一种Type-C公座正反面测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种Type

【技术实现步骤摘要】
一种Type
‑
C公座正反面测试装置及方法


[0001]本专利技术实施例涉及接口测试
，尤其涉及一种Type
‑
C公座正反面测试装置及方法。

技术介绍

[0002]USB Type
‑
C是一种USB接口外形标准，简称Type
‑
C接口。Type
‑
C接口具有正反可插接口设计。
[0003]现有的自动化测试设备测试Type
‑
C接口时，是采用电机带动Type
‑
C转接头或者转接线进行插拔，而要进行正反面切换的时候，还需要通过对多个电机进行控制来实现移动和反复插拔测试。采用该种方式不但测试成本比较高，而且测试效率也不高还降低了插头插座的使用寿命。另外，还有通过检测单面全部输出信号不做正反插拔的方式进行测试，但此种方式对于CC1,CC2配置信号无法检测正反面差异，存在漏检风险。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种Type
‑
C公座正反面测试装置及方法，无需正反拔插的操作就可以实现待测试公座正反面的端口测试，提高了测试效率。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供一种Type
‑
C公座正反面测试装置，包括：Type
‑
C插头、Type
‑
C插座、信号复用单元和切换单元；
[0006]所述Type
‑
C插头的输入端与上位机连接；所述Type
‑r/>C插头的第一输出端通过所述切换单元分别与所述Type
‑
C插座的第一配置端和第二配置端连接；所述Type
‑
C插头的第二输出端通过所述信号复用单元分别与所述Type
‑
C插座的第一测试信号端和第二测试信号端连接；所述Type
‑
C插座的输出端与待测试公座连接；
[0007]所述上位机用于输出配置信号和测试信号；所述切换单元用于根据所述配置信号，将所述Type
‑
C插座的所述第一配置端或所述第二配置端与所述第一输出端连接；所述信号复用单元用于根据所述第一配置端或所述第二配置端的连接关系，将所述上位机输出的测试信号发送至所述第一测试信号端或第二测试信号端。
[0008]可选的，所述第一配置端为CC1配置引脚，所述第二配置端为CC2配置引脚。
[0009]可选的，所述第一测试信号端包括SBU1辅助通信引脚、SBU2辅助通信引脚、第一D1+数据输入引脚、第一D1
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数据输入引脚和TX1/RX1数据通信引脚对。
[0010]可选的，所述第二测试信号端包括SBU1辅助通信引脚、SBU2辅助通信引脚、第二D1+数据输入引脚、第二D1
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数据输入引脚和TX2/RX2数据通信引脚对。
[0011]可选的，所述配置信号包括CC1配置信号和CC2配置信号；所述切换单元包括切换开关和控制单元，所述切换开关的输入端与所述Type
‑
C插头的第一输出端连接；所述切换开关的第一输出端与所述第一配置端连接，所述切换开关的第二输出端与所述第二配置端连接；
[0012]所述控制单元与所述切换开关连接，所述控制单元用于根据所述CC1配置信号控
制所述切换开关将所述第一配置端接入所述CC1配置信号，还用于根据所述CC2配置信号控制所述切换开关将所述第二配置端接入所述CC2配置信号。
[0013]可选的，所述的Type
‑
C公座正反面测试装置，还包括通信单元，所述上位机通过所述通信单元与所述控制单元通信连接，所述上位机用于发送切换配置信息，所述控制单元用于根据所述切换配置信息自动控制所述切换开关切换控制。
[0014]可选的，所述通信单元包括UART数据串口，所述上位机通过所述UART数据串口与所述控制单元通信连接。
[0015]可选的，所述切换开关为继电器开关或旋钮开关。
[0016]第二方面，本专利技术实施例提供一种Type
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C公座正反面测试方法，包括：Type
‑
C插头、Type
‑
C插座、信号复用单元和切换单元；
[0017]上位机输出配置信号和测试信号；
[0018]所述切换单元根据所述配置信号，将所述Type
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C插座的第一配置端或第二配置端与所述Type
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C插头的第一输出端连接；
[0019]所述信号复用单元根据所述第一配置端或所述第二配置端的连接关系，将所述上位机输出的测试信号发送至所述Type
