数控系统路径检测的方法及应用技术方案

本发明专利技术公开了一种数控系统路径检测的方法及应用，该方法包括以下步骤：解析预配置加工指令，获得基准加工路径；基于预配置加工指令和预设加工参数进行路径规划，获得规划加工路径；以及基于所述基准加工路径和规划加工路径，对数控系统进行路径检测。该方法能够有效检测规划加工路径的偏离误差，防止因加工路径偏离导致的加工工件的损坏及机床主轴的损坏。偏离导致的加工工件的损坏及机床主轴的损坏。偏离导致的加工工件的损坏及机床主轴的损坏。

【技术实现步骤摘要】
数控系统路径检测的方法及应用


[0001]本专利技术是关于数控领域，特别是关于一种数控系统路径检测的方法及应用。

技术介绍

[0002]现有技术中，数控系统是基于NC(NumericalControl，数字控制，简称数控)程序进行加工路径的规划，并控制数控机床进行实际加工。其中NC程序一般是由CAM编程软件生成。
[0003]常规的，数控系统在规划加工路径时，会使用不同的插补算法进行路径规划。插补算法即基于给定速度及给定轮廓线形的要求，在轮廓已知点之间确定一些中间点。实际应用中，错误的插补方法可能会导致实际加工轨迹偏离原始预设的NC轨迹，从而可能会导致加工过程中加工工件的过切损坏或主轴碰撞，造成损失。
[0004]公开于该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在增加对本专利技术的总体背景的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种数控系统路径检测的方法及应用，其能够有效地检测规划加工路径的偏离误差，防止因加工路径偏离导致的加本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数控系统路径检测的方法，其特征在于，所述方法包括：解析预配置加工指令，获得基准加工路径；基于预配置加工指令和预设加工参数进行路径规划，获得规划加工路径；以及基于所述基准加工路径和规划加工路径，对数控系统进行路径检测。2.如权利要求1所述的数控系统路径检测的方法，其特征在于，所述基准加工路径包括M个基准加工路径段，所述规划加工路径包括N个规划加工路径段，所述N个规划加工路径段与M个基准加工路径段之间具有对应关系；基于所述基准加工路径和规划加工路径，对数控系统进行路径检测，具体包括：基于所述对应关系，逐个查找当前规划加工路径段对应的基准加工路径段；分别计算所述各规划加工路径段与对应的基准加工路径段之间的参考距离；将所述参考距离与所述预设加工参数中的允许误差进行比较，判断所述规划加工路径段是否偏离。3.如权利要求2所述的数控系统路径检测的方法，其特征在于，所述方法还包括：基于计算所得的所述规划加工路径段与对应的基准加工路径段之间的最短距离，判断所述规划加工路径段是否偏离；和/或，基于计算所得的所述规划加工路径的总长度与对应的基准加工路径的总长度的差值和/或比例，判断所述规划加工路径是否偏离；和/或，基于计算所得的所述规划加工路径中点位与对应的基准加工路径构建的基准加工模型的距离，判断所述规划加工路径是否偏离。4.如权利要求2所述的数控系统路径检测的方法，其特征在于，判断所述规划加工路径段是否偏离，具体包括：若所述参考距离不大于所述允许误差，则所述规划加工路径段未偏离，通过路径检测；若所述参考距离大于所述允许误差，则所述规...

【专利技术属性】
技术研发人员：方静波，
申请(专利权)人：上海铼钠克数控科技有限公司，
类型：发明
国别省市：