聚乙烯醇膜以及使用其的偏振膜和偏振板制造技术

本发明专利技术提供即便实现LCD的高透射化也不易观察到拉伸加工时的偏振板的不均的PVA膜以及使用这种PVA膜的偏振膜和偏振板。聚乙烯醇膜，其中，将膜表面的任意的点F0的膜厚轮廓设为F0(x)，将从F0起朝着TD方向

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】聚乙烯醇膜以及使用其的偏振膜和偏振板


[0001]本专利技术涉及聚乙烯醇膜以及使用其的偏振膜和偏振板。

技术介绍

[0002]具有透光和遮光功能的偏振板与使光的偏振状态发生变化的液晶同为液晶显示器(LCD)的基本构成要素。LCD在计算器和腕表等小型设备、笔记本电脑、液晶显示器、液晶彩色投影仪、液晶电视、车载用导航系统、便携电话、在室内外使用的计量设备等广大范围内加以使用。
[0003]偏振板一般如下制造：对聚乙烯醇膜(以下有时将“聚乙烯醇”简写为“PVA”)实施染色、单轴拉伸，并且根据需要进一步利用硼化合物等来实施固定处理而制造偏振膜后，在该偏振膜的表面粘贴三乙酸纤维素(TAC)膜等保护膜。近年来，要求LCD的节能化，也对偏振板要求高透射化。随着偏振板的高透射化，在以往观察不到的由PVA膜的膜厚不均引起的偏振板的不均也会被观察到，要求与以往制品相比平坦性更优异的PVA膜。
[0004]专利文献1中记载了通过使用气刀来抑制流延时的变动，从而与以往相比平坦性更优异的PVA膜的制造方法。
[0005]现有技术文献
[0006]专利文献
[0007]专利文献1：日本特开2017
‑
008298号公报

