一种芯片测试数据的离群值处理方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种芯片测试数据的离群值处理方法及装置，通过确定需要处理离群值的目标测试项；获取用户针对所述目标测试项配置的离群值阈值、阈值约束区间以及所述离群值对应的影响范围；根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间，响应于用户选择的离群值处理模式，在所述影响范围内针对所述离群值进行所述处理模式对应的处理。可以提升在芯片测试数据中查找离群值的准确性，并灵活适配不同测试项对离群值的分析与处理需求。离群值的分析与处理需求。离群值的分析与处理需求。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试数据的离群值处理方法及装置


[0001]本专利技术涉及半导体测试
，具体而言，涉及一种芯片测试数据的离群值处理方法及装置。

技术介绍

[0002]每颗半导体芯片在最终出厂之前，会经过不同测试程序的多个测试项的测试，产生大量的测试数据，这些测试数据一般会以标准测试数据文件(Standard Test Data File，STDF)文件的形式存储下来。在芯片的生产过程中，由于工艺的缺陷，或者一些异常因素的影响，会导致个别芯片的一些指标偏离正常范围，这些异常会在芯片测试过程中发现，体现到测试项的测试结果的异常值上面。这些异常数据的数值一般偏离正常范围，称为离群值(outlier)。
[0003]在分析半导体芯片测试数据时，outlier的出现，会干扰到正常的分析。一个或者多个偏离正常范围很多的值，会导致一些指标的计算结果和实际偏离比较大，导致分析结果不准确。因此，分析数据时需要对outlier数据使用一些算法进行处理，排除outlier数据的干扰，或者针对outlier数据进行处理分析。但是，现有针对outlier数据进行处本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试数据的离群值处理方法，其特征在于，包括：确定需要处理离群值的目标测试项；获取用户针对所述目标测试项配置的离群值阈值、阈值约束区间以及所述离群值对应的影响范围；根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间，响应于用户选择的离群值处理模式，在所述影响范围内针对所述离群值进行所述处理模式对应的处理。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于以下步骤获取所述离群值阈值：提供包括阈值算法选择项的阈值配置功能块；调用所述阈值配置功能块，响应于用户针对目标阈值算法的选择操作，提供该目标阈值算法对应的填充模板，其中，所述填充模板中包括所述目标阈值算法对应的参数填充项；获取用户在所述参数填充项填充的算法参数值，根据所述算法参数值执行所述目标阈值算法，确定所述离群值阈值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述离群值阈值包括离群值上限值与离群值下限值，基于以下步骤获取所述阈值约束区间：提供包括区间类型选择项的区间配置功能块，其中，所述区间类型选择项中提供有多种预设区间类型；调用所述区间配置功能块，响应于用户在所述区间类型选择项中，针对所述预设区间类型的选择操作，确定用户选择的目标阈值约束区间。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于：所述预设区间类型包括小于所述离群值下限值、大于所述离群值上限值、所述离群值上限值与所述离群值下限值之间以及所述离群值上限值与所述离群值下限值之外。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于以下步骤获取所述离群值对应的影响范围：提供包括影响范围选择项的影响范围配置功能块，其中，所述影响范围选择项中提供有多种预设影响范围类型；调用所述影响范围配置功能块，响应于用户在所述影响范围选择项中，针对所述预设影响范围类型的选择操作，确定用户选择的目标影响范围。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：预设影响范围类型包括影响当前所述目标测试项以及关联影响；当用户选择所述关...

【专利技术属性】
技术研发人员：王腾，钱大君，马力斯，
申请(专利权)人：上海孤波科技有限公司，
类型：发明
国别省市：