一种装夹装置、显微镜及零件检测方法，包括：底座(2)、俯仰功能连接件(4)、旋转内环(8)；所述底座上具有两处支撑臂，所述俯仰功能连接件(4)可旋转地安装连接于两处所述支撑臂之间；所述俯仰功能连接件(4)的顶端具有环形圆柱结构；所述旋转内环(8)为环形台阶圆柱结构，所述旋转内环(8)的中间位置具有凸起的台阶圆柱，所述台阶圆柱的外直径大于所述旋转内环(8)两端圆柱的外直径；所述台阶圆柱的外直径与所述环形圆柱结构的环形内直径相配合；所述旋转内环(8)内部具有通孔，所述通孔直径与所述待测零件直径相配合。本发明专利技术解决了零件检测中零件方向和高度调整不便，检测人员握持零件不稳，定拍高度受人为影响导致标准不一致的技术问题。术问题。术问题。
【技术实现步骤摘要】
一种装夹装置、显微镜及零件检测方法
[0001]本专利技术属于工业设备
，特别涉及一种装夹装置、显微镜及零件检测方法，可用于装夹检测电磁阀零件外观质量。
技术介绍
[0002]零件检测是工业生产中常见的场景，电磁阀是一种用电磁控制的工业设备，是用来控制流体的自动化基础元件。电磁阀零件的传统检测方法是：人员手持电磁阀零件在显微镜的载物台上，通过目镜观测电磁阀零件在显微镜目镜下的清晰度，通过调节显微镜高度距离使显微镜目镜中的电磁阀零件清晰，此时双手持电磁阀零件并在圆周方向转动，仔细观测电磁阀零件外观缺陷，检测一个方向后换方向，观测对面位置电磁阀零件外观质量，当发现零件存在缺陷，用数码相机拍下缺陷，并在缺陷位置进行标记，隔离不合格品并办理不合格品相关手续。
[0003]传统检测方法存在的缺点：(1)检测过程通过观测显微镜目镜调整物镜视野内零件的清晰度、调焦距、定高度。电磁阀零件的调整、调焦距、定高度调节耗时较长。(2)由于每个电磁阀零件需检测人员手持零件在显微镜下拍摄，人员手持过程握持不稳、拍摄后的多媒体检验记录易出现模糊、虚影、重影等问题，需重新拍摄。(3)同时检测人员手动调节显微镜焦距、定拍摄高度受人员视力差异影响不能标准一致，与高效生产检测技术需求存有较大差距。
技术实现思路
[0004]本专利技术提出一种装夹装置、显微镜及零件检测方法，用于解决传统零件检测中，零件的方向和高度调整不便，检测人员手持零件时握持不稳定，定拍高度受人为操作影响导致标准不一致的技术问题。
[0005]本专利技术提出一种装夹装置，包括：底座、俯仰功能连接件、旋转内环；
[0006]所述底座上具有两处支撑臂，所述俯仰功能连接件可旋转地安装连接于两处所述支撑臂之间；
[0007]所述俯仰功能连接件的顶端具有环形柱体结构；
[0008]所述旋转内环为环形台阶柱体结构，所述旋转内环的中间位置具有凸起的台阶柱体，所述台阶柱体的外直径大于所述旋转内环两端柱体的外直径；
[0009]所述台阶柱体的外直径与所述环形柱体结构的环形内直径相配合，所述旋转内环穿过所述俯仰功能连接件的所述环形柱体结构；
[0010]所述旋转内环内部具有通孔，所述通孔直径与所述待测零件直径相配合。
[0011]进一步的，还包括基座，所述基座中心位置具有轴体，所述底座的底部中心位置具有凹孔，所述轴体与所述凹孔相配合安装使得所述底座能够相对所述基座以任意角度旋转。
[0012]进一步的，所述基座和所述底座的形状为圆盘型，在所述基座的边缘任意位置设
置凸块，在所述凸块上设置锁紧螺纹通孔，底座锁紧螺钉旋入所述锁紧螺纹通孔用于锁紧所述底座。
[0013]进一步的，还包括链接圆柱销，所述俯仰功能连接件的中间具有水平方向的销孔，所述底座上两处所述支撑臂具有支撑通孔，所述销孔直径与所述支撑通孔直径相同，所述链接圆柱销穿过所述支撑通孔与所述销孔。
[0014]进一步的，所述俯仰功能连接件的下端的一侧或两侧具有向外侧延伸的支撑柱，所述底座上一侧或两侧的所述支撑臂内侧具有与所述支撑柱旋转轨迹相对应的滑动槽，所述支撑柱进入相对应的所述滑动槽内并能够在所述滑动槽内滑动。
[0015]进一步的，所述滑动槽为镂空槽，所述支撑柱的端部设置螺纹锁紧柱，所述螺纹锁紧柱穿过所述滑动槽，连接件锁紧螺母与所述纹锁紧柱的末端部螺纹连接，所述连接件锁紧螺母在所述螺纹锁紧柱上旋转并锁紧所述俯仰功能连接件与所述支撑臂的相对位置。
[0016]进一步的，所述支撑柱的端部设置螺纹锁紧柱的设置方式包括：
[0017]所述支撑柱的端部具有水平的螺纹孔，所述螺纹锁紧柱旋转安装于所述螺纹孔内；或者，
[0018]所述支撑柱的端部被加工出螺纹从而形成所述螺纹锁紧柱；或者，
[0019]在所述支撑柱的端部焊接所述螺纹锁紧柱。
[0020]进一步的，在所述旋转内环两端的圆柱中的至少一个上设置螺纹通孔，螺钉旋转安装于所述螺纹通孔内，所述螺钉的整体长度大于所述两端圆柱的壁厚。
[0021]本专利技术还提出一种测量显微镜，其包括显微镜，在所述显微镜的载物台设置上述的装夹装置。
[0022]本专利技术还提出一种测量显微镜进行零件检测的方法，包括：
