状态检测装置、状态检测方法以及程序制造方法及图纸

本发明专利技术的课题是提供一种状态检测装置，其可检测设备的状态。本发明专利技术的解决方案是一种状态检测装置1，其具备：取得部20，其取得观测信息，所述观测信息包括与微波的共振频率有关的信息，所述微波的共振频率是在状态的检测对象的第一设备内的空间通过一边扫描频率一边照射微波而取得；检测部40，其将基准信息与观测信息比较，由此检测第一设备的状态，所述基准信息包括与被导入至作为基准的状态的第二设备中的微波的共振频率有关的信息；以及输出部50，其进行因应检测部40做的检测结果的输出。其进行因应检测部40做的检测结果的输出。其进行因应检测部40做的检测结果的输出。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】状态检测装置、状态检测方法以及程序


[0001]本专利技术涉及一种使用与微波的共振频率有关的信息而检测设备的状态的状态检测装置、状态检测方法以及程序。

技术介绍

[0002]以往，为了推定机器等设备的状态，一直使用设置于该设备的传感器的测量值。例如有为了检测反应装置的温度的异常状态，使用在反应装置附近所测量的温度的例子(参照专利文献1)。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本特开2007
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175587号公报

技术实现思路

[0006]专利技术所欲解决的课题
[0007]然而，如专利文献1记载的技术中，由于是使用在预定的地方测量预定的测定量的结果，故无法对于未设想的量或者即使是已设想的量但在未设想的地方发生的异常进行适当地检测。更一般而言，难以通过以往的方式检测事前未设想的状态。例如，可举出异物混入至用于化学反应的反应器内、反应延迟、气体的产生及反应器的变形等作为设想外的状态。
[0008]本专利技术是鉴于这样的问题点所完成的，其目本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种状态检测装置，其特征在于，具备：取得部，其取得观测信息，所述观测信息包括与被导入至状态的检测对象的第一设备中的第一微波的一或多个共振频率有关的信息；以及检测部，其将所述观测信息与基准信息比较，由此检测所述第一设备的状态，所述基准信息包括在取得所述观测信息之前所存储的、与被导入至作为基准的状态的第二设备中的第二微波的一或多个共振频率有关的信息；所述检测部在所述基准信息与所述观测信息于任一共振频率不一致的情况，检测所述第一设备的状态。2.根据权利要求1所述的状态检测装置，其特征在于，所述状态检测装置是IP网络上的服务器。3.根据权利要求1或2所述的状态检测装置，其特征在于，所述基准信息包括微波的第一吸收光谱，所述观测信息包括微波的第二吸收光谱。4.根据权利要求1或2所述的状态检测装置，其特征在于，所述观测信息包括沿时间序列的多条观测数据，所述基准信息包括沿时间序列的多条基准数据。5.根据权利要求1至4中任一项所述的状态检测装置，其特征在于，所检测的所述第一设备的状态为所述第一设备内的物质的量或形状的异常、所述第一设备的温度的异常以及所述第一设备的形状的异常的至少任一者。6.根据权利要求1至5中任一项所述的状态检测装置，其特征在于，进一步具备：输出部，其因应所述检测部做的检测结果，进行与对所述第一设备的控制有关的输出。7.根据权利要求1至6中任一项所述的状态检测装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：冢原保德，
申请(专利权)人：微波化学有限公司，
类型：发明
国别省市：