一种OLED显示屏制造过程中DIC表面缺陷检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种OLED显示屏制造过程中DIC表面缺陷检测装置，涉及OLED显示屏驱动芯片检测技术领域。本实用新型专利技术包括Y轴移动平台，所述Y轴移动平台上方设有大理石龙门架；所述大理石龙门架包括两根大理石立柱及位于两根大理石立柱顶部之间的大理石龙门，所述大理石龙门下方固定安装有X轴直线电机，所述X轴直线电机的动子与悬挂相机连接，所述悬挂相机下方连接有视觉光源。本实用新型专利技术悬挂相机与X轴直线电机的动子连接，通过飞拍方式进行取像，采用大理石材料的龙门架，降低了悬挂相机飞拍过程频繁加减速造成的机构和镜头震动保证取像稳定性，避免飞拍过程镜头的震动导致检测不准确的情况，既保证了生产节拍的要求，又满足测量精度。满足测量精度。满足测量精度。

【技术实现步骤摘要】
一种OLED显示屏制造过程中DIC表面缺陷检测装置


[0001]本技术涉及OLED显示屏驱动芯片检测
，特别涉及一种OLED显示屏制造过程中DIC表面缺陷检测装置。

技术介绍

[0002]DIC(DriveIC)驱动芯片是OLED手机显示屏的核心组件，OLED显示屏制造工艺通过OLBCOP工艺将驱动芯片绑定到OLED面板或FPC，对显示屏进行显示控制，DIC驱动芯片绑定工艺制程复杂，生产过程有可能出现DIC表面撞击，极易造成裂纹及崩边等表面风险，如果出现宽度较大裂纹，显示屏及DIC会在生产过程中直接无法点亮或者出现局部功能性不良，如果出现宽度较小裂纹，则可能未立即出现功能性不良，但裂纹可能在模组制造过程及组装成产品的使用过程裂纹逐渐变大，产品寿命及信赖性会大大缩短(受震动或水汽入侵DIC会失效)。
[0003]目前OLED手机显示屏的制造过程无相关对DIC过程进行在线式表面缺陷的技术方案及装置，因此，提出一种OLED显示屏制造过程中DIC表面缺陷检测装置。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的在于提供一种OLED显示屏制造过程中DIC表面缺陷检测装置，可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术采取的技术方案为：一种OLED显示屏制造过程中DIC表面缺陷检测装置，包括Y轴移动平台，所述Y轴移动平台上方设有大理石龙门架；
[0006]所述大理石龙门架包括两根大理石立柱及位于两根大理石立柱顶部之间的大理石龙门，所述大理石龙门下方固定安装有X轴直线电机，所述X轴直线电机的动子与悬挂相机连接，所述悬挂相机下方连接有视觉光源。
[0007]进一步优选的，所述悬挂相机采用像素为2000万的远心相机且配备倍远心镜头，所述悬挂相机单次取像视野为3.5
×
2.5mm。
[0008]优选的，所述悬挂相机与计算机连接。
[0009]优选的，所示视觉光源与Y轴移动平台在垂直方向上的距离为60mm。
[0010]优选的，所述Y轴移动平台一侧设有拖链。
[0011]与现有技术相比，本技术具有如下有益效果：
[0012]1、本技术悬挂相机与X轴直线电机的动子连接，通过飞拍方式进行取像，采用大理石材料的龙门架，降低了悬挂相机飞拍过程频繁加减速造成的机构和镜头震动保证取像稳定性，避免飞拍过程镜头的震动导致检测不准确的情况，既保证了生产节拍的要求，又满足测量精度。
[0013]2、本技术悬挂相机采用像素为2000万的远心相机且配备4倍远心镜头，单次取像视野为3.5
×
2.5mm，检测精度可达到10μm，对于原来无法筛出的10μm以上的小裂纹，可以检出，避免了一定比例的产品在流通到客户手中后出现失效，提升了客户满意度。
附图说明
[0014]图1为本技术结构示意图。
[0015]图中零部件及编号：