[0023]在显微镜载物台上放置如装夹装置，将被检测零件安装到所述装夹装置的搜索旋转内环的所述通孔内，通过显微镜观查被检测零件并调节俯仰功能连接件的角度位置；
[0024]完成对被检测零件一个方向的检测后，将被检测零件改变至另一个方向继续进行检测，或更换被检测零件。
[0025]本专利技术与现有技术相比的优点在于：
[0026](1)本专利技术改进了零件的装夹方法，实现零件一次定位、支撑装夹；
[0027](2)本专利技术减少了零件的调焦距、定高度调节调整准备时间；
[0028](3)本专利技术杜绝人工手持零件抖动问题，杜绝多媒体检验记录出现模糊、虚影、重影需重新拍摄等问题；
[0029](4)本专利技术实现零件一次定位装夹，检测装置圆周方向角度可调，整检测装置可实现俯仰角度可按角度位、置调整，电磁阀零件在显微镜下无死角检测。
附图说明
[0030]图1为本专利技术装夹装置结构图；
[0031]图2为电磁阀零件示意图；
[0032]图3为本专利技术检测工装基座示意图；
[0033]图4为本专利技术旋转底座示意图；
[0034]图5为本专利技术旋转底座锁紧螺钉示意图；
[0035]图6为本专利技术俯仰功能连接件示意图；
[0036]图7为本专利技术连接件锁紧螺母示意图；
[0037]图8为本专利技术旋转内环示意图；
[0038]图9为本专利技术旋转内环锁紧螺钉示意图；
[0039]图10为本专利技术检测装置安装示意图；
[0040]图11为本专利技术高精度显微镜示意图。
具体实施方式
[0041]以下结合附图对本专利技术的具体实施方式做出详细说明。本专利技术提出一种装夹装置、显微镜及零件检测方法，图1所示，其包括：基座1、底座2、底座锁紧螺钉3、俯仰功能连接件4、链接圆柱销5、螺纹锁紧柱6、连接件锁紧螺母7、旋转内环8、旋转内环锁紧螺钉9。
[0042]底座2上具有两处支撑臂，俯仰功能连接件4可旋转地安装连接于两处所述支撑臂之间；俯仰功能连接件4的顶端具有环形圆柱结构。旋转内环8为环形台阶圆柱结构，旋转内环8的中间位置具有凸起的台阶圆柱，台阶圆柱的外直径大于旋转内环8两端圆柱的外直径，台阶圆柱的外直径与环形圆柱结构的环形内直径相配合。台阶圆柱与环形圆柱结构的环形二者过盈配合。
[0043]旋转内环8内部具有通孔，通孔用于夹装待测零件，通孔直径与所述待测零件直径相配合。图2是待测零件示意图，该待测零件是一种电磁阀，将电磁阀装配如旋转内环8，即可进行对其进行基本检测。
[0044]基座1的形状与底座2的形状相同，基座1中心位置具有圆柱轴，所述底座2的底部中心位置具有凹孔，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种装夹装置，其特征在于，包括：底座(2)、俯仰功能连接件(4)、旋转内环(8)；所述底座(2)上具有两处支撑臂，所述俯仰功能连接件(4)可旋转地安装连接于两处所述支撑臂之间；所述俯仰功能连接件(4)的顶端具有环形柱体结构；所述旋转内环(8)为环形台阶柱体结构，所述旋转内环(8)的中间位置具有凸起的台阶柱体，所述台阶柱体的外直径大于所述旋转内环(8)两端柱体的外直径；所述台阶柱体的外直径与所述环形柱体结构的环形内直径相配合，所述旋转内环(8)穿过所述俯仰功能连接件(4)的所述环形柱体结构；所述旋转内环(8)内部具有通孔，所述通孔直径与所述待测零件直径相配合。2.根据权利要求1所述的装夹装置，其特征在于，还包括基座(1)，所述基座(1)中心位置具有轴体，所述底座(2)的底部中心位置具有凹孔，所述轴体与所述凹孔相配合安装使得所述底座(2)能够相对所述基座(1)以任意角度旋转。3.根据权利要求2所述的装夹装置，其特征在于，所述基座(1)和所述底座(2)的形状为圆盘型，在所述基座(1)的边缘任意位置设置凸块，在所述凸块上设置锁紧螺纹通孔，底座锁紧螺钉(3)旋入所述锁紧螺纹通孔用于锁紧所述底座(2)。4.根据权利要求1
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3任一项所述的装夹装置，其特征在于，还包括链接圆柱销(5)，所述俯仰功能连接件(4)的中间具有水平方向的销孔，所述底座上两处所述支撑臂具有支撑通孔，所述销孔直径与所述支撑通孔直径相同，所述链接圆柱销(5)穿过所述支撑通孔与所述销孔。5.根据权利要求4所述的装夹装置，其特征在于，所述俯仰功能连接件(4)的下端的一侧或两侧具有向外侧延伸的支撑柱，所述底座上一侧或两侧...
【专利技术属性】
技术研发人员：米军辉，杨晓荣，刘琛，庞国旺，范彬，翁汉旺，王乙杰，吴楠，
申请(专利权)人：北京航天控制仪器研究所，
类型：发明
国别省市：
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