一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具制造技术

本实用新型专利技术涉及辅助制样用具技术领域，具体为一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，包括固定连接在承接板上表面一侧可限位的支撑架组件，承接板上表面远离支撑架组件的一侧固定连接有可限位的立柱组件，承接板的下表面固定连接有可防滑的防滑圆板，承接板上表面的中部卡接有可拆卸的放置圆板，承接板的内底壁固定连接有可减震的海绵垫。该用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，通过支撑架组件、立柱组件、放置圆板和调节组件之间的配合设置，工作人员可以将需要测试的金属粉末放置在放置板的上表面，通过调节组件和支撑组件之间的可以使工作人员对测试前期的准备更加的充分，便于工作人员操作使用。便于工作人员操作使用。便于工作人员操作使用。

【技术实现步骤摘要】
一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具


[0001]本技术涉及辅助制样用具
，具体为一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具。

技术介绍

[0002]扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段，其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的，新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调；并且景深大，视野大，成像立体效果好，此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析，扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用，因此扫描电子显微镜在科学研究领域具有重大作用，工作人员在对金属粉末进行测试的时候，操作使用不便，并且各部分之间的协作能力较弱，工作人员对金属粉末测试的效率较低。
[0003]中国专利公告号CN204214709U，公开了一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，包括金属柱，在金属柱上部设有圆台形孔，圆台形孔上面为进样口，圆台形孔下面为出样口，使用此工具将样品转移到电子扫描显微镜样品台上，可使样品落在较小的范围内，方便通过电子扫描显微镜观察样品的形貌和数量，该结构有效的针对样品观测范围方面做出了优化，但是针对金属粉末前期测试辅助方面并未提出创新，使工作人员操作使用不便，并且各部分之间的协作能力较弱，工作人员对金属粉末测试的效率较低。
[0004]鉴于以上，提出一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具来解决以上问题，便于工作人员操作使用，并且各部分之间的协作能力较强，提高了工作人员对金属粉末测试的效率，使金属粉末的测试更加的方便快捷

