ECG自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种ECG自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，所述方法包括步骤：若触发测试指令，则获取所述测试指令对应的待测设备的取样位置；根据所述取样位置确定各测试模块对应的预计测试耗时；将所述预计测试耗时最少的所述测试模块作为第一目标测试模块；所述待测设备移动至所述第一目标测试模块进行测试操作。通过测试指令的触发来确定待测设备的测试需要，并预计测试耗时最少的测试模块作为待测设备的测试模块，使得单个待测设备的测试时间最短，提高了检测效率，同时，实现了待测设备的自动化测试，避免了人工方式导致的生产效率低下，测试质量不佳的问题。测试质量不佳的问题。测试质量不佳的问题。

【技术实现步骤摘要】
ECG自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质


[0001]本申请涉及设备测试领域，尤其涉及一种ECG自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]目前手表ECG的功能测试往往是由人工对目标设备进行取放；当手表大批量生产时，人工方式可能导致漏侧、重复测试等情况，影响生产效率以及测试质量。

技术实现思路

[0003]本申请提供了一种ECG自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，旨在解决现有技术中ECG测试生产效率低下，测试质量不佳的技术问题。
[0004]为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本申请提供了一种ECG自动测试方法，所述方法包括步骤：
[0005]若触发测试指令，则获取所述测试指令对应的待测设备的取样位置；
[0006]根据所述取样位置确定各测试模块对应的预计测试耗时；
[0007]将所述预计测试耗时最少的所述测试模块作为第一目标测试模块；
[0008]将所述待测设备移动至所述第一目标测试模块进行测试操作。
[0009]可选地；所述根据所述取样位置确定各测试模块对应的预计测试耗时的步骤包括：
[0010]确定各测试模块的模块位置与所述取样位置之间的最短放置路径耗时；
[0011]根据所述最短放置路径耗时确定各所述测试模块对应的预计测试耗时。
[0012]可选地，所述根据所述最短放置路径耗时确定各所述测试模块对应的预计测试耗时的步骤包括：
[0013]针对每一所述测试模块，获取所述测试模块的剩余测试耗时，以及所述测试模块的模块位置与输出位置之间的最短输出路径耗时；
[0014]判断所述剩余测试耗时是否大于所述最短放置路径耗时；
[0015]若所述剩余测试耗时大于所述最短放置路径耗时，则将所述剩余测试耗时与所述最短输出路径耗时之和作为所述测试模块对应的预计测试耗时；
[0016]若所述剩余测试耗时小于或等于所述最短放置路径耗时，则将所述最短放置路径耗时与所述最短输出路径耗时之和作为所述测试模块对应的预计测试耗时。
[0017]可选地，所述将所述待测设备移动至所述第一目标测试模块进行测试操作的步骤包括：
[0018]将所述待测设备移动至所述第一目标测试模块对应的等待区域，并监测所述第一目标测试模块的测试状态；
[0019]当所述第一目标测试模块的测试状态为测试结束时，将所述第一目标测试模块中的已测设备取出，并将所述待测设备放置在所述第一目标测试模块进行测试操作。
[0020]可选地，在所述将所述待测设备移动至所述第一目标测试模块进行测试操作的步骤之后包括：
[0021]获取所述待测设备的测试结果；
[0022]若所述待测设备的测试结果为不良品，则判断所述待测设备在所述第一目标测试模块进行测试操作的次数是否大于预设次数阈值；
[0023]若所述待测设备在所述第一目标测试模块进行测试操作的次数大于预设次数阈值，则确定第二目标测试模块；
[0024]将所述待测设备移动至所述第二目标测试模块进行测试操作，并将所述第二目标测试模块对应的测试结果作为所述待测设备的测试结果。
[0025]可选地，在所述将所述待测设备移动至所述第一目标测试模块进行测试操作的步骤之后包括：
[0026]获取所述待测设备的测试结果，并判断所述测试结果是否为合格品；
[0027]若所述测试结果为合格品，则将所述待测设备作为已测设备移动至合格品输出位置。
[0028]为实现上述目的，本专利技术还提供一种ECG自动测试装置，所述ECG自动测试装置包括控制模块、传输模块、机械臂以及多个测试模块；所述控制模块的检测端分别与所述传输模块、所述机械臂、所述测试模块连接，所述控制模块的输出端与所述机械臂的控制端连接，其中：
[0029]所述传输模块，用于在待测设备移动至传输模块的取样位置时，触发包含所述取样位置的测试指令，并将所述测试指令发送至控制模块；
[0030]所述控制模块，用于在接收到所述测试指令后，根据所述测试指令中的取样位置确定各测试模块对应的预计测试耗时，并将所述预计测试耗时最少的所述测试模块作为第一目标测试模块，发送与所述第一目标测试模块对应的动作信号至所述机械臂；
