一种多工位键盘拉拔力测试设备制造技术

本发明专利技术公开了一种多工位键盘拉拔力测试设备，包括机架，所述机架上安装有键盘拉拔机构和双治具移载机构，所述双治具移载机构共设置有两个；所述键盘拉拔机构包括X轴支架，所述X轴支架上安装有X轴直线模组，所述X轴直线模组驱动有Z轴支架，所述Z轴支架上安装有Z轴直线模组，所述Z轴直线模组驱动有框架，所述框架上安装有多个拉键盘微调模组。本发明专利技术，框架上安装有多个拉键盘微调模组，拉键盘微调模组工设置有12组，12组拉键盘微调模组呈2列6排分布，从而可同时对键盘上的键帽进行测试，一次移载即可测试整个键盘，大幅度缩小测试时间，提高测试效率；且配合双治具移载机构，可固定多个键盘，流水线式检测，效率大幅度提高。效率大幅度提高。效率大幅度提高。

【技术实现步骤摘要】
一种多工位键盘拉拔力测试设备


[0001]本专利技术涉及键盘拉拔力测试
，具体是一种多工位键盘拉拔力测试设备。

技术介绍

[0002]目前已知的造成键盘键帽弹力或拉拔力不良的主要原因有：1)来料不良，例如金属底板卡勾变形、剪刀支撑架中轴断裂或内外剪刀配装键帽结构处缺料和崩塌、键帽的四角与内外剪刀配装处(即书面名为水滴孔和滑槽结构)存在不良；2)装配不良，例如在组装的过程中由于人为或组装的机械设备不良损坏了键盘或键帽结构。以上两点造成键盘键抵抗向上拉力不足或没有弹力的主要原因，将直接导致键盘做成成品后会严重影响键盘的使用寿命和使用的机械手感。所以键帽安装到键盘上后，为了确保后续使用的可靠性，需要对键盘键帽组装后的拉拔力进行测试。
[0003]现有公开号为CN209069576U公开的一种检测效率高的全自动键帽拉拔测试装置，其键帽拉拔块的两侧设置有挂钩，通过挂钩伸入到键帽与键盘地板之间的缝隙中将键帽向上拉起；但是其只是单组的拉拔结构，由于键盘的键帽较多，其必然导致单个键盘的测试时间较长，从而使得效率相对较低，为此，我们提出一种多工位键盘拉拔力测试设备。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种多工位键盘拉拔力测试设备，以解决现有技术中的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种多工位键盘拉拔力测试设备，包括机架，所述机架上安装有键盘拉拔机构和双治具移载机构，所述双治具移载机构共设置有两个；所述键盘拉拔机构包括X轴支架，所述X轴支架上安装有X轴直线模组，所述X轴直线模组驱动有Z轴支架，所述Z轴支架上安装有Z轴直线模组，所述Z轴直线模组驱动有框架，所述框架上安装有多个拉键盘微调模组。
[0006]优选的，所述拉键盘微调模组工设置有12组，每组拉键盘微调模组呈2列6排分布；所述拉键盘微调模组包括直线滑轨，所述直线滑轨的两端均设置有丝杆步进电机，所述丝杆步进电机驱动有微调Y轴组件，所述微调Y轴组件驱动有连接板，所述连接板上安装有钩子组件。
[0007]优选的，所述微调Y轴组件滑动安装在直线滑轨上，所述微调Y轴组件上设置有与丝杆步进电机配合的丝杆螺母；所述微调Y轴组件包括固定架、伺服电机、丝杆和螺母，所述伺服电机安装在固定架上，所述连接板通过滑块和滑轨与固定架滑动连接，所述连接板上安装有螺母，所述伺服电机通过丝杆和螺母驱动连接板升降。
[0008]优选的，所述钩子组件包括上连接块、拉力传感器和下连接块，所述拉力传感器两端分别安装有上连接块和下连接块；还包括钩子固定块、钩子和钩子夹紧块，所述钩子通过钩子固定块和钩子夹紧块固定；所述下连接块和钩子固定块之间通过第一磁铁组件相互吸附；所述第一磁铁组件由两个磁铁组成，两个磁铁分别安装在下连接块和钩子固定块上，两
个磁铁相邻的一端磁极相反；所述下连接块上安装有球头销，钩子固定块上开设有与球头销配合的销孔。
[0009]优选的，所述钩子组件还包括防撞块，所述防撞块和导向块之间通过第二磁铁组件相互吸附；所述第二磁铁组件由两个磁铁组成，两个磁铁分别安装在防撞块和导向块上，两个磁铁相邻的一端磁极相反；所述导向块上安装有球头销，防撞块上开设有与球头销配合的销孔。
[0010]优选的，所述双治具移载机构包括直线模组、底板、压料机构和载具，所述直线模组驱动有底板，所述底板底端安装有光电传感器，所述底板上安装有两个载具，所述底板位于两个载具处均安装有压料机构；所述压料机构包括转轴、压网和旋转铰链，所述压网通过旋转铰链固定在转轴上，所述压料机构还包括驱动转轴转动的驱动机构。
[0011]优选的，所述压网包括固定框和压条，所述固定框上安装有多个压条，所述压条底端设置有多个凸起结构。
[0012]优选的，所述驱动机构包括步进电机、同步带、从动同步带轮和主动同步带轮，所述步进电机驱动有主动同步带轮，所述从动同步带轮安装在转轴上，所述从动同步带轮和主动同步带轮之间通过同步带连接。
[0013]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0014]1、框架上安装有多个拉键盘微调模组，拉键盘微调模组工设置有12组，12组拉键盘微调模组呈2列6排分布，从而可同时对键盘上的键帽进行测试，一次移载即可测试整个键盘，大幅度缩小测试时间，提高测试效率；且配合双治具移载机构，可固定多个键盘，流水线式检测，效率大幅度提高。
