一种无损检测曝光工件支架制造技术

技术编号:38877947 阅读:9 留言:0更新日期:2023-09-22 14:10
本实用新型专利技术公开了一种无损检测曝光工件支架,涉及无损检测技术领域,包括底座和托板工作台,所述底座上方设有升降机构,所述升降机构上方设有托板工作台,所述托板工作台底部与转轴顶部安装,所述支撑台底部与升降机构安装,所述托板工作台顶部设有移动槽,所述托板工作台内部纵向设有第一直线移动机构,所述第一直线移动机构下方横向设有第二直线移动机构,所述移动槽内设有限位夹板,所述限位夹板分别与第一直线移动机构、第二直线移动机构连接;本实用新型专利技术通过在托板工作台内部设置第一直线移动机构和第二直线移动机构驱动限位夹板,能够使得限位夹板在移动槽内进行移动,进而实现对不同直径大小的长径法兰对接接头和单个管箱进行限位夹持。单个管箱进行限位夹持。单个管箱进行限位夹持。

【技术实现步骤摘要】
一种无损检测曝光工件支架


[0001]本技术涉及无损检测
,尤其涉及一种无损检测曝光工件支架。

技术介绍

[0002]射线探伤机是利用X射线穿透物质和在物质中有衰减的特性来发现其中缺陷的方法,可以检查金属与非金属材料及其制品的内部缺陷,例如焊缝中的气孔、夹渣。未焊透等体积性缺陷。
[0003]无损检测因具有被测物体无损伤、检测精度高和检测方便等优点而得到广泛推广。在进行≤DN500mm长径法兰的对接接头和单个管箱环缝探伤无损检测过程中,需要对探伤工件进行支撑固定,并且根据检测需求进行位置移动和高度调整。现有的无损检测曝光工件支架在进行使用时,缺少对工件的限位机构,工件仅仅置于支架工作台上,在进行位置移动和高度调整过程中,工件易发生偏移,导致影响无损检测进程。因此,本技术提出一种无损检测曝光工件支架,以解决现有技术中的不足之处。

技术实现思路

[0004]针对上述问题,本技术的目的在于提供一种无损检测曝光工件支架,通过在托板工作台内部设置第一直线移动机构和第二直线移动机构驱动限位夹板,能够使得限位夹板在移动槽内进行移动,进而实现对不同直径大小的长径法兰对接接头和单个管箱进行限位夹持。
[0005]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:
[0006]一种无损检测曝光工件支架,包括底座和托板工作台,所述底座底部四角处设有万向轮,所述万向轮上设有制动片,所述底座上方设有升降机构,所述升降机构上方设有托板工作台,所述托板工作台下方设有支撑台,所述支撑台内部转动安装有转轴,所述托板工作台底部与转轴顶部安装,所述支撑台底部与升降机构安装,所述托板工作台顶部设有移动槽,所述移动槽呈环形阵列设有四组,所述托板工作台内部纵向设有第一直线移动机构,所述第一直线移动机构下方横向设有第二直线移动机构,所述移动槽内设有限位夹板,所述限位夹板分别与第一直线移动机构、第二直线移动机构连接。
[0007]进一步改进在于:所述升降机构包括外壳、移动柱和驱动机构,所述底座上方设有外壳,所述外壳内部设有移动柱,所述移动柱与外壳内壁滑动连接,所述移动柱顶部贯穿出外壳并与支撑台底部连接,所述外壳内部设有驱动机构,所述移动柱与驱动机构连接。
[0008]进一步改进在于:所述驱动机构包括齿轮、齿条和摇柄,所述外壳内部上方一侧通过安装轴设有齿轮,所述移动柱侧壁上设有与齿轮啮合的齿条,所述安装轴一端延伸出外壳侧壁并设有摇柄。
[0009]进一步改进在于:所述支撑台侧壁上设有L型连杆,所述连杆上端一侧设有指针,所述托板工作台顶部边缘处设有刻度线,所述指针指向所述刻度线。
[0010]进一步改进在于:所述第一直线移动机构、第二直线移动机构结构相同,均包括伺
服电机、双向丝杆和滑块,所述托板工作台内部转动安装有双向丝杆,所述双向丝杆通过伺服电机驱动,所述双向丝杆上对称螺纹连接有滑块,所述滑块侧壁与移动槽滑动连接,所述滑块顶部与限位夹板底部连接。
[0011]进一步改进在于:所述托板工作台底部与支撑台顶部滑动连接,所述托板工作台侧壁上设有把手
[0012]本技术的有益效果为:本技术通过在托板工作台内部设置第一直线移动机构和第二直线移动机构驱动限位夹板,能够使得限位夹板在移动槽内进行移动,进而实现对不同直径大小的长径法兰对接接头和单个管箱进行限位夹持,可以避免在进行位置移动和高度调整过程中长径法兰对接接头和单个管箱在托板工作台发生移动而影响无损检测进程;本技术的无损检测曝光工件支架通过设置的升降机构能够实现对托板工作台的高度进行调节,通过设置转轴可以实现托板工作台的角度转动,通过设置万向轮能够使得整个无损检测曝光工件支架进行灵活移动。
附图说明
[0013]图1为本技术结构主视示意图;
[0014]图2为本技术限位夹板安装结构俯视示意图;
[0015]图3为本技术第一直线移动机构、第二直线移动机构结构俯视示意图。
[0016]其中:1、底座;2、托板工作台;3、万向轮;4、升降机构;401、外壳;402、移动柱;403、齿轮;404、齿条;405、摇柄;5、支撑台;6、转轴;7、移动槽;8、第一直线移动机构;9、第二直线移动机构;10、限位夹板;11、L型连杆;12、指针;13、刻度线;14、伺服电机;15、双向丝杆;16、滑块;17、把手。
具体实施方式
[0017]为了加深对本技术的理解,下面将结合实施例对本技术做进一步详述,本实施例仅用于解释本技术,并不构成对本技术保护范围的限定。
[0018]实施例一
[0019]根据图1

