影响因素识别方法、装置、计算机设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种影响因素识别方法、装置、计算机设备及存储介质，影响因素识别方法包括：获取多个样品，并将多个样品随机分成预设等份的多组样品；随机取至少两组样品，并使用量测机台以预设周期进行错位测量，得到至少两组样品的测量数据，其中，至少两组样品在同一测量时间时，测量次数互不相同；对至少两组样品的测量数据进行分组统计分析；判断至少两组样品的测量结果是否呈现规律性变化，以确定测试结果的影响因素。本申请控制量测机台的测量样品的测量时间，设置至少两组样品的测量时间和测量次序错位不重叠方式，使得至少两组样品的影响因素分别显现，从而快速高效地判断出测试结果问题根源问题。测试结果问题根源问题。测试结果问题根源问题。

【技术实现步骤摘要】
影响因素识别方法、装置、计算机设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及测试数据分析领域，尤其涉及一种影响因素识别方法、装置、计算机设备及存储介质。

技术介绍

[0002]产品在生产加工封装完成之后，在量测机台测试后呈现出根据时间或外界环境参数逐渐偏离的特性表现。因量测机台和产品样本都是随时间和测量次数进行变化的因素，所以单纯固定不变的连续采样方式无法区分出量测机台或产品样本本身的影响因素。

技术实现思路

[0003]基于此，有必要针对上述
技术介绍
中的问题，提供一种影响因素识别方法、装置、计算机设备及存储介质，通过控制量测机台测试时间与不同组样品的测量次序错位的方式，并结合分组统计分析方法，根据不同组样品的测量结果，从而判定产品测量结果的影响因素。
[0004]为解决上述技术问题，本申请的第一方面提出一种影响因素识别方法，包括：
[0005]获取多个样品，并将多个所述样品随机分成预设等份的多组样品；
[0006]随机取至少两组样品，并使用量测机台以预设周期进行错位测量，得到至少两组样品的测量数据，所述测量数据包括测量结果、测量次数和测量时间，其中，任意两组样品在同一测量时间时，测量次数互不相同；
[0007]对至少两组样品的测量数据进行分组统计分析；
[0008]判断至少两组样品的测量结果是否呈现规律性变化，以确定测试结果的影响因素。
[0009]在其中一个实施例中，所述判断至少两组样品的测量结果是否呈现规律性变化，以确定测试结果的影响因素，包括：/>[0010]若在至少两组样品的测试次数相同时，至少两组样品的测量结果均随测试时间呈现规律性变化，则判定测量结果的影响因素为量测机台；
[0011]若在至少两组样品的测试时间相同时，至少两组样品的测量结果均随测试次数呈现规律性变化，则判定测量结果的影响因素为样品本身。
[0012]在其中一个实施例中，所述对至少两组样品的测量数据进行分组统计分析，包括：
[0013]统计至少两组样品的测量数据，汇总得到分布变化图；所述分布变化图包括箱状图或散点图；
[0014]根据所述分布变化图分别以测量次数和测量时间进行分组分析。
[0015]在其中一个实施例中，所述测量数据还包括样品ID，各所述样品均具有对应的样品ID。
[0016]本申请的第二方面提出一种影响因素识别装置，包括：
[0017]多组样品获取模块，用于获取多个样品，并将多个所述样品随机分成预设等份的
多组样品；
[0018]测量模块，用于随机取至少两组样品，并使用量测机台以预设周期进行错位测量，得到至少两组样品的测量数据，所述测量数据包括测量结果、测量次数和测量时间，其中，任意两组样品在同一测量时间时，测量次数互不相同；
[0019]分组统计分析模块，用于对至少两组样品的测量数据进行分组统计分析；
[0020]判定模块，用于判断至少两组样品的测量结果是否呈现规律性变化，以确定测试结果的影响因素。
[0021]本申请的第三方面提出一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的方法的步骤。
[0022]本申请的第四方面提出一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。
[0023]于上述实施例中提供的影响因素识别方法、装置、计算设备及存储介质中，将多个样品随机分成预设等份的多组样品，随机取至少两组样品，并使用量测机台以预设周期进行错位测量，得到至少两组样品的测量数据，且任意两组样品在同一测量时间时，任意两组样品的测量次数互不相同；将上述至少两组样品的测量数据进行分组统计分析，判断至少两组样品的测量结果是否呈现规律性变化，从而确定至少两组样品测试结果的影响因素。本申请控制量测机台的测量样品的测量时间，设置至少两组样品的测量时间和测量次序错位不重叠方式，使得至少两组样品的影响因素分别显现，从而快速高效地判断出测试结果问题的根源。
[0024]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本专利技术的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他实施例的附图。
[0026]图1为本申请一实施例中提供的一种影响因素识别方法的流程示意图；
[0027]图2为本申请一实施例中提供的一种影响因素识别方法的部分流程示意图；
[0028]图3为本申请另一实施例中提供的一种影响因素识别方法的部分流程示意图；
[0029]图4为本申请一实施例中提供的测量次数和测量时间的趋势图；
[0030]图5为本申请一实施例中提供的一种影响因素识别装置的结构示意图；
[0031]图6为本申请一实施例中提供的一种计算机设备的结构示意图。
[0032]附图标记说明：100
‑
影响因素识别装置；10
‑
多组样品获取模块，20
‑
测量模块；30
‑
分组统计分析模块；40
‑
判定模块。
具体实施方式
[0033]为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的较佳的实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文
所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本申请的公开内容的理解更加透彻全面。
[0034]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0035]在使用本文中描述的“包括”、“具有”、和“包含”的情况下，除非使用了明确的限定用语，例如“仅”、“由
……
组成”等，否则还可以添加另一部件。除非相反地提及，否则单数形式的术语可以包括复数形式，并不能理解为其数量为一个。
[0036]应当理解，尽管本文可以使用术语“第一”、“第二”等来描述各种元件，但是这些元件不应受这些术语的限制。这些术语仅用于将一个元件和另一个元件区分开。例如，在不脱离本申请的范围的情况下，第一元件可以被称为第二元件，并且类似地，第二元件可以被称为第一元件。
[0037]在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”等术语应做广义理解，例如，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种影响因素识别方法，其特征在于，包括：获取多个样品，并将多个所述样品随机分成预设等份的多组样品；随机取至少两组样品，并使用量测机台以预设周期进行错位测量，得到至少两组样品的测量数据，所述测量数据包括测量结果、测量次数和测量时间，其中，任意两组样品在同一测量时间时，测量次数互不相同；对至少两组样品的测量数据进行分组统计分析；判断至少两组样品的测量结果是否呈现规律性变化，以确定测试结果的影响因素。2.根据权利要求1所述的影响因素识别方法，其特征在于，所述判断至少两组样品的测量结果是否呈现规律性变化，以确定测试结果的影响因素，包括：若在至少两组样品的测试次数相同时，至少两组样品的测量结果均随测试时间呈现规律性变化，则判定测量结果的影响因素为量测机台；若在至少两组样品的测试时间相同时，至少两组样品的测量结果均随测试次数呈现规律性变化，则判定测量结果的影响因素为样品本身。3.根据权利要求1或2所述的影响因素识别方法，其特征在于，所述对至少两组样品的测量数据进行分组统计分析，包括：统计至少两组样品的测量数据，汇总得到分布变化图；所述分布变化图包括箱状图...

【专利技术属性】
技术研发人员：王丽高，庞海舟，潘建峰，
申请(专利权)人：上海矽睿科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：