[0015]2、为了匹配各个键盘之间的间距，因为拉键盘微调模组包括直线滑轨，直线滑轨的两端均设置有丝杆步进电机，丝杆步进电机驱动有微调Y轴组件，从而可调节钩子之间的间距，用于匹配不同规格的键盘。
[0016]3、下连接块和钩子固定块之间通过第一磁铁组件相互吸附；第一磁铁组件由两个磁铁组成，两个磁铁分别安装在下连接块和钩子固定块上，两个磁铁相邻的一端磁极相反；从而下连接块和钩子固定块之间是通过磁吸力进行连接，到拉拔力过大时，两个磁铁会断开，从而保证不会对键盘的键帽造成损坏；防撞块和导向块之间通过第二磁铁组件相互吸附；第二磁铁组件由两个磁铁组成，两个磁铁分别安装在防撞块和导向块上，两个磁铁相邻的一端磁极相反；原理同上，进一步确保拉拔力过大时，两个磁铁会断开，从而保证不会对键盘的键帽造成损坏。
[0017]4、料机构包括转轴、压网和旋转铰链，压网通过旋转铰链固定在转轴上，压料机构还包括驱动转轴转动的驱动机构；通过驱动机构，可直接驱动压网对键盘进行压紧，固定方便，效率高；压条底端设置有多个凸起结构，凸起结构主要是卡在键盘每排键盘的间隙处。
附图说明
[0018]附图用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本专利技术的实施例一起用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的限制。在附图中：
[0019]图1是本专利技术的结构示意图；
[0020]图2是本专利技术键盘拉拔机构和双治具移载机构的结构示意图；
[0021]图3是本专利技术键盘拉拔机构的结构示意图；
[0022]图4是本专利技术图3部分的结构示意图；
[0023]图5是本专利技术拉键盘微调模组的结构示意图；
[0024]图6是本专利技术图5后部视角的结构示意图；
[0025]图7是本专利技术钩子组件的结构示意图；
[0026]图8是本专利技术钩子组件的主视图；
[0027]图9是本专利技术A
‑
A的剖视图；
[0028]图10是本专利技术钩子组件的侧视图；
[0029]图11是本专利技术B
‑
B的剖视图；
[0030]图12是本专利技术双治具移载机构的结构示意图；
[0031]图13是本专利技术图12部分的结构示意图；
[0032]图14是本专利技术图13底部视角的结构示意图；
[0033]图15是本专利技术压网的结构示意图。
[0034]图中：1、机架；2、键盘拉拔机构；3、双治具移载机构；21、X轴支架；22、X轴直线模组；23、Z轴支架；24、Z轴直线模组；25、框架；26、拉键盘微调模组；261、直线滑轨；2本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多工位键盘拉拔力测试设备，包括机架(1)，其特征在于：所述机架(1)上安装有键盘拉拔机构(2)和双治具移载机构(3)，所述双治具移载机构(3)共设置有两个；所述键盘拉拔机构(2)包括X轴支架(21)，所述X轴支架(21)上安装有X轴直线模组(22)，所述X轴直线模组(22)驱动有Z轴支架(23)，所述Z轴支架(23)上安装有Z轴直线模组(24)，所述Z轴直线模组(24)驱动有框架(25)，所述框架(25)上安装有多个拉键盘微调模组(26)。2.根据权利要求1所述的一种多工位键盘拉拔力测试设备，其特征在于：所述拉键盘微调模组(26)工设置有12组，12组拉键盘微调模组(26)呈2列6排分布；所述拉键盘微调模组(26)包括直线滑轨(261)，所述直线滑轨(261)的两端均设置有丝杆步进电机(263)，所述丝杆步进电机(263)驱动有微调Y轴组件(264)，所述微调Y轴组件(264)驱动有连接板(265)，所述连接板(265)上安装有钩子组件(266)。3.根据权利要求2所述的一种多工位键盘拉拔力测试设备，其特征在于：所述微调Y轴组件(264)滑动安装在直线滑轨(261)上，所述微调Y轴组件(264)上设置有与丝杆步进电机(263)配合的丝杆螺母(262)；所述微调Y轴组件(264)包括固定架、伺服电机、丝杆和螺母，所述伺服电机安装在固定架上，所述连接板(265)通过滑块和滑轨与固定架滑动连接，所述连接板(265)上安装有螺母，所述伺服电机通过丝杆和螺母驱动连接板(265)升降。4.根据权利要求2所述的一种多工位键盘拉拔力测试设备，其特征在于：所述钩子组件(266)包括上连接块(2663)、拉力传感器(2664)和下连接块(2665)，所述拉力传感器(2664)两端分别安装有上连接块(2663)和下连接块(2665)；还包括钩子固定块(2666)、钩子(2667)和钩子夹紧块(2668)，所述钩子(2667)通过钩子固定块(2666)和钩子夹紧块(2668)固定；所述下连接块(2665)和钩子固定块(2666)之间通过第一磁铁组件(26610)相互吸附；所述第一磁铁组件(26610)由两个...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴天翔，
申请(专利权)人：苏州奥巴特尔软件系统工程有限公司，
类型：发明
国别省市：