本实用新型专利技术公开了一种用于工件2.5次元检测的找平支撑装置，包括底座、固定在底座上的立柱以及与立柱滑动装配的支撑台，所述立柱上设置有沿高度方向延伸的刻度，所述支撑台与立柱之间通过锁紧螺钉实现滑动锁紧。采用本申请的用于工件2.5次元检测的找平支撑装置，实现了工件的找平支撑，提高了检测数据的精确性。提高了检测数据的精确性。提高了检测数据的精确性。
【技术实现步骤摘要】
一种用于工件2.5次元检测的找平支撑装置
[0001]本技术涉及工件尺寸测量
，具体涉及一种用于工件2.5次元检测的找平支撑装置。
技术介绍
[0002]2.5次元检测是一种对工件的精密尺寸进行光学测量的有效手段，其通过人工旋转捕捉图像，将图像采集到屏幕实现精确拟合和测量。由于数据结果是通过光学捕捉相关图像，在检测过程中，需要对工件进行悬空支撑并找平，而且工件底面的找平度(或者与基准支撑面(如2.5次元影像仪器的玻璃支撑面)的平行度)很大程度影响着检测的准确性。当工件底面倾斜时，会造成检测面存在倾斜，导致检测数据存在误差。
[0003]目前主要通过垫橡皮泥或垫纸对工件底面进行找平，在人为辨识检测面不再倾斜后进行测绘。这种行为导致测绘效果存在一定误差。
技术实现思路
[0004]有鉴于此，本技术的目的是提供一种用于工件2.5次元检测的找平支撑装置，以便提高检测数据的精确性。
[0005]本技术通过以下技术手段解决上述问题：
[0006]一种用于工件2.5次元检测的找平支撑装置，包括底座、固定在底座上的立柱以及与立柱滑动装配的支撑台，所述立柱上设置有沿高度方向延伸的刻度，所述支撑台与立柱之间通过锁紧螺钉实现滑动锁紧。
[0007]进一步，所述支撑台的底面设置有刻度指针。
[0008]进一步，所述底座的顶部开设有刻度指针容纳槽。
[0009]进一步，所述底座与立柱一体成型。
[0010]进一步，所述立柱为方形柱，所述支撑台上开设有与方形柱匹配滑动装配的方形槽。
[0011]进一步，所述支撑台上形成支撑台阶面。
[0012]本技术的有益效果：
[0013]本申请的用于工件2.5次元检测的找平支撑装置，包括底座、固定在底座上的立柱以及与立柱滑动装配的支撑台，所述立柱上设置有沿高度方向延伸的刻度，所述支撑台与立柱之间通过锁紧螺钉实现滑动锁紧。采用本申请的用于工件2.5次元检测的找平支撑装置，实现了工件的找平支撑，提高了检测数据的精确性。
附图说明
[0014]下面结合附图和实施例对本技术作进一步描述。
[0015]图1是本技术优选实施例的立体结构示意图；
[0016]图2是本技术优选实施例的侧视图。
具体实施方式
[0017]下面通过附图和实施例对本技术进一步详细说明。通过这些说明，本技术的特点和优点将变得更为清楚明确。显然,所描述的实施例仅是本技术的一部分实施例,而不是全部的实施例。
[0018]在本技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。
[0019]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0020]如图1至图2所示，本技术实施公开了一种用于工件2.5次元检测的找平支撑装置，包括底座1、固定在底座上的立柱2以及与立柱滑动装配的支撑台3，所述底座1与立柱2一体成型，所述立柱为方形柱，所述支撑台3上开设有与方形柱匹配滑动装配的方形槽，所述支撑台上形成支撑台阶面4，通过支撑台阶面对工件的一侧进行支撑。
[0021]所述立柱上设置有沿高度方向延伸的刻度6，所述支撑台与立柱之间通过锁紧螺钉8实现滑动锁紧。所述支撑台的底面设置有刻度指针5，所述底座的顶部开设有刻度指针容纳槽7。
[0022]具体使用时，通常采用三个支撑装置支撑工件，将底座放置在基准支撑面上，根据工件的悬空高度，调整支撑台的高度，支撑台的高度可基于刻度精确调整，使三个支撑台的高度一致，再将工件支撑放置在三个支撑台构成的支撑区域内，如此即可实现工件的找平支撑。
[0023]综上所述，采用本申请的用于工件2.5次元检测的找平支撑装置，实现了工件的找平支撑，提高了检测数据的精确性。
[0024]最后说明的是，以上实施例仅用以说明本技术的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本技术进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本技术的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本技术技术方案的宗旨和范围，其均应涵盖在本技术的权利要求范围当中。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于工件2.5次元检测的找平支撑装置，其特征在于：包括底座、固定在底座上的立柱以及与立柱滑动装配的支撑台，所述立柱上设置有沿高度方向延伸的刻度，所述支撑台与立柱之间通过锁紧螺钉实现滑动锁紧。2.根据权利要求1所述的用于工件2.5次元检测的找平支撑装置，其特征在于：所述支撑台的底面设置有刻度指针。3.根据权利要求2所述的用于工件2.5次元检测的找平支撑装置，其特征在于：所述底座的顶部开设有刻度指...
【专利技术属性】
技术研发人员：袁琛，李沙，许良，黄杨，赵友来，梁忠冠，
申请(专利权)人：湖南博云新材料股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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