技术实现思路

[0008]专利技术所要解决的课题
[0009]然而，在专利文献1中，虽然能够得到与以往相比更良好的MD方向的膜厚平坦性，但存在如下课题：由于膜厚薄的部分集中在宽度方向上，因而，应力集中在膜厚薄的部分，尽管观察性低但仍然能够观察到规则的偏振板不均，无法应对LCD的进一步高透射化的要求。
[0010]因而，本专利技术的目的在于，提供即便实现LCD的进一步高透射化也不易观察到拉伸加工时的偏振板的不均的PVA膜、以及使用这种PVA膜的偏振膜和偏振板。
[0011]用于解决课题的手段
[0012]本专利技术人等反复进行深入研究，结果发现：通过在进一步降低PVA膜的MD方向(流向)的膜厚不均的基础上，将TD方向(宽度方向)的特定位置的膜厚不均的相位偏差调整至特定范围，从而能够达成上述课题，并根据该发现进一步反复研究，由此完成了本专利技术。
[0013]即，本专利技术为：
[0014][1]聚乙烯醇膜，其中，将膜表面的任意的点F0的膜厚轮廓设为F0(x)，将从F0起朝着TD方向
‑
100mm的点的膜厚轮廓设为F
‑
100
(x)，将从F0起朝着TD方向
‑
200mm的点的膜厚轮廓设为F
‑
200
(x)，将从F0起朝着TD方向+100mm的点的膜厚轮廓设为F
+100
(x)，将从F0起为TD方向+200mm的点的膜厚轮廓设为F
+200
(x)时，用各个膜厚轮廓的MD方向的倾斜值即F
′0(x)、F
′
‑
100
(x)、F
′
‑
200
(x)、F
′
+100
(x)和F
′
+200
(x)的MD方向的平均表示的平均倾斜值为0.02以下，用将F
′0(x)显示极小值的点设为C
n
(n＝1，2，3
…
)时的|F
′
‑
100
(C
n
)
‑
F
′0(C
n
)|、|F
′
‑
200
(C
n
)
‑
F
′0(C
n
)|、|F
′
+100
(C
n
)
‑
F
′0(C
n
)|和|F
′
+200
(C
n
)
‑
F
′0(C
n
)|的平均值定义的相位参数为0.015以上；
[0015][2]根据前述[1]所述的聚乙烯醇膜，其宽度为4m以上；
[0016][3]根据前述[1]或[2]所述的聚乙烯醇膜，其溶胀度为170～220％；
[0017][4]根据前述[1]～[3]中任一项所述的聚乙烯醇膜，其厚度为30μm～65μm；
[0018][5]根据前述[1]～[4]中任一项所述的聚乙烯醇膜，其为光学用膜制造用膜；
[0019][6]根据前述[5]所述的聚乙烯醇膜，其中，光学用膜为偏振膜；
[0020][7]偏振膜，其是使用前述[1]～[6]中任一项所述的聚乙烯醇膜而制造的；
[0021][8]偏振板，其是在前述[7]所述的偏振膜的至少单面粘贴保护膜而制造的；
[0022][9]聚乙烯醇膜的制造方法，其具有：使用浓度为32质量％以下的聚乙烯醇水溶液来形成聚乙烯醇膜，在聚乙烯醇膜的水分率为20质量％以上时，以1.075～1.135的拉伸比进行拉伸的工序。
[0023]专利技术效果
[0024]根据本专利技术，可提供与以往相比更不易观察到拉伸加工后的偏振板不均的PVA膜以及使用这种PVA膜的偏振膜和偏振板。
[0025]以下，针对本专利技术进行具体说明。
[0026]<PVA膜的膜厚测定>
[0027]本专利技术中的PVA膜的膜厚测定利用以下的条件来进行。从进行宽度方向的膜厚的相位对比的观点出发，必须使用二维膜厚计来进行测定。
[0028]<使用装置>线扫描膜厚计(TI
‑
750HR
‑
1：大塚电子公司制)
[0029]<测定间隔>MD：1mm TD：1mm
[0030]<测定MD长度>1024mm
[0031]<测定TD长度>750mm/1次扫描
[0032](MD方向的平均倾斜值)
[0033]本专利技术的PVA膜的特征在于，MD方向的平均倾斜值(以下称为MD平均倾斜值)为0.02μm/mm以下。MD平均倾斜值更优选为0.018μm/mm以下。以下，针对MD平均倾斜值的详细计算方法进行记载。
[0034]根据利用线扫描膜厚计而得到的二维膜厚轮廓，将PVA膜的任意点设为位置0mm时，将针对从该任意点起朝着TD方向+100mm的位置、+200mm的位置、
‑
100mm的位置、
‑
200mm的位置(正负方向任意)各自的膜厚轮廓进行8ptFFT平滑化处理而得到的值设为F
+100
(x)、F
+200
(x)、F
‑
100
(x)和F
‑
200
(x)。另外，将位置0mm的点的膜厚轮廓设为F0(x)。此处，下角本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.聚乙烯醇膜，其中，将膜表面的任意的点F0的膜厚轮廓设为F0(x)，将从F0起朝着TD方向
‑
100mm的点的膜厚轮廓设为F
‑
100
(x)，将从F0起朝着TD方向
‑
200mm的点的膜厚轮廓设为F
‑
200
(x)，将从F0起朝着TD方向+100mm的点的膜厚轮廓设为F
+100
(x)，将从F0起为TD方向+200mm的点的膜厚轮廓设为F
+200
(x)时，用各个膜厚轮廓的MD方向的微分值即F
′0(x)、F
′
‑
100
(x)、F
′
‑
200
(x)、F
′
+100
(x)和F
′
+200
(x)的MD方向的平均表示的平均倾斜值为0.02以下，用将F
′0(x)显示极小值的点设为C
n
(n＝1，2，3
…
)时的|F
′
‑
100
(C
n
)
‑
F
′0(C
n
)|、|F...

【专利技术属性】
技术研发人员：下田康平，森翔大朗，大桥亘，中井慎二，
申请(专利权)人：株式会社可乐丽，
类型：发明
国别省市：