【技术实现步骤摘要】
一种基于超声的缺陷检测方法
[0001]本申请涉及超声检测
,尤其涉及一种基于超声的缺陷检测方法。
技术介绍
[0002]缺陷的出现会大大降低金属构件的力学性能,导致应力集中,降低材料的承载能力和力学性能,缩短成型构件的使用寿命,甚至可能导致成型件的整体报废。由于缺陷对材料的力学性能和疲劳性能有显著影响,因此缺陷检测对于优化金属构件的力学性能和疲劳性能至关重要。
[0003]超声检测技术使用超声波对材料进行检测,通过对超声波在材料内部的反射、衰减、共振等特性的研究,对比分析健康区域与缺陷区域之间的材料特性差别,可以得到缺陷的位置、大小、种类等特征信息。超声检测方法可检测材料表面及内部孔隙、裂纹、夹杂等缺陷,检测灵敏度高,使用范围广,且对人体无害,是最常用的无损检测手段,并因其穿透性强、对材料适用性广等特点显示出巨大的潜力。
[0004]但利用超声检测缺陷时,由于材料表面粗糙度高,通常存在接收到的超声信号弱且信噪比较差的问题,从而引起缺陷的误判和漏检。
技术实现思路
[0005]本申请提供一种基于超声的缺陷检测方法,用于解决现有技术中,接收到的超声信号通常存在反射信号弱且信噪比较差的问题,从而引起缺陷的误判和漏检的问题。
[0006]本申请提供一种基于超声的缺陷检测方法,方法包括:
[0007]根据待检测样品幅面的尺寸及最小缺陷尺寸,确定扫描检测步长,以及样品表面网格扫描点的二维坐标集;
[0008]利用所述二维坐标集中的每个所述扫描点进行m次激光激励,得到 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于超声的缺陷检测方法,其特征在于,方法包括:根据待检测样品幅面的尺寸及最小缺陷尺寸,确定扫描检测步长,以及样品表面网格扫描点的二维坐标集;利用所述二维坐标集中的每个所述扫描点进行m次激光激励,得到每个所述扫描点的m个时域超声A扫信号;利用m个时域超声A扫信号求平均,得到每个所述扫描点的平均时域超声A扫信号;对每个所述扫描点的平均时域超声A扫信号进行降噪,得到降噪时域超声A扫信号;将所述降噪时域超声A扫信号与所述二维坐标集中各坐标点进行对应存储,得到三维数据矩阵;对所述三维数据矩阵中,同一行的相邻两个所述降噪时域超声A扫信号进行互相关计算,得到所述降噪时域超声A扫信号的最大互相关系数;根据所述最大互相关系数,得到比较阈值;将大于等于所述比较阈值的所述最大互相关系数置一,将小于所述比较阈值的所述最大互相关系数归一化,得到二维矩阵;根据所述二维矩阵,得到缺陷图像。2.根据权利要求1所述的基于超声的缺陷检测方法,其特征在于,所述根据待检测样品幅面的尺寸及最小缺陷尺寸,确定扫描检测步长,以及样品表面网格扫描点的二维坐标集的步骤,包括:根据待检测样品幅面的尺寸,确定扫查区域;根据待检测幅面的最小缺陷尺寸,确定扫描检测步长,其中,所述步长为所述最小缺陷尺寸五分之一;根据所述扫描检测步长,得到两个所述扫描点之间的距离;根据所述扫查区域,得到所述扫描点的数量;根据两个所述扫描点之间的距离,以及所述扫描点的数量,构建覆盖所述扫查区域的二维网格,其中,所述网格的行和列的交叉点为所述扫描点;根据所述二维网格,得到所述样品表面网格扫描点的二维坐标集。3.根据权利要求1所述的基于超声的缺陷检测方法,其特征在于,所述利用所述二维坐标集中的每个所述扫描点进行m次激光激励,得到每个所述扫描点的m个时域超声A扫信号的步骤,包括:根据二维坐标集,得到二维坐标集中每个所述扫描点对应的交叉点的坐标;根据所述交叉点的坐标,确定激光激励的所述扫描点的位置;利用激光对所述扫描点进行m次激光激励,得到每个所述扫描点的m个时域超声A扫信号。4.根据权利要求1所述的基于超声的缺陷检测方法,其特征在于,所述对每个所述扫描点的平均时域超声A扫信号进行降噪,得到降噪时域超声A扫信号的步骤,包括:利用小波降噪处理方法、带通滤波处理方法、经验模态分解处理方法、希尔伯特降噪处理方法或深度学习自编码降噪方法,对每个所述扫描点的平均时域超声A扫信号进行降噪,得到所述降噪时域超声A扫信号。5.根据权利要求1所述的基于超声的缺陷检测方法,其特征在于,所述将所述降噪时域
超声A扫信号与所述二维坐标集中各坐标点进行对应存储,得到三维数据矩阵的步骤,包括:根据所述样品表面网格,得到二维网格的行数、列数;根据所述二维网...
【专利技术属性】
技术研发人员:万壮壮,白雪,马健,徐兆文,王超群,邵飞,许波,
申请(专利权)人:齐鲁工业大学山东省科学院,
类型:发明
国别省市:
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