3所示,本实施例提出一种无损检测曝光工件支架,包括底座1和托板工作台2,所述底座1底部四角处设有万向轮3,所述万向轮3上设有制动片,所述底座1上方设有升降机构4,所述升降机构4上方设有托板工作台2,所述托板工作台2下方设有支撑台5,所述支撑台5内部转动安装有转轴6,所述托板工作台2底部与转轴6顶部安装,所述支撑台5底部与升降机构4安装,所述托板工作台2顶部设有移动槽7,所述移动槽7呈环形阵列设有四组,所述托板工作台2内部纵向设有第一直线移动机构8,所述第一直线移动机构8下方横向设有第二直线移动机构9,所述移动槽7内设有限位夹板10,所述限位夹板10分别与第一直线移动机构8、第二直线移动机构9连接。
[0020]使用本技术的无损检测曝光工件支架时,工件(长径法兰对接接头或单个管箱)置于托板工作台2上,然后启动第一直线移动机构8、第二直线移动机构9带动限位夹板10向工件侧壁移动,直至限位夹板10与工件接触对其进行限位固定,使用过程中,当需要工件进行位置调节,通过转动托板工作台2即可实现,当需要调整托板工作台2的高度时通过利用升降机构4进行高度调节。
[0021]所述升降机构4包括外壳401、移动柱402和驱动机构,所述底座1上方设有外壳401,所述外壳401内部设有移动柱402,所述移动柱402与外壳401内壁滑动连接,所述移动柱402顶部贯穿出外壳401并与支撑台5底部连接,所述外壳401内部设有驱动机构,所述移动柱402与驱动机构连接,所述驱动机构包括齿轮403、齿条404和摇柄405,所述外壳401内部上方一侧通过安装轴设有齿轮403,所述移动柱402侧壁上设有与齿轮403啮合的齿条404,所述安装轴一端延伸出外壳401侧壁并设有摇柄405。升降机构4调整托板工作台2高度的具体过程为:摇动摇柄405带动安装轴上的齿轮403转动,进而带动与之啮合的齿条404进行移动,进而带动移动柱402在外壳401内部移动。
[0022]所述第一直线移动机构8、第二直线移动机构9结构相同,均包括伺服电机14、双向丝杆15和滑块16,所述托板工作台2内部转动安装有双向丝杆15,所述双向丝杆15通过伺服电机14驱动,所述双向丝杆15上对称螺纹连接有滑块16,所述滑块16侧壁与移动槽7滑动连接,所述滑块16顶部与限位夹板10本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种无损检测曝光工件支架,其特征在于:包括底座(1)和托板工作台(2),所述底座(1)底部四角处设有万向轮(3),所述万向轮(3)上设有制动片,所述底座(1)上方设有升降机构(4),所述升降机构(4)上方设有托板工作台(2),所述托板工作台(2)下方设有支撑台(5),所述支撑台(5)内部转动安装有转轴(6),所述托板工作台(2)底部与转轴(6)顶部安装,所述支撑台(5)底部与升降机构(4)安装,所述托板工作台(2)顶部设有移动槽(7),所述移动槽(7)呈环形阵列设有四组,所述托板工作台(2)内部纵向设有第一直线移动机构(8),所述第一直线移动机构(8)下方横向设有第二直线移动机构(9),所述移动槽(7)内设有限位夹板(10),所述限位夹板(10)分别与第一直线移动机构(8)、第二直线移动机构(9)连接。2.根据权利要求1所述的一种无损检测曝光工件支架,其特征在于:所述升降机构(4)包括外壳(401)、移动柱(402)和驱动机构,所述底座(1)上方设有外壳(401),所述外壳(401)内部设有移动柱(402),所述移动柱(402)与外壳(401)内壁滑动连接,所述移动柱(402)顶部贯穿出外壳(401)并与支撑台(5)底部连接,所述外壳(401)内部设有驱动机构,所述移动柱(402)与驱动机构连接。3.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:寇元龙王东方
申请(专利权)人:辽宁远大换热装备集团有限公司
类型:新型
国别省市:

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