一种U盘自助检测装置及检测方法制造方法及图纸

技术编号:38681887 阅读:10 留言:0更新日期:2023-09-02 22:54
本发明专利技术提供了一种U盘自助检测装置及检测方法,涉及机械设备技术领域,其中所述U盘自助检测装置包括中心转轴、检测部、取盘部、待检区及下料区,所述待检区及下料区设置在以所述中心转轴为旋转中心的圆周上,所述取盘部与所述检测部对应设置,且均与所述中心转轴连接,随所述中心转轴的转动能够旋转至所述待检区及所述下料区的对应位置,所述取盘部具有伸缩臂,通过所述伸缩臂的伸缩实现U盘的上料及下料。本技术方案解决了现有技术中如何提升U盘自动化检测的效率的技术问题。自动化检测的效率的技术问题。自动化检测的效率的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
一种U盘自助检测装置及检测方法


[0001]本专利技术涉及机械设备
,尤其是涉及一种U盘自助检测装置及检测方法。

技术介绍

[0002]U盘是USB盘的简称,据谐音也称“优盘”,U盘是闪存的一种,故有时也称作闪盘,U盘与硬盘的最大不同是,它不需物理驱动器,即插即用,且其存储容量远超过软盘,极便于携带,在U盘加工的过程中,需要对U盘进行检测、打标等操作。
[0003]传统的U盘生产线采用流水作业形式,主要靠人力协同传送带完成U盘零部件搬运、质量检测、装配、打标和包装;在人力协同传送带作业的过程中,发生生产事故的机率非常大,同时长时间质量检测容易产生视觉疲劳,视觉疲劳和日常情感因素极大地影响着工人的工作效率和工作质量,难以保证产品的标准化;尤其在劳动力成本逐渐上升的今天,流水作业U盘装配检测形式已经难以满足企业的生存发展要求,在U盘全自动生产线中,如何实现快捷高效的自动化检测,是自动生产线的重要问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种U盘自助检测装置及检测方法,以解决现有技术中如何提升U盘自动化检测的效率的技术问题。本专利技术提供的诸多技术方案中的优选技术方案所能产生的诸多技术效果详见下文阐述。
[0005]为实现上述目的,一方面,本专利技术提供了一种U盘自助检测装置,包括中心转轴、检测部、取盘部、待检区及下料区,所述待检区及下料区设置在以所述中心转轴为旋转中心的圆周上,所述取盘部与所述检测部对应设置,且均与所述中心转轴连接,随所述中心转轴的转动能够旋转至所述待检区及所述下料区的对应位置,所述取盘部具有伸缩臂,通过所述伸缩臂的伸缩实现U盘的上料及下料。可选地,所述检测部的前端设置有前端开口,所述前端开口的底部设置有U盘母座,所述前端开口的两侧面设置有对称的凹槽,使得所述U盘能够从前端沿所述凹槽插入所述U盘母座。
[0006]可选地,所述伸缩臂设置在所述检测部的下方,所述伸缩臂前端设置有向上的置物凸台,所述置物凸台的宽度略小于所述前端开口的宽度。
[0007]可选地,所述置物凸台的前端在竖直方向设置有取盘销,所述取盘销在取盘销驱动部的作用下能够实现上下运动,所述取盘销在向上运动时能够插入U盘的尾孔。
[0008]可选地,所述待检区及所述下料区所在圆周的径向位置对应于所述伸缩臂伸出时其前端所在的径向位置,所述待检区包括竖直设置的中空的U盘容纳槽,所述U盘容纳槽的底部及朝向中心转轴一侧的底端设置有相连的开孔,所述开孔的宽度大于所述取盘销的宽度且小于所述U盘的宽度,所述开孔位于所述U盘容纳槽侧面部分的高度大于所述U盘的厚度,所述U盘容纳槽的底面在竖直方向上略高于所述置物凸台的顶面。
[0009]可选地,所述下料区包括下料罩,所述下料罩面向所述中心转轴的侧面上设置有
