设置有液晶显示器13，通过设置PLC控制器12和液晶显示器13，起到了能够方便观察测试探针本体11对芯片的检测数据。
[0029]作为本技术的一种实施方式，工作台1顶部的左侧固定连接有底座14，底座14的顶部固定连接有支撑杆15，支撑杆15远离底座14的一端与液晶显示器13固定连接，通过设置底座14和支撑杆15，起到了能够对液晶显示器13进行稳定支撑的效果。
[0030]作为本技术的一种实施方式，检测盒2内腔的两侧均开设有限位槽16，限位槽16的内腔滑动连接有限位块17，限位块17远离限位槽16内腔的一端与活动板4固定连接，通过设置限位槽16和限本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试基座，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)顶部的中心处固定连接有检测盒(2)，所述检测盒(2)的顶部通过铰链铰接有密封盖(3)，所述检测盒(2)内腔的上端设置有活动板(4)，所述检测盒(2)内腔底部的四周均固定连接有第一弹簧(5)，所述第一弹簧(5)的顶部与活动板(4)固定连接，所述密封盖(3)的底部设置有压紧板(6)，所述密封盖(3)的顶部开设有螺纹孔(7)，所述密封盖(3)的顶部设置有螺纹杆(8)，所述螺纹杆(8)远离压紧板(6)的一端贯穿螺纹孔(7)并延伸至密封盖(3)的顶部，且与螺纹孔(7)的内腔螺纹连接，所述螺纹杆(8)的底部通过轴承与压紧板(6)活动连接。2.如权利要求1所述芯片测试基座，其特征在于：所述压紧板(6)顶部的四周均固定连接有第二弹簧(9)，所述第二弹簧(9)远离压紧板(6)的一端与密封盖(3)固定连接。3.如权利要求1所述芯片测试基座，其特征在于：所述螺纹杆(8)位于密封盖(3)顶部的一端固定连...

【专利技术属性】
技术研发人员：项月超，
申请(专利权)人：深圳市中科鑫维电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：