技术实现思路

[0005](一)解决的技术问题
[0006]为了克服现有技术的上述缺陷，本技术提供了一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，解决了工作人员在对金属粉末进行测试的时候，操作使用不便，并且各部分之间的协作能力较弱，工作人员对金属粉末测试的效率较低的问题。
[0007](二)技术方案
[0008]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，包括固定连接在承接板上表面一侧可限位的支撑架组件，所述承接板上表面远离所述支撑架组件的一侧固定连接有可限位的立柱组件，所述承接板的下表面固定连接有可防滑的防滑圆板，所述承接板上表面的中部卡接有可拆卸的放置圆板，所述承接板的内底壁固定连接有可减震的海绵垫，所述支撑架组件的一侧卡接有可调节的调节组件。
[0009]可选的，所述支撑架组件包括支柱、伸缩柱和抵紧板，所述伸缩柱的底端插接在所述支柱的内壁，所述抵紧板卡接在所述伸缩柱的顶端，所述支柱外表面的顶部设置有卡紧螺栓，所述卡紧螺栓贯穿所述支柱的一端螺纹穿设在所述伸缩柱。
[0010]可选的，所述调节组件包括复位弹簧、卡钮、转环、气囊球和延伸板，所述气囊球的一端卡接在所述转环的内壁，所述复位弹簧固定连接在所述延伸板的内壁，所述卡钮固定连接在所述复位弹簧远离所述延伸板的一端，所述转环卡接在所述延伸板的一侧，所述延伸板卡接在所述抵紧板的内壁。
[0011]可选的，所述立柱组件包括立柱、卡紧板、横柱、固定板和胶带，所述胶带的内侧壁缠绕连接在所述固定板的外表面，所述横柱的一端固定连接在所述卡紧板内侧壁的中部。
[0012]可选的，所述固定板套接在所述横柱的外表面，所述卡紧板的一侧通过螺栓连接有可拆卸的T型板，所述T型板的一侧固定连接有可切割的刀片，所述刀片位于所述胶带的一侧。
[0013]可选的，所述转环的一侧设置有可拆卸的紧固螺栓，所述紧固螺栓贯穿所述转环的一端螺纹穿设在所述气囊球的一端，所述气囊球的一端贯通设置有可出气的出气管。
[0014]可选的，所述防滑圆板的数量为四个，四个所述防滑圆板呈矩形阵列的形式设置在所述承接板的下表面。
[0015](三)有益效果
[0016]本技术提供了一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，具备以下有益效果：
[0017]该用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，通过支撑架组件、立柱组件、放置圆板和调节组件之间的配合设置，工作人员可以将需要测试的金属粉末放置在放置板的上表面，通过调节组件和支撑组件之间的可以使工作人员对测试前期的准备更加的充分，便于工作人员操作使用，并且各部分之间的协作能力较强，提高了工作人员对金属粉末测试的效率，使金属粉末的测试更加的方便快捷。
附图说明
[0018]图1为本技术爆炸结构示意图；
[0019]图2为本技术结构示意图；
[0020]图3为本技术立柱组件结构示意图；
[0021]图4为本技术调节组件结构示意图。
[0022]图中：1、承接板；2、支撑架组件；201、支柱；202、伸缩柱；203、抵紧板；3、立柱组件；301、立柱；302、卡紧板；303、横柱；304、固定板；305、胶带；4、防滑圆板；5、放置圆板；6、海绵垫；7、调节组件；701、复位弹簧；702、卡钮；703、转环；704、气囊球；705、延伸板；8、T型板；9、刀片。
具体实施方式
[0023]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0024]请参阅图1，放置圆板5的侧面固定连接有可防滑的防滑垫，防滑垫卡接在承接板1的内壁，海绵垫6的上表面抵紧在放置圆板5的下表面，可以对放置圆板5进行保护，放置圆板5的上表面固定连接有多个圆形观察板，观察圆板可以对金属粉末进行放置；
[0025]请参阅图1，当工作人员需要使用支撑架组件2进行使用的时候，可以对伸缩柱202的高度进行改变，当工作人员需要对伸缩柱202的高度进行升高的时候，可以将伸缩柱202向上拉动，由于伸缩柱202的外表面开设有可限位的卡槽，因此工作人员通过卡紧螺栓可以将伸缩柱202的高度进行固定限位，限位作用良好；
[0026]请参阅图1，抵紧板203卡接在伸缩柱202的顶端，能够使抵紧板203在伸缩柱202的顶端进行转动，方便对抵紧板203的使用位置进行改变，便于进行多角度调节使用，由于延伸板705卡接在抵紧板203的内壁，因此当工作人员需要对延伸板705的延伸长度进行拉出时，可以按动卡钮702，卡钮702在复位弹簧701的作用下会将卡钮702卡接在抵紧板203的内壁，抵紧板203的上表面开设有可限位的圆孔，因此卡钮702会卡接在圆孔的内部，对延伸板705的延伸出长度进行限位；
[0027]请参阅图1，工作人员可以将胶带305拉出一定的长度，并且将拉出后胶带305的外表面与刀片9相互接本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，包括固定连接在承接板(1)上表面一侧可限位的支撑架组件(2)，其特征在于：所述承接板(1)上表面远离所述支撑架组件(2)的一侧固定连接有可限位的立柱组件(3)，所述承接板(1)的下表面固定连接有可防滑的防滑圆板(4)，所述承接板(1)上表面的中部卡接有可拆卸的放置圆板(5)，所述承接板(1)的内底壁固定连接有可减震的海绵垫(6)，所述支撑架组件(2)的一侧卡接有可调节的调节组件(7)。2.根据权利要求1所述的一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，其特征在于：所述支撑架组件(2)包括支柱(201)、伸缩柱(202)和抵紧板(203)，所述伸缩柱(202)的底端插接在所述支柱(201)的内壁，所述抵紧板(203)卡接在所述伸缩柱(202)的顶端，所述支柱(201)外表面的顶部设置有卡紧螺栓，所述卡紧螺栓贯穿所述支柱(201)的一端螺纹穿设在所述伸缩柱(202)。3.根据权利要求2所述的一种用于纳米级金属粉末SEM测试的辅助制样工具，其特征在于：所述调节组件(7)包括复位弹簧(701)、卡钮(702)、转环(703)、气囊球(704)和延伸板(705)，所述气囊球(704)的一端卡接在所述转环(703)的内壁，所述复位弹簧(701)固定连接在所述延伸板(705)的内壁，所述卡钮(702)固定连接在所述复位弹簧(701)远离所述延伸板...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒋志，
申请(专利权)人：上海宸观科技发展有限公司，
类型：新型
国别省市：