一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法及装置制造方法及图纸

本申请提出的pXRF对岩心元素测试的质量控制方法、装置及存储介质中，包括：利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据；若质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用质量控制物质对pXRF进行稳定性测试，得到pXRF对应的预热时间；响应于pXRF开机启动预热时间之后，设置pXRF为测试模式，并设置pXRF每次测试的节点；当pXRF处于测试节点时，对质量控制物质进行测试得到测试数据，并基于测试数据与基准数据进行比较，若测试数据满足测试条件，则pXRF继续正常运行。本申请提出了一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法，使得测量结果更加准确。结果更加准确。结果更加准确。

【技术实现步骤摘要】
一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法及装置


[0001]本申请涉及质量控制
，尤其涉及一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法、装置及存储介质。

技术介绍

[0002]便携式X射线荧光分析仪（pXRF分析仪），具有操作便捷、分析速度快、适用范围的特点，在大批量岩心XRF测试中得到广泛应用。
[0003]但是，pXRF分析仪的数据质量相对于大型台式分析仪器的数据质量差一些，也即是，pXRF分析仪在使用过程中可能会出现精度不准，从而使得测量结果不准确。因此，亟需一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法。

技术实现思路

[0004]本申请提供一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法、装置及存储介质，以解决上述相关技术中出现的技术问题。
[0005]本申请第一方面实施例提出一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法，应用于便携式X射线荧光分析仪pXRF，所述方法包括：利用质量控制物质对所述pXRF进行准确性测试，得到所述质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据，其中，所述质量控制物质为岩心样品和所述质量控制物质包括所述pXRF可测量元素；若所述质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用所述质量控制物质对所述pXRF进行稳定性测试，得到所述pXRF对应的预热时间；响应于所述pXRF开机启动所述预热时间之后，设置所述pXRF为测试模式，并设置所述pXRF每次测试的节点；当所述pXRF处于测试节点时，对所述质量控制物质进行测试得到测试数据，并基于所述测试数据与所述基准数据进行比较，若所述测试数据满足测试条件，则所述pXRF继续正常运行。
[0006]本申请第二方面实施例提出一种pXRF对岩心元素测试的质量控制装置，应用于便携式X射线荧光分析仪pXRF，所述装置包括：第一测试模块，用于利用质量控制物质对所述pXRF进行准确性测试，得到所述质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据，其中，所述质量控制物质为岩心样品和所述质量控制物质包括所述pXRF可测量元素；第二测试模块，用于若所述质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用所述质量控制物质对所述pXRF进行稳定性测试，得到所述pXRF对应的预热时间；设置模块，用于响应于所述pXRF开机启动所述预热时间之后，设置所述pXRF为测试模式，并设置所述pXRF每次测试的节点；第三测试模块，用于当所述pXRF处于测试节点时，对所述质量控制物质进行测试
得到测试数据，并基于所述测试数据与所述基准数据进行比较，若所述测试数据满足测试条件，则所述pXRF继续正常运行。
[0007]本申请第三方面实施例提出的计算机存储介质，其中，所述计算机存储介质存储有计算机可执行指令；所述计算机可执行指令被处理器执行后，能够实现如上第一方面所述的方法。
[0008]本申请第四方面实施例提出的计算机设备，其中，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行所述程序时，能够实现如上第一方面所述的方法。
[0009]本申请的实施例提供的技术方案至少带来以下有益效果：本申请提出的pXRF对岩心元素测试的质量控制方法、装置及存储介质中，应用于pXRF，该方法包括：利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据，其中，质量控制物质为岩心样品和质量控制物质包括pXRF可测量元素；若质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用质量控制物质对pXRF进行稳定性测试，得到pXRF对应的预热时间；响应于pXRF开机启动预热时间之后，设置pXRF为测试模式，并设置pXRF每次测试的节点；当pXRF处于测试节点时，对质量控制物质进行测试得到测试数据，并基于测试数据与基准数据进行比较，若测试数据满足测试条件，则所述pXRF继续正常运行。由此，本申请提出了一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法，利用pXRF的测试数据进行质量控制，从而提升了数据质量，使得测量结果更加准确。
[0010]本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
