一种斜置荧光激发与检测光路装置制造方法及图纸

技术编号:3876062 阅读:212 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种斜置荧光激发与检测光路装置,涉及荧光激发与检测装置。装置包括样品室、激发光发生器、荧光检测装置,检测光路朝向样品室横截面边长较宽的一面,并且与该面正交,激发光光束宽度不小于覆盖显微镜物方视场的宽度,其特征在于:激发光发生器斜置于样品室的一侧,激发光发生器的激发光路与荧光检测装置的检测光路呈锐角相交于样品室横截面的中心,并满足以下条件:激发光路与检测光路交角为20~70度,倾斜角度保证激发光不直接进入荧光检测光路,并且保证激发光的反射光不进入荧光检测装置。优点是有效避免激发光透射进入、反射进入荧光信号检测装置,以及最大限度减少散射激发光进入荧光信号检测装置造成强的干扰光,大幅提高检测的信噪比;激发光束的整型和位置调校更为简单。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及荧光激发与检测装置,尤其适用于流式细胞检测技术中的荧光激发与检测光路装置。
技术介绍
目前,可检测流式细胞大小、品种以及在流体中数量的流式细胞检测技术的荧光 激发与检测装置都采用激发光照在透明样品流动室里的样品上进行荧光激发,样品室常常 采用横截面为矩形体的透明导管;若以导管内液体流向为Z轴正向,样品室矩形横截面的 长边方向的对称轴为Y轴,以Z轴、Y轴构成平面的垂直线为X轴,检测接收器光路与X轴 重合。则检测光路进行荧光信号的探测,激发光路与检测光路通常采用共轴和正交两种空 间分布形式。共轴状态下,激发光光束的宽度与样品室横截面Y轴方向宽度相当;正交状态 下,激发光光束与样品室横截面X轴方向宽度相当;以保证照在流过样品流动室里的每个 颗粒上;共轴光路系统的缺点是激发光照在样品和样品室上的反射或透射的强光信号容易直接进入或者反射进入检测光路,即使采用截止滤光片往往无法完全截止这种强光,这会 对荧光信号造成较强的干扰,大大降低检测信号的信噪比,不利于荧光信号的检测。激发光 路与检测光路正交分布的光路系统虽然克服了共轴光路结构的这个缺点,但是,为了获取 最强的莹光信号样品室本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种斜置荧光激发与检测光路装置,包括样品室(3)、激发光发生器(1)、荧光检测装置(12),检测光路朝向样品室(3)横截面边长较宽的一面,并且与该面正交,激发光光束宽度不小于覆盖显微镜物方视场的宽度,其特征在于:激发光发生器(1)斜置于样品室(3)的一侧,激发光发生器(1)的激发光路与荧光检测装置(12)的检测光路呈锐角相交于样品室(3)横截面的中心,并满足以下条件:激发光路与检测光路倾斜角为20°~70°间的任意角度,这一倾斜角度应该保证激发光不直接进入荧光检测光路,并且保证激发光的反射光不进入荧光检测装置(12)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王敏梁秀玲张万祯卓金寨
申请(专利权)人:福建师范大学
类型:发明
国别省市:35[中国|福建]

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