SF6气体数字密度继电器免拆除校验方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种SF6气体数字密度继电器的免拆除校验方法及装置，方法包括固定待修正数字密度继电器当前的温度，利用温控模块提供若干覆盖温度点，温控模块覆盖待修正数字密度继电器所连接的温度传感器和温度测量仪；在若干覆盖温度点下，获取温度传感器的实测温度值以及温度测量仪测量的参考温度值；计算不同覆盖温度点所对应的参考温度值与实测温度值之差作为不同覆盖温度点下的误差值；对不同覆盖温度点下的误差值进行拟合，得到温度修正曲线；利用温度修正曲线对所述温度传感器的测量温度进行修正；本发明专利技术能够快速识别温度测量偏差较大的密度继电器并进行免拆卸式校验。较大的密度继电器并进行免拆卸式校验。较大的密度继电器并进行免拆卸式校验。

【技术实现步骤摘要】
SF6气体数字密度继电器免拆除校验方法及装置


[0001]本专利技术涉及设备检测
，具体涉及一种SF6气体数字密度继电器的免拆除校验方法及装置。

技术介绍

[0002]SF6(六氟化硫)气体密度继电器是SF6电气设备的关键器件之一，它用来监测SF6电气设备本体中SF6密度的变化，其性能的好坏直接影响到SF6电气设备的运行安全。传统的密度继电器为机械式(主要包括压力式和参比式两种)，存在以下缺点：1)表盘指针读数需要用肉眼观察，不够精确；2)机械式SF6密度继电器只能监测出厂设定额定压力的GIS设备密度，不能适用于不同额定压力的GIS设备；3)机械式SF6密度继电器只有当密度值降低到报警点时才会发出报警信号，无法在密度值下降后及时发出泄漏预警信号；4)机械式密度继电器无法实现数据远传，只能现场读表，运维效率极低。针对机械式密度继电器的不足，近年来国家电网公司多次召开数字式表计研讨会议并推广应用数字式表计，未来数字化表计全面替代传统的机械式密度继电器已经是大势所趋。
[0003]数字式密度继电器通过高精度温度和压力传感器测量GIS设备密度，可搭载数据远传模块，能够监测不同额定压力的量GIS设备。但是，数字式密度继电器中的温度传感器因时间推移会发生零点漂移，产生测量值误差，导致折算出的密度值出错，需定期进行校验。由于数字式密度继电器发展时间较短，其校验方法及装置仍沿用传统机械式密度继电器，需要对所有密度继电器进行拆卸式校验，即将数字式密度继电器从气路中拆卸，工作量大且增加了泄漏的风险。因此，亟需一种能够快速识别温度测量偏差较大的密度继电器并进行免拆卸式校验的方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题在于如何快速识别温度测量偏差较大的密度继电器并进行免拆卸式校验，提高温度传感器测量准确度。
[0005]本专利技术通过以下技术手段解决上述技术问题的：
[0006]一方面，本专利技术提出了一种SF6气体数字密度继电器免拆除校验方法，所述数字密度继电器连接有温度传感器和温度测量仪，所述方法包括：
[0007]获取相邻的多个数字密度继电器所连接的温度传感器的实测温度值，并计算该多个实测温度值的温度平均值；
[0008]在存在所述数字密度继电器的实测温度值与所述温度平均值之差超过设定的温度阈值时，将该所述数字密度继电器作为待修正数字密度继电器；
[0009]固定所述待修正数字密度继电器当前的温度，并利用温控模块提供若干覆盖温度点，所述温控模块覆盖待修正数字密度继电器所连接的温度传感器和温度测量仪；
[0010]在若干覆盖温度点下，获取所述温度传感器的实测温度值以及所述温度测量仪测量的参考温度值；
[0011]计算不同所述覆盖温度点所对应的参考温度值与实测温度值之差作为不同所述覆盖温度点下的误差值；
[0012]对不同所述覆盖温度点下的误差值进行拟合，得到温度修正曲线，公式表示为：
[0013]T0＝Ax2+Bx+C
[0014]式中：K
i
＝T
2i
‑
T
1i
，T
1i
为不同所述覆盖温度点的实测温度值，T
2i
为同所述覆盖温度点的参考温度值，T0为修正后的温度，A、B、C为拟合得到的所述温度修正曲线的系数，x为所述温度传感器的当前实测温度值；
[0015]利用所述温度修正曲线对所述温度传感器的测量温度进行修正。
[0016]进一步地，在所述利用所述温度修正曲线对所述温度传感器的测量温度进行修正之后，所述方法还包括：
[0017]将所述控温模块提供的覆盖温度点恢复至环境温度，并恢复所述待修正数字密度继电器的温度更新。
[0018]进一步地，所述覆盖温度点包括
‑
20℃、0℃、20℃及40℃。
[0019]进一步地，所述温度阈值取值为3℃。
[0020]进一步地，所述方法还包括：
[0021]利用所述待修正数字密度继电器连接的所述温度测量仪获取当前的参考温度值；
[0022]利用当前的参考温度值对该待修正数字密度继电器的实测温度值进行单点修正。
[0023]进一步地，所述利用当前的参考温度值对该待修正数字密度继电器的实测温度值进行单点修正，包括：
[0024]计算所述当前的参考温度值与所述待修正数字密度继电器的实测温度值之间的差值；
[0025]利用该差值对所述待修正数字密度继电器的实测温度值进行修正。
