光照度测量方法、装置、计算机设备和可读存储介质制造方法及图纸

本申请提供一种光照度测量方法、装置、计算机设备和可读存储介质，属于光照度测量技术领域。所述方法包括：获取光敏电阻传感器中的光敏电阻的阻值；根据光敏电阻的阻值以及预先构建的目标函数，确定光敏电阻传感器所在位置的光照度，其中，目标函数的输入参数为阻值，目标函数的输出结果为光照度，目标函数基于对多个样本进行拟合得到，样本的数量等于第一预设阈值，各样本中分别包括一个阻值以及对阻值对应的原始光照度进行定标所得到的准确光照度，原始光照度通过查找光敏电阻的标准对照表格得到。本申请可以达到工作量小、精度高的效果。精度高的效果。精度高的效果。

【技术实现步骤摘要】
光照度测量方法、装置、计算机设备和可读存储介质


[0001]本申请涉及光照度测量
，具体而言，涉及一种光照度测量方法、装置、计算机设备和可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着生活水平的提高，人们对于周边环境的关注度日益高涨，环境检测成为当前炙手可热的话题。光照度作为环境检测的一项重要指标，与人们的视力影响息息相关，光照度可以指示工作场所、居住场所以及学习场所的采光是否达标。因此，光照度监测至关重要。
[0003]相关技术中，通常是使用照度传感器检测光照度，其中照度传感器主要是由光敏电阻实现光照度检测，光敏电阻处于光照度检测设备内感应外界光线并产生相应的电阻值，根据光敏电阻的阻值查找光敏电阻标准对照表格，进而确定该环境下的光照度。
[0004]然而，在基于相关技术进行光照度监测时，设备结构会削弱光敏电阻接收的光照信息，且光敏电阻每个产品批次一致性不高，产品偏离度比较大，导致无法使用光敏电阻的标准表格，进而需要重新定标光照度与光敏电阻的对应关系，使得工作量增大，生产成本提高。因此，相关技术的方案存在工作量大且精度差的问题。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光照度测量方法，其特征在于，包括：获取光敏电阻传感器中的光敏电阻的阻值；根据所述光敏电阻的阻值以及预先构建的目标函数，确定所述光敏电阻传感器所在位置的光照度，其中，所述目标函数的输入参数为阻值，所述目标函数的输出结果为光照度，所述目标函数基于对多个样本进行拟合得到，所述样本的数量等于第一预设阈值，各样本中分别包括一个阻值以及对所述阻值对应的原始光照度进行定标所得到的准确光照度，所述原始光照度通过查找所述光敏电阻的标准对照表格得到。2.根据权利要求1所述的光照度测量方法，其特征在于，所述目标函数为幂函数，所述幂函数中包括所述输入参数、所述输出结果、第一常数系数以及第二常数系数。3.根据权利要求2所述的光照度测量方法，其特征在于，所述目标函数为y＝ax
b
，其中，x为所述输入参数，y为所述输出结果，a为所述第一常数系数，b为所述第二常数系数。4.根据权利要求1所述的光照度测量方法，其特征在于，所述第一预设阈值为5。5.根据权利要求1
‑
4任一项所述的光照度测量方法，其特征在于，所述获取光敏电阻传感器中的光敏电阻的阻值之前，还包括：基于第一数量的样本进行拟合处理，得到第一函数；基于所述第一函数确定第一计算光照度；基于第二数量的样本进行拟合处理，得到第二函数，其中，所述第二数量大于所述第一数量；基于所述第二函数确定第二计算光照度；根据所述第一计算光照度以及所述第二计算光照度，确定所述目标函数。6.根据权利要求5所述的光照度测量方法，其特征在于，所述根据所述第一计算光照度以及所述第二计算光照度，确定所述目标函数，包括：根据所述第一计算光照...

【专利技术属性】
技术研发人员：陆鹰，
申请(专利权)人：北京汇通天下物联科技有限公司，
类型：发明
国别省市：