电子显示屏的mura检测方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术属于屏幕检测技术领域，公开了一种电子显示屏的mura检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取待测产品的显示图像；确定所述显示图像的中心点，其中，所述中心点为所述显示图像的中心像素点；根据所述中心点确定所述显示图像中各像素点的修正像素值，得到重构图像；基于所述重构图像以及历史数据，确定背景建模图像；基于所述背景建模图像以及所述显示图像，确定前景图像；根据所述前景图像判断所述待测产品中是否存在mura。通过上述方式，能够快速且高效地检测出待测产品中亮度差异小的mura。异小的mura。异小的mura。

【技术实现步骤摘要】
电子显示屏的mura检测方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及屏幕检测
，尤其涉及一种电子显示屏的mura检测方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]电子显示屏从上个世纪五十年代问世，到现在发展已经有八十年左右的历史。但随着电子显示屏的发展和普及，消费者也对屏幕的质量要求越来越苛刻。在制造出厂时，部分电子显示屏可能会存在屏幕亮度显示不均匀的问题，这会造成使用者的视觉感官不适，所以电子显示屏在制造出厂时都需要对电子显示屏进行mura检测。
[0003]现有的电子显示屏的mura检测方法主要为传统视觉算法，通过找轮廓，算阈值等手段，但是这种方法只能检测显示屏中亮度差异过大的mura，而亮度差异小的mura不容易被检出。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于提供一种电子显示屏的mura检测方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术中难以检测出电子显示屏中亮度差异小的mura的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供了一种电子显示屏的mura检测方法，所述方法包括以下步骤：
[0006]获取待测产品的显示图像；
[0007]确定所述显示图像的中心点，其中，所述中心点为所述显示图像的中心像素点；
[0008]根据所述中心点确定所述显示图像中各像素点的修正像素值，得到重构图像；
[0009]基于所述重构图像以及历史数据，确定背景建模图像；
[0010]基于所述背景建模图像以及所述显示图像，确定前景图像；
[0011]根据所述前景图像判断所述待测产品中是否存在mura。
[0012]可选地，所述获取待测产品的显示图像，包括：
[0013]根据待检测条件以及检测要求，固定工业相机的成像参数；
[0014]在固定所述工业相机的成像参数之后，通过所述工业相机采集所述待测产品的初始显示图像；
[0015]对所述初始显示图像进行最大池化卷积滤波，得到所述显示图像。
[0016]可选地，所述根据所述中心点确定所述显示图像中各像素点的修正像素值，得到重构图像，包括：
[0017]根据所述中心点确定所述显示图像中各像素点的对称像素点；
[0018]确定所述对称像素点的平均值，并将所述平均值作为该像素点的修正像素值；
[0019]将所述显示图像中各像素点的像素值替换为各像素点的修正像素值，得到重构图像。
[0020]可选地，所述基于所述重构图像以及历史数据，确定背景建模图像，包括：
[0021]根据所述待测产品的历史生产数据确定历史数据；
[0022]对所述重构图像以及所述历史数据进行指数滑动平均得到所述背景建模图像，并将所述背景建模图像作为历史数据更新到所述历史数据库中。
[0023]可选地，所述对所述重构图像以及所述历史数据进行指数滑动平均得到所述背景建模图像，包括：
[0024]对所述重构图像以及所述历史数据进行指数滑动平均得到初始背景建模图像；
[0025]在所述初始背景建模图像上按固定间隔取像素点，组成像素矩阵；
[0026]根据所述像素矩阵进行插值还原，得到背景建模图像。
[0027]可选地，所述根据所述前景图像判断所述待测产品中是否存在mura之前，还包括：
[0028]将所述前景图像对应的时域数据转换成频域数据；
[0029]去除所述频域数据中的噪声波，得到新频域数据；
[0030]将所述新频域数据转换成新时域数据，并基于所述新时域数据确定去除噪点后的前景图像。
[0031]可选地，所述根据所述前景图像判断所述待测产品中是否存在mura，包括：
[0032]对所述前景图像进行阈值分割，得到阈值分割结果；
[0033]根据所述阈值分割结果判断所述待测产品中是否存在mura。
[0034]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种电子显示屏的mura检测装置，所述电子显示屏的mura检测装置包括：
[0035]获取模块，用于获取待测产品的显示图像；
[0036]确定模块，用于确定所述显示图像的中心点，其中，所述中心点为所述显示图像的中心像素点；
