基于扫描的电压频率调节制造技术

本发明专利技术公开一种用于基于扫描的电压频率调节的实例方法，所述方法可包含以多个相应电压值对单片系统SoC执行多个高速扫描操作。所述实例方法可包含将从所述多个高速扫描操作中的至少一个收集的数据输入到数据库中。所述输入数据与所述相应多个电压值相关联。所述实例方法可包含确定所述相应多个电压值中的所述SoC的参数达到阈值时的特定电压值。所述实例方法可包含指示所述数据库中的所述所确定特定电压。所述数据库中的所述指示的所确定特定电压可用于使用所述SoC来执行一或多个操作。作。作。

【技术实现步骤摘要】
基于扫描的电压频率调节


[0001]本公开的实施例大体来说涉及存储器子系统，且更具体来说，涉及基于扫描的电压频率调节。

技术介绍

[0002]存储器系统可包含数字逻辑及相关联电源、电压控制以及时钟控制。一般来说，电源、电压控制及/或时钟控制可在数字逻辑操作期间改变电压或频率。

技术实现思路

[0003]在一个方面中，本公开提供一种用于电压频率调节的方法，其包括：以相应多个电压值对单片系统(SoC)执行多个高速扫描操作；致使将从所述多个高速扫描操作中的每一个收集的数据输入到数据库中，其中所述所输入数据与所述多个电压值相关联；确定所述相应多个电压值中的所述SoC的参数达到阈值时的特定电压值；及指示所述数据库中的所述所确定特定电压用于使用所述SoC来执行一或多个操作。
[0004]在另一方面中，本公开提供一种用于电压频率调节的方法，其包括：以相应多个频率值对单片系统(SoC)执行多个高速扫描操作；致使将从所述多个高速扫描操作收集的数据输入到数据库中，其中所述所输入数据与所述多个频率值相关联；确定所述多个频率值中的所述SoC的参数达到阈值时的特定频率值；及指示所述数据库中的所述所确定特定频率值用于使用所述SoC来执行一或多个操作。
[0005]在另一方面中，本公开提供一种用于电压频率调节的设备，其包括：扫描控制器；可编程组件，其耦合到所述扫描控制器，其中所述可编程组件包括数据库；其中所述扫描控制器经配置以：以相应多个电压值且以相应多个频率值对单片系统(SoC)执行多个高速扫描操作；致使将在所述相应多个电压值下且在所述相应多个频率下执行所述多个高速扫描操作中的至少一个相关联的数据输入到所述数据库；确定所述SoC的参数达到阈值时的所述相应多个电压值中的特定电压值或所述相应多个频率值中的特定频率值；及指示所述数据库中的所述所确定特定电压值或所述特定频率值用于使用所述SoC来执行一或多个操作。
附图说明
[0006]从下文给出的详细描述及从本公开的各种实施例的附图将更全面理解本公开。
[0007]图1说明根据本公开的一些实施例的用于基于扫描的电压频率调节的实例系统。
[0008]图2说明根据本公开的一些实施例的用于基于扫描的电压频率调节的实例系统。
[0009]图3说明根据本公开的一些实施例的用于调整基于扫描的电压频率调节的电压值的实例方法。
[0010]图4说明根据本公开的一些实施例的用于调整基于扫描的电压频率调节的频率值的实例方法。
[0011]图5说明根据本公开的一些实施例的与调整基于扫描的电压频率调节的电压值及/或频率值相关联的实例方法。
具体实施方式
[0012]本公开的方面是针对基于扫描的电压频率调节。电压及频率调节(VFS)可用于使系统功耗与所要性能匹配。可监测与系统(例如，计算系统)相关联的工作负荷以确定电压及时钟速度的设置并可适当地配置系统的硬件。动态电压及频率调节(DVFS)是旨在通过动态地调整系统的电压及频率来减少系统之动态功耗。此可利用系统通常具有离散频率及电压设置的事实。用以增加电压的动态电压调节可被称为过压，而用以降低电压的动态电压调节可被称为欠压。可执行欠压以便特定来说在膝上型计算机及其它移动装置中节省功率，其中能量来自电池，且因此受到限制，或在极少数状况下增加可靠性。可执行过压以便支持更高的性能频率。术语“过压”也可用来指增加存储器组件的静电操作电压，以允许以更高速度操作(例如，同时超频)。
[0013]可基于在AC(或全速)扫描期间收集的电压及频率数据(在经监测的情况下，除了其它参数之外)，可动态地调整施加至本文中所描述的系统的各种组件的电压及频率。AC扫描的电压及频率数据可收集系统的大部分的实时数据并提供更准确的实时方法来调整电压及频率以进行调节。因此，电压频率调节可在依赖于系统的电压、频率及温度的瞬时(或近瞬时)改变的系统(例如，专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)、自动电源管理系统等)中提供优势，其中每一参数可影响其它参数中的一个。
[0014]另外，电压及频率可影响系统中的数据的误差率。例如，降低系统的电压及/或增加系统的频率可增加误差。反之亦然，增加电压及/或降低频率可降低，或最小化系统中数据的误差率。以此方式，使用AC扫描的实时数据来确定电压及频率与误差率的相关性可提供更准确且全面的方法来理解参数对误差率的影响。下文结合图1等描述电压频率调节的实例及可用于促进本公开的实施例的组件。