[0031]所述机械臂，用于在接收到所述动作信号之后，将所述待测设备移动至所述第一目标测试模块进行测试操作。
[0032]可选地，所述机械臂为六轴机械臂。
[0033]可选地，所述测试模块包括测试单元以及位置传感器，所述测试单元与所述位置传感器分别与所述控制模块连接；
[0034]所述测试单元，用于对所述待测设备进行测试操作，并将测试结果以及测试模块对应的测试状态发送至所述控制模块；
[0035]所述位置传感器用以对所述测试模块的位置偏移量进行检测，并将所述位置偏移量发送至所述控制模块；
[0036]所述控制模块，用于通过所述位置偏移量对所述测试模块的模块位置进行校准。
[0037]可选地，所述传输模块包括输入传送带、第一顶升单元、取样位置、输出位置、第二顶升单元以及输出传送带；其中：
[0038]所述输入传送带，用于将所述待测设备移动至所述第一顶升单元；
[0039]所述第一顶升单元，用于将所述待测设备移动至所述取样位置；
[0040]所述第二顶升单元，用于将已测设备移动至所述输出传送带。
[0041]为实现上述目的，本专利技术还提供一种电子设备，所述电子设备包括存储器、处理器
和存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时实现如上所述的ECG自动测试方法的步骤。
[0042]为实现上述目的，本专利技术还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的ECG自动测试方法的步骤。
[0043]本专利技术提出的一种ECG自动测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，若触发测试指令，则获取所述测试指令对应的待测设备的取样位置；根据所述取样位置确定各测试模块对应的预计测试耗时；将所述预计测试耗时最少的所述测试模块作为第一目标测试模块；所述待测设备移动至所述第一目标测试模块进行测试操作。通过测试指令的触发来确定待测设备的测试需要，并预计测试耗时最少的测试模块作为待测设备的测试模块，使得单个待测设备的测试时间最短，提高了检测效率，同时，实现了待测设备的自动化测试，避免了人工方式导致的生产效率低下，测试质量不佳的问题。
附图说明
[0044]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本专利技术的实施例，并与说明书一起用于解释本专利技术的原理。
[0045]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种ECG自动测试方法，其特征在于，所述方法包括：若触发测试指令，则获取所述测试指令对应的待测设备的取样位置；根据所述取样位置确定各测试模块对应的预计测试耗时；将所述预计测试耗时最少的所述测试模块作为第一目标测试模块；将所述待测设备移动至所述第一目标测试模块进行测试操作。2.如权利要求1所述的ECG自动测试方法，其特征在于；所述根据所述取样位置确定各测试模块对应的预计测试耗时的步骤包括：确定各测试模块的模块位置与所述取样位置之间的最短放置路径耗时；根据所述最短放置路径耗时确定各所述测试模块对应的预计测试耗时。3.如权利要求2所述的ECG自动测试方法，其特征在于，所述根据所述最短放置路径耗时确定各所述测试模块对应的预计测试耗时的步骤包括：针对每一所述测试模块，获取所述测试模块的剩余测试耗时，以及所述测试模块的模块位置与输出位置之间的最短输出路径耗时；判断所述剩余测试耗时是否大于所述最短放置路径耗时；若所述剩余测试耗时大于所述最短放置路径耗时，则将所述剩余测试耗时与所述最短输出路径耗时之和作为所述测试模块对应的预计测试耗时；若所述剩余测试耗时小于或等于所述最短放置路径耗时，则将所述最短放置路径耗时与所述最短输出路径耗时之和作为所述测试模块对应的预计测试耗时。4.如权利要求1所述的ECG自动测试方法，其特征在于，所述将所述待测设备移动至所述第一目标测试模块进行测试操作的步骤包括：将所述待测设备移动至所述第一目标测试模块对应的等待区域，并监测所述第一目标测试模块的测试状态；当所述第一目标测试模块的测试状态为测试结束时，将所述第一目标测试模块中的已测设备取出，并将所述待测设备放置在所述第一目标测试模块进行测试操作。5.如权利要求1所述的ECG自动测试方法，其特征在于，在所述将所述待测设备移动至所述第一目标测试模块进行测试操作的步骤之后包括：获取所述待测设备的测试结果；若所述待测设备的测试结果为不良品，则判断所述待测设备在所述第一目标测试模块进行测试操作的次数是否大于预设次数阈值；若所述待测设备在所述第一目标测试模块进行测试操作的次数大于预设次数阈值，则确定第二目标测试模块；将所述待测设备移动至所述第二目标测试模块进行测试操作，并将所述第二目标测试模块对应的测试结果作为所述待测设备的测试结果。6.如权利要求1所述的ECG自动测试方法，其特征在于，在所述将所述待测设备移动至所述第一目标测试模块进行测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈龙，
申请(专利权)人：立讯智造浙江有限公司，
类型：发明
国别省市：