附图说明
[0011]本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1为根据本申请一个实施例提供的pXRF对岩心元素测试的质量控制方法的流程示意图；图2为根据本申请一个实施例提供的pXRF对岩心元素测试的质量控制装置的结构示意图。
具体实施方式
[0012]下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。
[0013]下面参考附图描述本申请实施例的pXRF对岩心元素测试的质量控制方法及装置。
[0014]实施例一图1 为根据本申请一个实施例提供的一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法的流程示意图，如图1所示，可以包括：步骤101、利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据。
[0015]其中，在本公开实施例中，上述质量控制物质可以为岩心样品，且上述质量控制物质可以包括pXRF可测量元素。
[0016]以及，在本公开实施例中，上述质量控制物质为一套具有已知元素类型及含量信息的国家一级标准物质。其中，利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试之前，可以对质量控制物质进行选择。具体地，在本公开实施例中，可以根据pXRF的模式或量程或滤波片中可测试元素种类进行质量控制物质的选择，基于此，最终选择的质量控制物质可以含有各模式或量程或滤波片中任意一种可测量元素。
[0017]示例的，假设pXRF分析仪有两个工作模式，其中工作模式1中可测量元素为Pb（铅），W（钨），Zn（锌），Cu（铜），Ni（镍），Co（钴），Fe（铁），Mn（锰）；工作模式2中可测量元素为K（钾），S（硫），Mg（镁），Al（铝），Si（硅）。其中，对于该pXRF分析仪，在选择质量控制物质时，应确保质量控制物质包含至少一种工作模式1的可测量元素（如Pb）及至少一种工作模式2的可测量元素（如Si）。
[0018]进一步地，在本公开实施例中，在选择质量控制物质之后，可以利用选择的质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据。其中，在本公开实施例中，pXRF分析仪准确性测试主要用于衡量pXRF分析仪测量质量控制物质所得元素的含量与质量控制物质中各元素的真实含量之间的误差水平。
[0019]具体地，在本公开实施例中，上述质量控制物质包括至少一种元素。
[0020]以及，在本公开实施例中，上述利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据的方法可以包括以下步骤：步骤1011、利用质量控制物质对pXRF进行准确性测试，得到质本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种pXRF对岩心元素测试的质量控制方法，其特征在于，应用于便携式X射线荧光分析仪pXRF，所述方法包括：利用质量控制物质对所述pXRF进行准确性测试，得到所述质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据，其中，所述质量控制物质为岩心样品和所述质量控制物质包括所述pXRF可测量元素；若所述质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用所述质量控制物质对所述pXRF进行稳定性测试，得到所述pXRF对应的预热时间；响应于所述pXRF开机启动所述预热时间之后，设置所述pXRF为测试模式，并设置所述pXRF每次测试的节点；当所述pXRF处于测试节点时，对所述质量控制物质进行测试得到测试数据，并基于所述测试数据与所述基准数据进行比较，若所述测试数据满足测试条件，则所述pXRF继续正常运行。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述质量控制物质包括至少一种元素；所述利用质量控制物质对所述pXRF进行准确性测试，得到所述质量控制物质对应的第一相对误差和基准数据，包括：利用所述质量控制物质对所述pXRF进行准确性测试，得到所述质量控制物质中各元素的第一测量值；基于所述质量控制物质中各元素的第一测量值与真实值，通过第一公式得到所述质量控制物质中各元素的第一相对误差，其中第一公式为：；其中，所述为所述准确性测试对应的测试次数，所述为对元素的第次第一测量值，所述为元素的真实值，所述为元素的第一相对误差；基于所述质量控制物质中各元素的第一测量值，得到所述质量控制物质中各元素的基准数据。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述若所述质量控制物质对应的第一相对误差小于第一误差阈值，则利用所述质量控制物质对所述pXRF进行稳定性测试，得到所述pXRF对应的预热时间，包括：若所述质量控制物质中各元素对应的第一相对误差均小于第一误差阈值，则将所述pXRF预热第一预热时间后，对所述质量控制物质进行测试，得到所述质量控制物质中各元素的第二测量值；将所述pXRF保持运行状态第一预设时间后，对所述质量控制物质进行重复测试，得到所述质量控制物质中各元素的第三测量值；基于所述各元素的所述第二测量值与所述第三测量值，确定所述各元素对应的第二相对误差；基于所述第二相对误差，得到所述pXRF对应的预热时间。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二相对误差，得到所述
pXRF对应的预热时间，包括：若所述第二相对误差小于或等于第二误差阈值，则将所述第一预热时间确定为所述pXRF对应的预热时间；若所述第二相对误差大于所述第二误差阈值，则将所述pXR...

【专利技术属性】
技术研发人员：回广骥，高卿楠，高鹏鑫，
申请(专利权)人：自然资源实物地质资料中心，
类型：发明
国别省市：