【技术实现步骤摘要】
一种采用葡萄糖实现TSV完全填充方法
[0001]本公开涉及芯片封装
,尤其涉及一种采用葡萄糖实现TSV完全填充方法。
技术介绍
[0002]集成电路产业是社会经济发展的支柱产业之一,也是智能制造、人工智能等新兴行业的基础。而在集成电路行业中,硅通孔(Through silicon via,TSV),由于实现了堆叠芯片之间的垂直上下互连,形成高密度三维集成,具有“高密度、多功能、小尺寸”等众多优点,成为了三维集成的核心。而现有的TSV孔深高达50μm,比流体边界层厚度大1个数量级,使得盲孔底部的离子浓度、电流密度远远小于孔口,孔底沉积速度远小于孔口。导致在电镀填充过程,孔口已经闭合了而孔底还没有完全填充,形成“夹断”现象,铜层出现微裂缝或微孔洞,影响产品质量。
[0003]经查公开(公告)号:CN113186574B,公开了抑制TSV中铜热胀出的方法,此方法具体公开了:超声波调控TSV沉积铜晶粒尺寸工艺参数优化设计、使TSV沉积铜晶粒尺寸最小化的超声工艺参数电镀填充TSV以及进行实验验证的操作。在该方法中,其解 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种采用葡萄糖实现TSV完全填充方法,其特征在于,包括以下步骤:S110、进行预处理,对TSV芯片进行清洁处理,去除TSV孔内的空气以及残留的杂质;S120、浸润TSV芯片,将预处理后的TSV芯片放置在镀铜填充液中静置10min,随后取出;S130、进行电镀填充处理,将铂电极夹连接于TSV芯片,按照预设方式间隔固定于电解槽内,并连通恒定电流,再将铂电极夹连接于TSV芯片浸入电解液中,进行电镀操作,其中,所述电解液包含纯度99%的葡萄糖;S140、磨样抛光观察处理,研磨TSV芯片盲孔的切面,接着采用金相抛光剂抛光TSV芯片横截面,查看所述TSV芯片的填充效果。2.根据权利要求1所述的采用葡萄糖实现TSV完全填充方法,其特征在于,在所述步骤S110中,所述预处理包括:将所述TSV芯片置入真空环境中,所述真空环境为
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0.1 MPa,再将所述TSV芯片通过超声波清洗设备排出微孔中的空气。3.根据权利要求1所述的采用葡萄糖实现TSV完全填充方法,其特征在于,在所述步骤S110中,所述清洁处理包括:依次使用酒精及蒸馏水对所述TSV芯片进行超声清洗操作,每次清洗时长为2min,所述超声清洗操作重复三次以上。4.根据权利要求1所述的采用葡萄糖实现TSV完全填充方法,其特征在于,在所述步骤S120中,所述镀铜填充液中葡萄糖的浓度为1.0g/L,Cl
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浓度为100ppm、H2SO4浓度50
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100 mmol/L(6.2g/L),设置所述镀铜填充液温度为25℃,反应时间为...
【专利技术属性】
技术研发人员:乐玉平,朱艳,徐闰,张秋香,万莉,李玉玲,姜来新,杨舒婕,姜世玲,孙伟,吴喆焱,
申请(专利权)人:泉州市颖秀科技发展有限公司,
类型:发明
国别省市:
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