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本发明提供了一种芯片测试数据的离群值处理方法及装置，通过确定需要处理离群值的目标测试项；获取用户针对所述目标测试项配置的离群值阈值、阈值约束区间以及所述离群值对应的影响范围；根据所述离群值阈值以及所述阈值约束区间，响应于用户选择的离群值处理...
该专利属于上海孤波科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海孤波科技有限公司授权不得商用。

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