一种接触器触点逻辑检测系统及其检测方法技术方案

本发明专利技术提供的一种接触器触点逻辑检测系统及其检测方法，包括测试PLC、采样电阻、被测接触器；本发明专利技术通过PLC和继电器对接触器的触点进行控制测试，可以根据接触器产品结构和使用工况设置相应的通断比进行机械时效，在机械时效过程中实时检测触点的通断逻辑，出现通断逻辑不正确时，将会报警提醒操作人员，筛选出合格的产品。合格的产品。合格的产品。

【技术实现步骤摘要】
一种接触器触点逻辑检测系统及其检测方法


[0001]本专利技术涉及一种接触器触点逻辑检测系统及其检测方法。

技术介绍

[0002]接触器产品的触点是实现外电路接通和断开的桥梁，若接触器产品在工作过程中，触点出现偶发性逻辑不正确，导致外电路接通异常发生故障。为了减少接触器产品在使用过程中触点接触异常，导致外部电路故障，产品在生产过程中，现采用的机械时效台不能实时检测触点通断逻辑，且只能固定的通断比给产品进行机械时效，不能根据产品结构和使用工况进行机械时效。如公开号为CN114994521A公开的一种用于接触器、继电器故障预测和健康管理技术的验证与试验测试系统，通过在计算机内输入PHM算法对继电器或接触器进行测试，并通过计算机对测试结果进行评估，其使用了大量的电路元件，并且采用计算机对测试过程进行控制，使其测试系统复杂，测试程序的编写同样复杂。