[0026]此外，本专利技术还提出了一种SF6气体数字密度继电器的免拆除校验装置，所述装置包括温度测量仪、温控模块、目标继电器确定模块和修正模块，其中：
[0027]所述目标继电器确定模块，用于获取相邻的多个数字密度继电器所连接的温度传感器的实测温度值，并计算该多个实测温度值的温度平均值，并在存在所述数字密度继电器的实测温度值与所述温度平均值之差超过设定的温度阈值时，将该所述数字密度继电器作为待修正数字密度继电器；
[0028]所述修正模块包括：
[0029]温度点设定单元，用于固定所述待修正数字密度继电器当前的温度，并利用温控模块提供若干覆盖温度点，所述温控模块覆盖待修正数字密度继电器所连接的温度传感器和温度测量仪；
[0030]温度值获取单元，用于在若干覆盖温度点下，获取所述温度传感器的实测温度值以及所述温度测量仪测量的参考温度值；
[0031]误差计算单元，用于计算不同所述覆盖温度点所对应的参考温度值与实测温度值之差作为不同所述覆盖温度点下的误差值；
[0032]拟合单元，用于对不同所述覆盖温度点下的误差值进行拟合，得到温度修正曲线，公式表示为：
[0033]T0＝Ax2+Bx+C
[0034]式中：K
i
＝T
2i
‑
T
1i
，T
1i
为不同所述覆盖温度点的实测温度值，T
2i
为同所述覆盖温度点的参考温度值，T0为修正后的温度，A、B、C为拟合得到的所述温度修正曲线的系数，x为所述温度传感器的当前实测温度值；
[0035]多点修正单元，用于利用所述温度修正曲线对所述温度传感器的测量温度进行修正。
[0036]进一步地，所述修正模块还包括恢复单元，用于将所述控温模块提供的覆盖温度点恢复至环境温度，并恢复所述待修正数字密度继电器的温度更新。
[0037]进一步地，所述修正模块还包括单点修正单元，所述单点修正单元包括：
[0038]参考温度获取子单元，用于利用所述待修正数字密度继电器连接的所述温度测量仪获取当前的参考温度值；
[0039]单点修正子单元，用于利用当前的参考温度值对该待修正数字密度继电器的实测温度值进行单点修正。
[0040]进一步地，所述单点修正子单元，具体用于：
[0041]计算所述当前的参考温度值与所述待修正数字密度本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种SF6气体数字密度继电器的免拆除校验方法，其特征在于，所述数字密度继电器连接有温度传感器和温度测量仪，所述方法包括：获取相邻的多个数字密度继电器所连接的温度传感器的实测温度值，并计算该多个实测温度值的温度平均值；在存在所述数字密度继电器的实测温度值与所述温度平均值之差超过设定的温度阈值时，将该所述数字密度继电器作为待修正数字密度继电器；固定所述待修正数字密度继电器当前的温度，并利用温控模块提供若干覆盖温度点，所述温控模块覆盖待修正数字密度继电器所连接的温度传感器和温度测量仪；在若干覆盖温度点下，获取所述温度传感器的实测温度值以及所述温度测量仪测量的参考温度值；计算不同所述覆盖温度点所对应的参考温度值与实测温度值之差作为不同所述覆盖温度点下的误差值；对不同所述覆盖温度点下的误差值进行拟合，得到温度修正曲线，公式表示为：T0＝Ax2+Bx+C式中：K
i
＝T
2i
‑
T
1i
，T
1i
为不同所述覆盖温度点的实测温度值，T
2i
为同所述覆盖温度点的参考温度值，T0为修正后的温度，A、B、C为拟合得到的所述温度修正曲线的系数，x为所述温度传感器的当前实测温度值；利用所述温度修正曲线对所述温度传感器的测量温度进行修正。2.如权利要求1所述的SF6气体数字密度继电器的免拆除校验方法，其特征在于，在所述利用所述温度修正曲线对所述温度传感器的测量温度进行修正之后，所述方法还包括：将所述控温模块提供的覆盖温度点恢复至环境温度，并恢复所述待修正数字密度继电器的温度更新。3.如权利要求1所述的SF6气体数字密度继电器的免拆除校验方法，其特征在于，所述覆盖温度点包括
‑
20℃、0℃、20℃及40℃。4.如权利要求1所述的SF6气体数字密度继电器的免拆除校验方法，其特征在于，所述温度阈值取值为3℃。5.如权利要求1所述的SF6气体数字密度继电器的免拆除校验方法，其特征在于，所述方法还包括：利用所述待修正数字密度继电器连接的所述温度测量仪获取当前的参考温度值；利用当前的参考温度值对该待修正数字密度继电器的实测温度值进行单点修正。6.如权利要求5所述的SF6气体数字密度继电器的免拆除校验方法，其特征在于，所述利用当前的参考温度值对该待修正数字密度继电器的实测温度值进行单点修正，包括：计算所述当前的参考温度值与所述待修正数字密度继电器的实测温度值之间的差值；利用该差值...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱榜超，潘邦彪，韦国生，蒋宗广，刘长华，李洪波，甘耀华，黄尚雕，毛佳，李航海，林文洪，黄利达，吴恩铭，覃贤金，商琼玲，罗靖宇，何坤龙，何波，卢敏，蒋文明，黄敏，李桥凤，梁洛耕，薛奎，黄珠羡，黄顾渊，黄振龙，黄仕恒，黄勇帅，李星，杨波，姚流梁，全秀娟，
申请(专利权)人：广西电网有限责任公司百色供电局，
类型：发明
国别省市：