[0037]所述确定模块，还用于根据所述中心点确定所述显示图像中各像素点的修正像素值，得到重构图像；
[0038]所述确定模块，还用于基于所述重构图像以及历史数据，确定背景建模图像；
[0039]所述确定模块，还用于基于所述背景建模图像以及所述显示图像，确定前景图像；
[0040]判断模块，用于根据所述前景图像判断所述待测产品中是否存在mura。
[0041]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种电子显示屏的mura检测设备，所述电子显示屏的mura检测设备包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电子显示屏的mura检测程序，所述电子显示屏的mura检测程序配置为实现如上文所述的电子显示屏的mura检测方法的步骤。
[0042]此外，为实现上述目的，本专利技术还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有电子显示屏的mura检测程序，所述电子显示屏的mura检测程序被处理器执行时实现如上文所述的电子显示屏的mura检测方法的步骤。
[0043]本专利技术提出的电子显示屏的mura检测方法、装置、设备及存储介质，通过获取待测产品的显示图像；确定所述显示图像的中心点，其中，所述中心点为所述显示图像的中心像素点；根据所述中心点确定所述显示图像中各像素点的修正像素值，得到重构图像；基于所述重构图像以及历史数据，确定背景建模图像；基于所述背景建模图像以及所述显示图像，确定前景图像；根据所述前景图像判断所述待测产品中是否存在mura。通过上述方式，构建出背景建模图像，然后利用显示图像减去背景建模图像得到前景图像，再通过对前景图像
进行mura检测能够快速且高效地检测出待测产品中亮度差异小的mura。
附图说明
[0044]图1是本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的电子显示屏的mura检测设备的结构示意图；
[0045]图2为本专利技术电子显示屏的mura检测方法第一实施例的流程示意图；
[0046]图3为本专利技术电子显示屏的mura检测方法第一实施例中显示图像的示意图；
[0047]图4为本专利技术电子显示屏的mura检测方法第二实施例的流程示意图；
[0048]图5为本专利技术电子显示屏的mura检测装置第一实施例的结构框图。
[0049]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0050]应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。
[0051]参照图1，图1为本专利技术实施例方案涉及的硬件运行环境的电子显示屏的mura检测设备结构示意图。
[0052]如图1所示，该电子显示屏的mura检测设备可以包括本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子显示屏的mura检测方法，其特征在于，所述电子显示屏的mura检测方法包括：获取待测产品的显示图像；确定所述显示图像的中心点，其中，所述中心点为所述显示图像的中心像素点；根据所述中心点确定所述显示图像中各像素点的修正像素值，得到重构图像；基于所述重构图像以及历史数据，确定背景建模图像；基于所述背景建模图像以及所述显示图像，确定前景图像；根据所述前景图像判断所述待测产品中是否存在mura。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测产品的显示图像，包括：根据待检测条件以及检测要求，固定工业相机的成像参数；在固定所述工业相机的成像参数之后，通过所述工业相机采集所述待测产品的初始显示图像；对所述初始显示图像进行最大池化卷积滤波，得到所述显示图像。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述中心点确定所述显示图像中各像素点的修正像素值，得到重构图像，包括：根据所述中心点确定所述显示图像中各像素点的对称像素点；确定所述对称像素点的平均值，并将所述平均值作为该像素点的修正像素值；将所述显示图像中各像素点的像素值替换为各像素点的修正像素值，得到重构图像。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述重构图像以及历史数据，确定背景建模图像，包括：根据所述待测产品的历史生产数据确定历史数据；对所述重构图像以及所述历史数据进行指数滑动平均得到所述背景建模图像，并将所述背景建模图像作为历史数据更新到所述历史数据库中。5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述重构图像以及所述历史数据进行指数滑动平均得到所述背景建模图像，包括：对所述重构图像以及所述历史数据进行指数滑动平均得到初始背景建模图像；在所述初始背景建模图像上按固定间隔取像素点，组成像素矩阵；根据所述像素...

【专利技术属性】
技术研发人员：李林峰，汪杨刚，魏凌敖，
申请(专利权)人：武汉海微科技有限公司，
类型：发明
国别省市：