技术实现思路

[0003]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种接触器触点逻辑检测系统及其检测方法。
[0004]本专利技术通过以下技术方案得以实现。
[0005]本专利技术提供的一种接触器触点逻辑检测系统，包括测试PLC、采样电阻、被测接触器；所述测试PLC的电源输入端正极通过降压电阻与电源的正极连接，测试PLC的电源输入端负极与电源的负极连接，测试PLC的信号输出端与继电器的线圈连接，继电器线圈的另一端与电源的负极连接，继电器的触点一端与电源的正极连接，另一端与被测接触器的线圈正极连接，被测接触器线圈的负极与电源的负极连接，所述被测接触器的主触点和辅助触点与测试PLC的信号端连接。
[0006]所述被测接触器的主触点包括常开主触点和常闭主触点，常开主触点和常闭主触点的一端分别与测试PLC的公共端连接，常开主触点和常闭主触点的另一端分别通过采样电阻与测试PLC的两个输入端口连接；
[0007]所述被测接触器的辅助触点包括常开辅助触点和常闭辅助触点，常开辅助触点和常闭辅助触点的一端分别与测试PLC的公共端连接，常开辅助触点和常闭辅助触点的另一端分别通过采样电阻与测试PLC的两个输入端口连接。
[0008]所述测试PLC还与上位机连接，测试PLC采用西门子S7
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200SMRT
[0009]一种接触器触点逻辑检测方法，其步骤为：
[0010]S1、通断比检验，分别对被测接触器的主触点、辅助触点的通断比进行检验；
[0011]S2、总次数检测，交替对被测接触器的主触点、辅助触点的通断比进行一定次数的检验；
[0012]S3、时效模式检测，依次进行常开主触点检测，常开常闭主触点检测，常开主触点、常开常闭辅助触点检测，常开常闭主触点、常开常闭辅助触点检测，线圈无电检测。
[0013]所述通断比检验步骤为：
[0014]S11、测试PLC控制继电器线圈上电，测试PLC同时开始计时；
[0015]S12、当测试PLC计时t1时间时，继电器的触点闭合控制被测接触器的主触点线圈上电，测试PLC开始计时，测试PLC对常开主触点和常闭主触点的通断状态进行检测；
[0016]S13、当测试PLC计时t2时间后，被测接触器的主触点线圈失电，辅助触点线圈上电，测试PLC对常开辅助触点和常闭辅助触点的通断状态进行检测。
[0017]所述总次数检测通过测试PLC内的触发器对计时器的计时次数进行统计，计时次数达到对应设定值时控制继电器线圈失电。
[0018]所述常开主触点检测步骤为测试PLC控制继电器上电，被测接触器的主触点线圈上电，测试PLC检测被测接触器的常开主触点是否接通。
[0019]所述常开常闭主触点检测步骤为测试PLC控制继电器上电，被测接触器的主触点线圈上电，测试PLC检测被测接触器的常开主触点是否接通，检测常闭触点是否断开。
[0020]所述常开主触点、常开常闭辅助触点检测步骤为测试PLC控制继电器上电，被测接触器的辅助触点线圈上电，测试PLC检测被测接触器的常开主触点是否断开，检测常闭辅助触点是否断开，常开辅助触点是否接通。
[0021]所述常开常闭主触点、常开常闭辅助触点检测步骤为测试PLC控制继电器上电，被测接触器的主触点线圈和辅助触点线圈均上电，测试PLC检测被测接触器的常开主触点是否断开，常闭主触点是否断开；检测常闭辅助触点是否断开，常开辅助触点是否接通。
[0022]本专利技术的有益效果在于：通过PLC和继电器对接触器的触点进行控制测试，可以根据接触器产品结构和使用工况设置相应的通断比进行机械时效，在机械时效过程中实时检测触点的通断逻辑，出现通断逻辑不正确时，将会报警提醒操作人员，筛选出合格的产品。
附图说明
[0023]图1是本专利技术的检测系统结构示意图；
[0024]图2是本专利技术的通断比检测程序图；
[0025]图3是本专利技术的总次数检测程序图；
[0026]图4是本专利技术的机械时效选择程序图；
[0027]图5是本专利技术的常开主触点模式检测程序图；
[0028]图6是本专利技术的常开常闭主触点模式检测程序图；
[0029]图7是本专利技术的常开主触点、常开常闭辅助触点模式检测程序图；
[0030]图8是本专利技术的常开常闭主触点、常开常闭辅助触点模式检测程序图；
[0031]图9是本专利技术的线圈无电模式检测程序图；
[0032]图中：1
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测试PLC，2
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采样电阻，3
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被测接触器，4
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继电器，5
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降压电阻，6
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电源。
具体实施方式
[0033]下面进一步描述本专利技术的技术方案，但要求保护的范围并不局限于所述。
[0034]如图1所示，一种接触器触点逻辑检测系统，包括测试PLC1、采样电阻2、被测接触器3；所述测试PLC1的电源输入端正极通过降压电阻5与电源6的正极连接，测试PLC1的电源输入端负极与电源6的负极连接，测试PLC1的信号输出端与继电器4的线圈连接，继电器4线
圈的另一端与电源6的负极连接，继电器4的触点一端与电源6的正极连接，另一端与被测接触器3的线圈正极连接，被测接触器3线圈的负极与电源6的负极连接，所述被测接触器3的主触点和辅助触点与测试PLC1的信号端连接。
[0035]测试PLC1采用西门子S7
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200SMRT PLC，S7
‑
200SMART的输出端口是晶体管型，其额定电流为1A，接触器产品的的线圈起动电流均大于1A，长时间工作S7
‑
200SMART内部晶体管被损坏，所以，采用控制小电流继电器来实现接触器产品线圈工作。
[0036]b)触点通断逻辑采用S7
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200SMART的输入端口来控制，每一个输入端口与公共端形成一个电气回路，电气回路中串联一个60Ω的电阻，并经过对应的触点，根据电气回路中的电流信号作为S7
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种接触器触点逻辑检测系统，包括测试PLC(1)、采样电阻(2)、被测接触器(3)，其特征在于：所述测试PLC(1)的电源输入端正极通过降压电阻(5)与电源(6)的正极连接，测试PLC(1)的电源输入端负极与电源(6)的负极连接，测试PLC(1)的信号输出端与继电器(4)的线圈连接，继电器(4)线圈的另一端与电源(6)的负极连接，继电器(4)的触点一端与电源(6)的正极连接，另一端与被测接触器(3)的线圈正极连接，被测接触器(3)线圈的负极与电源(6)的负极连接，所述被测接触器(3)的主触点和辅助触点与测试PLC(1)的信号端连接。2.如权利要求1所述的接触器触点逻辑检测系统，其特征在于：所述被测接触器(3)的主触点包括常开主触点和常闭主触点，常开主触点和常闭主触点的一端分别与测试PLC(1)的公共端连接，常开主触点和常闭主触点的另一端分别通过采样电阻(2)与测试PLC(1)的两个输入端口连接；所述被测接触器(3)的辅助触点包括常开辅助触点和常闭辅助触点，常开辅助触点和常闭辅助触点的一端分别与测试PLC(1)的公共端连接，常开辅助触点和常闭辅助触点的另一端分别通过采样电阻(2)与测试PLC(1)的两个输入端口连接。3.如权利要求1所述的接触器触点逻辑检测系统，其特征在于：所述测试PLC(1)还与上位机连接，测试PLC(1)采用西门子S7
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200SMRT 。4.一种接触器触点逻辑检测方法，其步骤为：S1、通断比检验，分别对被测接触器的主触点、辅助触点的通断比进行检验；S2、总次数检测，交替对被测接触器的主触点、辅助触点的通断比进行一定次数的检验；S3、时效模式检测，依次进行常开主触点检测，常开常闭主触点检测，常开主触点、常开常闭辅助触点检测，常开常闭主触点、常开常闭辅助触点检测，线圈无电检测。5.如权利要求4所述的接触器触点逻辑检测系统，其特征在于：所述通断比检验步骤为：S11、测试PLC(1)控制...

【专利技术属性】
技术研发人员：李飞，马登秋，徐建英，马辉，张钉，
申请(专利权)人：贵州天义电器有限责任公司，
类型：发明
国别省市：