本申请公开了一种显示面板的检测方法及显示面板的检测装置，显示面板包括相对设置的阵列基板和对设基板，该检测方法用于检测阵列基板的公共电极与对设基板的公共电极的导通状态，该检测方法包括：使显示面板显示画面；使对设基板的公共电极与阵列基板的公共电极的电位保持一致；根据显示面板的显示画面的变化，判断阵列基板的公共电极与对设基板的公共电极的导通状态。通过上述方法，可以判断阵列基板的公共电极与对设基板的公共电极的导通状态，从而可以有效检测出显示面板的阶调色偏不良，解决了现有技术中显示面板的阶调色偏不良检出困难、易漏检的问题，提升了检测效率和准确度。准确度。准确度。
【技术实现步骤摘要】
显示面板的检测方法及显示面板的检测装置
[0001]本申请涉及显示
，特别是涉及一种显示面板的检测方法及显示面板的检测装置。
技术介绍
[0002]显示面板一般包括阵列基板和对设基板，阵列基板和对设基板均包括公共电极，位于阵列基板和对设基板之间的导电件用于导通阵列基板的公共电极与对设基板的公共电极。在显示面板进行点灯测试时，导电件未导通阵列基板的公共电极与对设基板的公共电极，容易出现灰阶过渡不均、阶调色偏不良的问题。
[0003]然而，现有技术中，显示面板的阶调色偏不良检出困难，容易漏检。
技术实现思路
[0004]本申请主要提供一种显示面板的检测方法及显示面板的检测装置，以解决现有技术中显示面板的阶调色偏不良检出困难的问题。
[0005]为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括相对设置的阵列基板和对设基板，该检测方法用于检测所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极的导通状态；包括：
[0006]使所述显示面板显示画面；
[0007]使所述对设基板的公共电极与所述阵列基板的公共电极的电位保持一致；
[0008]根据所述显示面板的显示画面的变化，判断所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极的导通状态。
[0009]其中，所述使所述对设基板的公共电极与所述阵列基板的公共电极的电位保持一致，包括：
[0010]将所述对设基板的公共电极与所述阵列基板的公共电极连接同一电压源。
[0011]其中，所述阵列基板的公共电极接地；所述将所述对设基板的公共电极与所述阵列基板的公共电极连接同一电压源，包括：
[0012]将所述对设基板的公共电极接地。
[0013]其中，所述将所述对设基板的公共电极接地，包括：
[0014]将连接导线的一端与对设基板的公共电极位于非显示区域的端部电连接，将连接导线的另一端接地。
[0015]其中，所述根据所述显示面板的显示画面的变化，判断所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极的导通状态，包括：
[0016]响应于所述显示面板的显示画面的亮度改变，判断所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极未导通。
[0017]其中，所述根据所述显示面板的显示画面的变化，判断所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极的导通状态，包括：
[0018]响应于所述显示面板的显示画面局部闪烁，判断所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极导通。
[0019]为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种显示面板的检测装置，所述显示面板包括相对设置的阵列基板和对设基板，该检测装置用于检测所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极的导通状态；包括：
[0020]图像采集组件，用于采集所述显示面板的显示画面的图像；
[0021]检测电路，与所述图像采集组件电连接；所述检测电路用于接收所述图像采集组件采集的所述显示面板的显示画面的图像，并根据所述显示面板的显示画面的变化，判断所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极的导通状态。
[0022]其中，所述检测电路用于，响应于所述显示面板的显示画面的亮度改变，判断所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极未导通。
[0023]其中，所述检测电路用于，响应于所述显示面板的显示画面局部闪烁，判断所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极导通。
[0024]其中，所述检测电路还用于与所述显示面板的驱动电路电连接；且响应于接收到检测信号，所述检测电路向所述驱动电路发送显示画面的点灯指令；
[0025]所述显示面板的检测装置还包括连接导线，用于与所述对设基板的公共电极电连接；所述连接导线还用于与所述阵列基板的公共电极连接同一电压源，以使所述对设基板的公共电极与所述阵列基板的公共电极的电位保持一致。
[0026]其中，所述阵列基板的公共电极接地，所述检测电路与所述连接导线电连接，用于将所述连接导线接地；所述检测电路还用于检测所述连接导线与所述对设基板的公共电极的连接状态；且响应于检测到所述连接导线与所述对设基板的公共电极电连接，所述检测电路向所述图像采集组件发送采集所述显示面板的显示画面的图像的指令。
