一种超声声压接收率的测量方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及超声声场测量技术领域，公开了一种超声声压接收率的测量方法及装置，方法包括：获取与预设声束扩散角度及预设声程对应的平底孔底面所反射回波的第一回波波高值、设置超声接收探头的平底孔底面所反射回波的第二回波波高值及超声接收探头所接收纵波波高值，根据波高值之差计算接触界面的透射波高值，同时计算接触界面的声压透射率，进而计算平底孔处辐射声程的实际波高值，并根据实际波高值与接收纵波波高值计算此处的超声声压接收率。本发明专利技术通过超声波高值代替超声声压计算超声接收探头的声压接收率，对超声接收探头直接测得的超声声压进行修正，能够获取超声纵波在特定声程和特定扩散角处辐射声场真实声压值，提高超声声压的测量精度。超声声压的测量精度。超声声压的测量精度。

【技术实现步骤摘要】
一种超声声压接收率的测量方法及装置


[0001]本专利技术涉及超声声场测量
，具体涉及一种超声声压接收率的测量方法及装置。

技术介绍

[0002]在超声声场的声压测量中，现有技术采用一系列不同直径的半圆柱试块，通过将超声纵波探头耦合在试块大平面中心，同时在试块圆柱面设置接收探头及装置，并使得接收探头沿着圆柱面旋转，从而测出不同超声纵波探头声场扩散角度和传播距离处的超声声场的声压分布。
[0003]然而，接收探头获得的超声声场的声压值，是会受到试块/超声接收探头界面的透射率、超声接收探头晶片声压转化率等因素的影响，超声接收探头测得的声压并不是此时超声纵波探头在此位置处的辐射声压，因此导致超声声压测量不准确。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术提供了一种超声声压接收率的测量方法及装置，以解决超声声压测量不准确的问题。
[0005]第一方面，本专利技术提供了一种超声声压接收率的测量方法，方法包括：
[0006]通过超声检测仪激发超声纵波探头将超声纵波发射至半圆柱试块的圆柱面，并获取与预设声束扩本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种超声声压接收率的测量方法，其特征在于，所述方法包括：通过超声检测仪激发超声纵波探头将超声纵波发射至半圆柱试块的圆柱面，并获取与预设声束扩散角度及预设声程对应的平底孔底面所反射回波的第一回波波高值；通过超声检测仪激发超声纵波探头将超声纵波发射至半圆柱试块的圆柱面，并获取与预设声束扩散角度及预设声程对应的，且设置有超声接收探头的平底孔底面所反射回波的第二回波波高值，并获取所述超声接收探头的接收纵波波高值；根据所述第一回波波高值及第二回波波高值之差获得所述半圆柱试块的平底孔与所述超声接收探头接触界面的透射波高值，同时计算所述接触界面的声压透射率；根据所述透射波高值及声压透射率计算所述平底孔处辐射声场的实际波高值，并根据所述实际波高值及所述超声接收探头的接收纵波波高值计算所述平底孔处的超声声压接收率。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设声束扩散角度，表征所述平底孔底面中心和所述超声纵波探头中心的连线，与所述超声纵波探头的主声束轴线的夹角；所述预设声程，表征所述半圆柱试块的圆柱面半径与所述平底孔的深度之差。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一回波波高值、第二回波波高值及超声接收探头的接收纵波波高值设置为在相同增益下获取。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述接触界面的声压透射率的计算过程，包括：获取所述半圆柱试块的声阻抗及所述超声接收探头保护膜的声阻抗；根据两种阻抗计算所述半圆柱试块与所述超声接收探头接触界面的声压透射率，计算公式如下所示：其中，T为声压透射率，Z1为所述半圆柱试块的声阻抗，Z2为所述超声接收探头保护膜的声阻抗。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述平底孔处辐射声场的实际波高值的计算公式为：其中，H
real
为实际波高值，ΔH＝H
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‑
H
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【专利技术属性】
技术研发人员：肖俊峰，张炯，李永君，高斯峰，唐文书，南晴，马伟，刘全明，徐小卜，
申请(专利权)人：西安热工研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：