一种X衍射法计算石英结晶度指数的改进方法及应用技术

本发明专利技术属于石英结晶度衍射谱图像处理技术领域，公开了一种X衍射法计算石英结晶度指数的改进方法及应用。该方法利用确定的石英五指峰第四峰峰顶到与X衍射对应衍射线的交点的直线距离，以及第四峰峰顶到X衍射对应衍射线的交点的衍射线长度，计算石英结晶度指数；利用获得的石英结晶度指数表征石英X衍射谱图中出现的五指峰的第五个峰的完整程度。本发明专利技术的方法既可以满足表征石英结晶度的要求，同时不受人为因素影响，计算结果稳定性高，另一个优势是不受样品中石英结晶度本身高低的影响。势是不受样品中石英结晶度本身高低的影响。势是不受样品中石英结晶度本身高低的影响。

【技术实现步骤摘要】
一种X衍射法计算石英结晶度指数的改进方法及应用


[0001]本专利技术属于石英结晶度衍射谱图像处理
，公开了一种X衍射法计算石英结晶度指数的改进方法及应用。

技术介绍

[0002]石英结晶度指数(QCI)的计算方法有：红外光谱法、X衍射分析法和差热分析法。其中X衍射分析法最为常用，其方法为借助X衍射分析中67
°
～69
°
/2θ之间出现的石英五指峰的67.74
°
/2θ波峰强度(b)和67.85
°
/2θ波谷强度(I)来计算(图2A
‑
图2B)。计算公式通常如下：QCI＝F*a/b，其中F为比例因子或校正因子，通常使用人工石英(其结晶度定义为10)进行校准；a为波峰强度b与波谷强度I的差值。
[0003]通过上述分析，现有技术存在的问题及缺陷为：在读取波峰和波谷两个强度值之前要进行背景值的扣除，而扣除背景值则需要一条“平滑的背景线”，但是前人在研究中并没有给出所谓的“平滑的背景线”的准确定义。如图2
‑
图3所示，标号为1～5本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种X衍射法计算石英结晶度指数的改进方法，其特征在于，该方法利用X衍射图谱中石英五指峰第四峰峰顶到与X衍射对应衍射线的交点的直线距离，以及第四峰峰顶到X衍射对应衍射线的交点的衍射线图谱长度，利用石英结晶度指数公式计算石英结晶度指数，进而表征第五峰的完整程度。2.根据权利要求1所述的X衍射法计算石英结晶度指数的改进方法，其特征在于，计算石英结晶度指数公式为：QCIF＝L/D
‑
1式中，QCIF为石英结晶度指数；L为第四峰68.32
°
/2θ处峰顶与X衍射68.6
°
/2θ处对应衍射线的交点的X衍射线图谱长度；D为第四峰68.32
°
/2θ处峰顶与X衍射处68.6
°
/2θ对应衍射图谱线的交点的直线距离。3.根据权利要求1所述的X衍射法计算石英结晶度指数的改进方法，其特征在于，表征第五峰的完整程度中不扣除背景值表达石英五指峰第五峰的完整程度。4.根据权利要求1所述的X衍射法计算石英结晶度指数的改进方法，其特征在于，确定的石英五指峰第四峰峰顶到与X衍射对应衍射线的交点的直线距离，以及第四峰峰顶到X衍射对应衍射线交点的衍射线长度前需进行：将X衍射数据导入平滑处理软件，并进行平滑处理。5.根据权利要求1所述的X衍射法计算石英结晶度指数的改进方法，其特征在于，确定的石英五指峰第四峰峰顶到...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘国恒，刘可禹，赵建华，郭宗广，
申请(专利权)人：中国石油大学华东，
类型：发明
国别省市：