一种用于光照强度测量的光电转换电路制造技术

本实用新型专利技术提供一种用于光照强度测量的光电转换电路，包括运算放大器单元、开关选择单元、微调单元和电压追踪单元，所述感光信号进入所述运算放大器单元后右所述开关选择单元进行选择放大系数，在进入到所述微调单元进行信号微调，经过微调的信号进入所述电压追踪单元得到稳定的光强度对应的电压信号，本实用新型专利技术所提供的一种用于光照强度测量的光电转换电路具有稳定性强、灵敏度高、检测精准高效等优点，具有极大的实用价值和经济价值。具有极大的实用价值和经济价值。具有极大的实用价值和经济价值。

【技术实现步骤摘要】
一种用于光照强度测量的光电转换电路


[0001]本技术涉及电路设计
，尤其涉及一种用于光照强度测量的光电转换电路。

技术介绍

[0002]光照强度测量的光电转换电路在我们的日常生活中具有广泛的应用，比如灯泡亮度测试仪，感光仪等，这些光照强度测量设备为科技的发展和社会的进步作出了极大的贡献，尤其是在LED行业更是无法缺少的设备，对LED灯珠的质量检测起到了关键性的作用，其中光照强度转换电路是十分关键性的组件，电路的稳定性、精准性直接决定了检测的结果，对产品的质量也具有直接的关系，目前，现有技术中也公开了光照强度检测的电路，申请号：202221014224.4的技术专利公开了一种测量光照强度的电路，但是该电路的复杂程度高，从而稳定性受到了影响，因此，如何实现稳定、精准、高效的检测电路设计是研发人员的面临的一个重要问题。