‑
C插座的第一测试信号端或第二测试信号端。
[0020]可选的，所述配置信号包括CC1配置信号和CC2配置信号；所述切换单元包括切换开关和控制单元；
[0021]所述控制单元根据所述CC1配置信号控制所述切换开关将所述第一配置端接入所述CC1配置信号，或根据所述CC2配置信号控制所述切换开关将所述第二配置端接入所述CC2配置信号。
[0022]本专利技术实施例提供的技术方案通过切换单元根据配置信号来切换Type
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C插座的第一配置端或第二配置端，并利用信号复用单元导通Type
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C插座对应于配置信号的第一测试信号端或第二测试信号端，从而不需要进行正反拔插的操作就可以实现待测试公座正反面的端口测试，避免了漏检，并提高了测试效率。
附图说明
[0023]图1为Type
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C插座的接口示意图；
[0024]图2为Type
‑
C插头的接口示意图；
[0025]图3为本专利技术实施例提供一种Type
‑
C公座正反面测试装置的结构示意图；
[0026]图4为本专利技术实施例提供一种正插状态测试的示意图；
[0027]图5为本专利技术实施例提供一种反插状态测试的示意图；
[0028]图6为本专利技术实施例提供又一种Type
‑
C公座正反面测试装置的结构示意图；
[0029]图7为本专利技术实施例提供一种Type
‑
C公座正反面测试方法的流程示意图。
具体实施方式
[0030]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0031]图1为Type
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C插座的接口示意图，图2为Type
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C插头的接口示意图，参见图1图2，Type
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C插座包括24个端口，分别为第一GND电源输入引脚A1、TX1+数本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种Type
‑
C公座正反面测试装置，其特征在于，包括：Type
‑
C插头、Type
‑
C插座、信号复用单元和切换单元；所述Type
‑
C插头的输入端与上位机连接；所述Type
‑
C插头的第一输出端通过所述切换单元分别与所述Type
‑
C插座的第一配置端和第二配置端连接；所述Type
‑
C插头的第二输出端通过所述信号复用单元分别与所述Type
‑
C插座的第一测试信号端和第二测试信号端连接；所述Type
‑
C插座的输出端与待测试公座连接；所述上位机用于输出配置信号和测试信号；所述切换单元用于根据所述配置信号，将所述Type
‑
C插座的所述第一配置端或所述第二配置端与所述第一输出端连接；所述信号复用单元用于根据所述第一配置端或所述第二配置端的连接关系，将所述上位机输出的测试信号发送至所述第一测试信号端或第二测试信号端。2.根据权利要求1所述的Type
‑
C公座正反面测试装置，其特征在于，所述第一配置端为CC1配置引脚，所述第二配置端为CC2配置引脚。3.根据权利要求1所述的Type
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C公座正反面测试装置，其特征在于，所述第一测试信号端包括SBU1辅助通信引脚、SBU2辅助通信引脚、第一D1+数据输入引脚、第一D1
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数据输入引脚和TX1/RX1数据通信引脚对。4.根据权利要求3所述的Type
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C公座正反面测试装置，其特征在于，所述第二测试信号端包括SBU1辅助通信引脚、SBU2辅助通信引脚、第二D1+数据输入引脚、第二D1
‑
数据输入引脚和TX2/RX2数据通信引脚对。5.根据权利要求1所述的Type
‑
C公座正反面测试装置，其特征在于，所述配置信号包括CC1配置信号和CC2配置信号；所述切换单元包括切换开关和控制单元，所述切换开关的输入端与所述Typ...

【专利技术属性】
技术研发人员：施磊，罗意，何诚，张建辉，周璋，
申请(专利权)人：立讯精密工业滁州有限公司，
类型：发明
国别省市：