【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光拾取装置以及光盘装置。
技术介绍
作为本
的
技术介绍
例如有特开2006-344344号公报(专利 文献1)。该公报中有如下记载"从具有多个记录层的光盘获取所要的 信号"。此外,例如也有特开2006-344380号公报(专利文献2)。该公 报中有如下记载"在使用具有两个信息记录面的可记录式光存储介质 的情况下,检测出偏移少的跟踪误差信号"。此外,例如非专利文献1 中有如下记载"在没有其它层杂光的区域中配置跟踪用光电探测器", 关于其构造也被记载在特开2004-281026中(专利文献3)。专利文献1日本特开2006-344344号公报(第26页,图3、图5) 专利文献2日本特开2006-344380号公报(第14页,图1) 专利文献3日本特开2004-281026 (第71页,图22、图24、图25)非专利文献1日本电子信息通信学会信学技报CPM2005-149 (2005-10)(第33页,图4、图5)
技术实现思路
在专利文献1中,采用以下这种构造利用聚光透镜聚集被光盘反射的光束,利用聚光透镜聚集透过2片1/4波长板和偏振光学元件后扩散 ...
【技术保护点】
一种光拾取装置,具备:射出激光的半导体激光器、将从所述半导体激光器射出的光束照射在光盘上的物镜、将从光盘反射的光束分支的衍射光栅、以及具有接受被所述衍射光栅分支的光束的多个受光面的光电探测器,其特征在于, 所述衍射光栅具有区域A、区域B、 区域C三个区域, 在被所述光盘上的轨道衍射的光盘衍射光中,0级光盘衍射光入射到所述区域A中,0级、±1级光盘衍射光入射到所述区域B中,在所述光电探测器中,从在所述衍射区域A、B、C中衍射的光栅衍射光中检测再现信号, 并且,检测所述衍射光 栅区域A的+1级光栅衍射光或者-1级光栅衍射光的2个以上的受光面在与所述光盘的半径方向基本一致 ...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:山崎和良,北田保夫,
申请(专利权)人:日立视听媒介电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:JP[日本]
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