技术实现思路

[0003]本技术为解决以上现有技术的不足，提供了一种稳定性强、灵敏度高、检测精准高效的光照强度测量的光电转换电路。
[0004]本技术具体采用如下技术方案实现：
[0005]本技术提供一种用于光照强度测量的光电转换电路，包括运算放大器单元、开关选择单元、微调单元和电压追踪单元，感光信号进入所述运算放大器单元后，所述开关选择单元进行选择放大系数，在进入到所述微调单元进行信号微调，经过微调的信号进入所述电压追踪单元得到稳定的光强度对应的电压信号，
[0006]所述运算放大器单元包括控制芯片U1，所述控制芯片U1的第4引脚和第7引脚分别连接电源的负输入端和正输入端，所述控制芯片U1的第2引脚和第6引脚连接所述开关选择单元。
[0007]进一步地，所述开关选择单元包括控制芯片U2，所述控制芯片U2的D4引脚连接电阻R1后连接所述控制芯片U1的第6引脚，
[0008]所述控制芯片U2的D3引脚连接电阻R2后连接所述控制芯片U1的第2引脚，
[0009]所述控制芯片U2的S3引脚连接电阻R3后连接所述控制芯片U1的第2引脚，
[0010]所述控制芯片U2的D2引脚连接电阻R4后连接所述控制芯片U1的第2引脚，
[0011]所述控制芯片U2的S3引脚连接所述控制芯片U2的S2引脚，
[0012]进一步地，所述电阻R2两端并联有电容C1，
[0013]所述电阻R3两端并联有电容C2，
[0014]所述电阻R4两端并联有电容C3。
[0015]进一步地，所述控制芯片U2的GND引脚与IN1引脚连接，所述控制芯片U2的IN4引脚连接有电阻R5。
[0016]进一步地，所述微调单元包括放大器Q1，所述放大器Q1的同相输入端连接所述控制芯片U1的第6引脚，并连接有电阻R6和电阻R7，所述电阻R6接地，所述电阻R7连接所述放大器Q1的反相输入端，所述放大器Q1的反相输入端还连接有电容C4，所述电容C4并有电容C5后接地，所述放大器Q1的输出端连接有电阻R8和电阻R9。
[0017]进一步地，所述电压追踪单元包括放大器Q2，所述放大器Q2的同相输入端连接电阻R10和电阻R11后与所述放大器Q1的输出端连接。
[0018]进一步地，所述放大器Q2的同反相输入端连接电容C6后连接所述电阻R11。
[0019]进一步地，所述放大器Q2的同相输入端连接有电容C7。
[0020]进一步地，所述放大器Q2的同相输出端连接有电容C8。
[0021]本申请的有益效果在于：
[0022]本技术所提供的一种用于光照强度测量的光电转换电路具有稳定性强、灵敏度高、检测精准高效等优点，本申请在工作过程中感光信号进入运算放大器Q1后，由多路选择开关单元的控制芯片U2选择放大系数，然后进入一级微调单元U1，微调后的信号再进入电压跟随单元的控制芯片U2，得到稳定的与光强度对应的电压信号，提供给处理器进行亮度测量，本申请具有检测高效、精准、稳定性强的优点，具有极大的实用价值和经济价值。
附图说明
[0023]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0024]图1是本技术一种用于光照强度测量的光电转换电路的电路结构图。
具体实施方式
[0025]为了使本
的人员更好地理解本技术方案，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]如图1所示，本技术提供一种用于光照强度测量的光电转换电路，包括运算放大器单元、开关选择单元、微调单元和电压追踪单元，感光信号进入所述运算放大器单元后，所述开关选择单元进行选择放大系数，在进入到所述微调单元进行信号微调，经过微调的信号进入所述电压追踪单元得到稳定的光强度对应的电压信号，
[0027]所述运算放大器单元包括控制芯片U1，所述控制芯片U1的第4引脚和第7引脚分别连接电源的负输入端和正输入端，所述控制芯片U1的第2引脚和第6引脚连接所述开关选择单元。
[0028]本实施例中，所述开关选择单元包括控制芯片U2，所述控制芯片U2的D4引脚连接电阻R1后连接所述控制芯片U1的第6引脚，
[0029]所述控制芯片U2的D3引脚连接电阻R2后连接所述控制芯片U1的第2引脚，
[0030]所述控制芯片U2的S3引脚连接电阻R3后连接所述控制芯片U1的第2引脚，
[0031]所述控制芯片U2的D2引脚连接电阻R4后连接所述控制芯片U1的第2引脚，
[0032]所述控制芯片U2的S3引脚连接所述控制芯片U2的S2引脚，
[0033]本实施例中，所述电阻R2两端并联有电容C1，
[0034]所述电阻R3两端并联有电容C2，
[0035]所述电阻R4两端并联有电容C3。
[0036]本实施例中，所述控制芯片U2的GND引脚与IN1引脚连接，所述控制芯片U2的IN4引脚连接有电阻R5。
[0037]本实施例中，所述微调单元包括放大器Q1，所述放大器Q1的同相输入端连接所述控制芯片U1的第6引脚，并连接有电阻R6和电阻R7，所述电阻R6接地，所述电阻R7连接所述放大器Q1的反相输入端，所述放大器Q1的反相输入端还连接有电容C4，所述电容C4并有电容C5后接地，所述放大器Q1的输出端连接有电阻R8和电阻R9。
[0038]本实施例中，所述电压追踪单元包括放大器Q2，所述放大器Q2的同相输入端连接电阻R10和电阻R11后与所述放大器Q1的输出端连接。
[0039]本实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于光照强度测量的光电转换电路，其特征在于：包括运算放大器单元、开关选择单元、微调单元和电压追踪单元，感光信号进入所述运算放大器单元后，所述开关选择单元进行选择放大系数，在进入到所述微调单元进行信号微调，经过微调的信号进入所述电压追踪单元得到稳定的光强度对应的电压信号，所述运算放大器单元包括控制芯片U1，所述控制芯片U1的第4引脚和第7引脚分别连接电源的负输入端和正输入端，所述控制芯片U1的第2引脚和第6引脚连接所述开关选择单元。2.根据权利要求1所述的一种用于光照强度测量的光电转换电路，其特征在于：所述开关选择单元包括控制芯片U2，所述控制芯片U2的D4引脚连接电阻R1后连接所述控制芯片U1的第6引脚，所述控制芯片U2的D3引脚连接电阻R2后连接所述控制芯片U1的第2引脚，所述控制芯片U2的S3引脚连接电阻R3后连接所述控制芯片U1的第2引脚，所述控制芯片U2的D2引脚连接电阻R4后连接所述控制芯片U1的第2引脚，所述控制芯片U2的S3引脚连接所述控制芯片U2的S2引脚。3.根据权利要求2所述的一种用于光照强度测量的光电转换电路，其特征在于：所述电阻R2两端并联有电容C1，所述电阻R3两端并联有电容C2，所述电阻R4两端并联有电容C3。4.根据权利要求3...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭勇，蔡富才，陈炳霖，
申请(专利权)人：惠州市颖瑞科技有限公司，
类型：新型
国别省市：