[0027]其中，显示面板的检测装置还包括相互连接的驱动装置和夹持组件；所述驱动装置与所述检测电路电连接，所述夹持组件与所述连接导线的一端电连接；所述图像采集组件还用于采集所述显示面板的图像；且响应于所述图像采集组件采集到所述显示面板的图像，所述检测电路向所述驱动装置发送驱动指令，所述驱动装置根据所述驱动指令驱使所述夹持组件夹持所述对设基板的边缘，以使得所述夹持组件与所述对设基板的公共电极电连接。
[0028]本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请公开了一种显示面板的检测方法及显示面板的检测装置，显示面板包括相对设置的阵列基板和对设基板，该检测方法用于检测阵列基板的公共电极与对设基板的公共电极的导通状态，该检测方法包括：使显示面板显示画面；使对设基板的公共电极与阵列基板的公共电极的电位保持一致；根据显示面板的显示画面的变化，判断阵列基板的公共电极与对设基板的公共电极的导通状态。通过上述方法，可以判断阵列基板的公共电极与对设基板的公共电极的导通状态，从而可以有效检测出显示面板的阶调色偏不良，解决了现有技术中显示面板的阶调色偏不良检出困难、易漏检的问题，提升了检测效率和准确度。
附图说明
[0029]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现
有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，其中：
[0030]图1是本申请提供的显示面板的检测方法一实施例的流程示意图；
[0031]图2是图1提供的显示面板的检测方法中步骤S3的流程示意图；
[0032]图3是本申请提供的显示面板的检测装置一实施例的结构示意图；
[0033]图4是图3提供的显示面板的检测装置一实施方式的结构示意图；
[0034]图5是图3提供的显示面板的检测装置另一实施方式的结构示意图。
[0035]附图标号：
[0036]检测装置100；检测电路1；图像采集组件2；连接导线3；驱动装置4；夹持组件5。
具体实施方式
[0037]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0038]本申请实施例中的术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括相对设置的阵列基板和对设基板，该检测方法用于检测所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极的导通状态；其特征在于，包括：使所述显示面板显示画面；使所述对设基板的公共电极与所述阵列基板的公共电极的电位保持一致；根据所述显示面板的显示画面的变化，判断所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极的导通状态。2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述使所述对设基板的公共电极与所述阵列基板的公共电极的电位保持一致，包括：将所述对设基板的公共电极与所述阵列基板的公共电极连接同一电压源。3.根据权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述阵列基板的公共电极接地；所述将所述对设基板的公共电极与所述阵列基板的公共电极连接同一电压源，包括：将所述对设基板的公共电极接地。4.根据权利要求3所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述将所述对设基板的公共电极接地，包括：将连接导线的一端与对设基板的公共电极位于非显示区域的端部电连接，将所述连接导线的另一端接地。5.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据所述显示面板的显示画面的变化，判断所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极的导通状态，包括：响应于所述显示面板的显示画面的亮度改变，判断所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极未导通。6.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述根据所述显示面板的显示画面的变化，判断所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极的导通状态，包括：响应于所述显示面板的显示画面局部闪烁，判断所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极导通。7.一种显示面板的检测装置，所述显示面板包括相对设置的阵列基板和对设基板，所述检测装置用于检测所述阵列基板的公共电极与所述对设基板的公共电极的导通状态；其特征在于，包括：图像采集组件，用于采集所述显示面板的显示画面的图像；检测电路，与所述图像采集组件...
【专利技术属性】
技术研发人员：车小红，陈林，叶利丹，
申请(专利权)人：惠科股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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