[0015]在一些先前方法，基于过程的电压频率调节方法可基于对电压及频率的理论模拟且基于这些理论模拟的数据可存储在查找表中。然而，这些先前方法通常由于数据基于模拟而非基于实时数据而受较大误差界限限制。此外，误差界限的准确性甚至可不能够在此类方法中计算或得知。此外，在一些先前方法中，基于监测器的电压频率调节可使用涉及功率控制器的反馈环，所述功率控制器可基于功率
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电压
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温度(PVT)特性来指示装置实际上正运行的快或慢程度。然而，这些及其它此类基于监测器的方法通常连接到有限数目个胞元，且可不表示系统的足够大部分是准确及/或有益。
[0016]与这些先前方法形成对比，如本文中所描述的方法及系统试图通过使用AC扫描(例如，全速扫描)来获得系统(例如，存储器芯片)的更准确及实时简档来解决先前方法的缺陷及避免此类问题。从多个全速(AC)扫描操作收集的信息可用于在数据库(例如，表)中填入电压、频率、温度及/或可与误差率及/或误差数量数据相关的其它数据以增大或减小系统的电压或频率中的每一个。
[0017]图1说明根据本公开的一些实施例的用于基于扫描的电压频率调节的实例系统101。系统101可包含自动测试设备(ATE)组件120及单片系统(SoC)110。组件，例如本文中所描述的ATE组件120，可包含各种电路系统，以促进与组件相关联的操作，例如，测试SoC(例
如SoC 110)的部分。例如，ATE组件120可包含专用电路系统，所述专用电路系统呈ASIC、FPGA、状态机及/或可允许ATE组件120测试SoC 110的其它组件及/或参数的其它逻辑电路系统或软件及/或固件的形式。作为实例，ATE组件120可为简单的计算机控制数字多用表，或含有数十个或更多的复杂测试仪器(真实或模拟电子测试设备)的复杂系统，所述复杂系统能够自动测试及诊断复杂电子封装部件或晶片测试时的故障，包含单片系统及/或集成电路。
[0018]此外，SoC 110可为专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)等。SoC 110包含设计单元122及电源管理控制器124。电源管理控制器124可使用一次性可编程(OTP)存储器116、温度传感器118，及任何其它可用输入来应用动态电压频率调节(DVFS)操作，如下文将描述。设计单元122包含电路系统，其可包含一或多个核心(例如，“知识产权(IP)核心”)。如本文中所使用，“核心”或“IP核心”通常是指一或多个数据及/或逻辑块本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电压频率调节的方法，其包括：以相应多个电压值对单片系统SoC(110、210)执行多个高速扫描操作；致使将从所述多个高速扫描操作中的每一个收集的数据输入到数据库(132、232)中，其中所述所输入数据与所述多个电压值相关联；确定所述相应多个电压值中的所述SoC的参数达到阈值时的特定电压值；及指示所述数据库中的所述所确定特定电压用于使用所述SoC来执行一或多个操作。2.根据权利要求1所述的方法，其中使用所述多个高速扫描操作中的每一个来捕获升高频率值或降低电压值下的时序误差。3.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括监测所述SoC的温度且使所述温度与所述特定电压值相关。4.根据权利要求1所述的方法，其中在所述SoC的启动操作期间执行所述多个高速扫描操作中的至少一个。5.根据权利要求1所述的方法，其中：所述参数是与所述SoC相关联的总误差计数；及所述阈值为在其下特定数量的误差正在发生或经确定以特定概率发生的阈值频率值。6.根据权利要求1所述的方法，其中频率值在以所述多个电压值执行所述多个高速扫描操作中的至少一个时保持恒定。7.根据权利要求1所述的方法，其进一步包括：基于从所述多个高速扫描操作中的至少一个收集的所述输入数据而收集图形；及使用所述图形来确定所述特定电压值。8.一种用于电压频率调节的方法，其包括：以相应多个频率值对单片系统SoC(110、210)执行多个高速扫描操作；致使将从所述多个高速扫描操作收集的数据输入到数据库(132、232)中，其中所述所输入数据与所述多个频率值相关联；确定所述多个频率值中的所述SoC的参数达到阈值时的特定频率值；及指示所述数据库中的所述所确定特定频率值用于使用所述SoC来执行一或多个操作。9.根据权利要求8所述的方法，其中使用对所述SoC执行的所述多个高速扫描操作中的至少一个来确定高速故障。10.根据权利要求8所述的方法，其中：所述参数是与所述SoC相关联的总误差计数；及所述阈值为在其下特定数量的误差正在发生或经确定以特定概率发生的阈值电...

【专利技术属性】
技术研发人员：L，
申请(专利权)人：美光科技公司，
类型：发明
国别省市：