[0016]1‑
Y轴移动平台；2
‑
大理石龙门架；3
‑
X轴直线电机；4
‑
悬挂相机；5
‑
视觉光源；6
‑
拖链；200
‑
大理石立柱；201
‑
大理石龙门。
具体实施方式
[0017]下面结合附图和实施例对本技术进一步说明，但不是对本技术的限制，任何基于本技术的变换或推理的技术方案，均属于本技术的保护范围。
[0018]如图1所示，一种OLED显示屏制造过程中DIC表面缺陷检测装置，包括Y轴移动平台1，Y轴移动平台1上方设有大理石龙门架2；
[0019]大理石龙门架2包括两根大理石立柱200及位于两根大理石立柱200顶部之间的大理石龙门201，大理石龙门201下方固定安装有X轴直线电机3，X轴直线电机3的动子与悬挂相机4连接，悬挂相机4下方连接有视觉光源5。
[0020]大理石材料的立柱和龙门稳定性优秀，无需考虑相机移动速度导致的震动，直线电机结构简单、定位精度高、反应速度快、随动性好，悬挂相机4与X轴直线电机3的动子连接，随动子移动进行飞拍取像，Y轴移动平台1可以让检测物在Y轴方向移动，视觉光源5照射DIC表面形成镜面反射高亮，用悬挂相机4进行飞拍高速取像，视觉光源5可根据不同需求选择环形光源、同轴光源、点光源。
[0021]进一步优选的，悬挂相机4采用像素为2000万的远心相机且配备4倍远心镜头，悬挂相机4单次取像视野为3.5
×
2.5mm。使检测精度可达到10μm。
[0022]优选的，所述悬挂相机4与计算机连接。悬挂相机4取像后将图片传送给计算机，在计算机上通过亚像素边缘检测、傅里叶变换、动态阈值分割等方法对缺陷进行高精度检测。
[0023]优选的，视觉光源5与Y轴移动平台1在垂直方向上的距离为60mm。能保证IC表面的打光效果最优，可以准确呈现出抓取图像的表面特征。
[0024]优选的，Y轴移动平台1一侧设有拖链6。对内置线缆牵引保护。
[0025]综上所述，本技术悬挂相机4与X轴直线电机3的动子连接，通过飞拍方式进行取像，采用大理石材料的龙门架，降低了悬挂相机4飞拍过程频繁加减速造成的机构和镜头震动保证取像稳定性，避免飞拍过程镜头的震动导致检测不准确的情况，既保证了生产节拍的要求，又满足测量精度。
[0026]本技术悬挂相机4采用像素为2000万的远心相机且配备4倍远心镜头，单次取像视野为3.5
×
2.5mm，检测精度可达到10μm，对于原来无法筛出的10μm以上的小裂纹，可以检出，避免了一定比例的产品在流通到客户手中后出现失效，提升了客户满意度。
[0027]以上显示描述了本技术的基本原理和主要特征和本技术的优点。本行业的技术人员应该了解，本技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本技术的原理，在不脱离本技术精神和范围的前提下，本技术还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本技术范围内。本技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种OLED显示屏制造过程中DIC表面缺陷检测装置，包括Y轴移动平台(1)，其特征在于：所述Y轴移动平台(1)上方设有大理石龙门架(2)；所述大理石龙门架(2)包括两根大理石立柱(200)及位于两根大理石立柱(200)顶部之间的大理石龙门(201)，所述大理石龙门(201)下方固定安装有X轴直线电机(3)，所述X轴直线电机(3)的动子与悬挂相机(4)连接，所述悬挂相机(4)下方连接有视觉光源(5)。2.根据权利要求1所述的一种OLED显示屏制造过程中DIC表面缺陷检测装置，其特征在于：所述悬挂相机(4)采用像素为2000...

【专利技术属性】
技术研发人员：王康康，
申请(专利权)人：四川欣富东科技有限公司，
类型：新型
国别省市：