下料开口,所述下料开口能够允许携带U盘的所述伸缩臂的前端进入所述下料罩,所述下料罩内沿其所在圆周周向的一侧设置有下料通道,另一侧设置有阻拦板,所述阻拦板与所述伸缩臂上的U盘位于同一高度位置。
[0010]可选地,还包括激光雕刻部,所述激光雕刻部设置在以所述中心转轴为旋转中心的圆周上,其径向位置对应所述U盘插入所述检测部时所述U盘所在的径向位置。
[0011]可选地,所述激光雕刻部的下端连接有吸尘器罩。
[0012]可选地,所述检测部连接有翻转电机,所述检测部在电机的驱动下能够进行旋转翻面,所述检测部的一侧面上连接一挡板,所述检测部的两边的位置上分别设置一位置传感器,通过所述挡板与所述位置传感器的相对位置对所述检测部的旋转翻面进行定位。
[0013]另一方面,本专利技术提供了一种U盘自助检测方法,利用如上所述的U盘自助检测装置对U盘进行自助检测,包括如下步骤:步骤一:检测部及伸缩臂旋转至上料工位,伸缩臂伸出至待检区的U盘容纳槽下方,取盘销向上运动插入U盘尾孔,伸缩臂收回直至U盘通过前端开口插入U盘母座;步骤二:通过检测部对U盘进行状态检测,通过后下载指定数据;步骤三:检测部及伸缩臂旋转至雕刻工位,激光雕刻部对U盘正面进行指定图文雕刻,取盘销降下,伸缩臂伸出,检测部翻转180度后,激光雕刻部对U盘反面进行指定图文雕刻;步骤四:伸缩臂收回,检测部及伸缩臂旋转至下料工位,取盘销上升,伸缩臂伸出进入下料罩,取盘销降下,检测部及伸缩臂朝向阻拦板所在方向旋转一定角度,使得U盘在阻拦板的推挡下落入下料通道。
[0014]本专利技术的技术方案可以包括以下有益效果:本专利技术提供的一种U盘自助检测装置及检测方法,将U盘检测部设置为能够绕中心转轴旋转的结构,将上料工位和下料工位设置在中心转轴的圆周上,通过中心转轴带动检测部旋转即可到达上料工位和下料工位,并设置了伸缩臂,其能够以伸缩的方式实现待检部、下料部与检测部间的取物从而实现U盘的上料和下料,从而使U盘的检测过程能够实现全自动化,且通过旋转实现工位间的切换,使得整个检测终端结构简单,工位切换仅通过中心转轴即可实现,简单流畅,使得整个检测终端简洁高效。
[0015]由此可见,本技术方案解决了现有技术中如何提升U盘自动化检测的效率的技术问题。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1是本专利技术实施例一种U盘自助检测装置的结构示意图;图2是本专利技术实施例一种U盘自助检测装置处于上料状态的结构示意图;图3是图2中Ⅰ处的局部放大图;图4是本专利技术实施例一种U盘自助检测装置的U盘容纳槽的结构示意图;
图5是本专利技术实施例一种U盘自助检测装置处于雕刻状态的结构示意图;图6是图5中Ⅱ处的局部放大图;图7是本专利技术实施例一种U盘自助检测装置的检测部处于翻转状态的局部结构示意图;图8是本专利技术实施例一种U盘自助检测装置处于下料状态的结构示意图;图9是图8中Ⅲ处的局部放大图。
[0018]图中:1、中心转轴;2、检测部;21、前端开口;22、挡块;3、伸缩臂;31、取盘销;32、置物凸台;4、待检区;41、U盘容纳槽;411、开孔;5、下料区;51、下料通道;52、下料罩;53、阻拦板;6、激光雕刻部;61、吸尘器罩;62、吸尘器管;7、U盘;71、U盘尾孔;8、位置传感器;9、框体。
具体实施方式
[0019]为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将对本专利技术的技术方案进行详细的描述。显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式,都属于本专利技术所保护的范围。
[0020]如图1

9所示:一方面,本专利技术提供了一种U盘自助检测装置,包括中心转轴1、检测部2、取盘部、待检区4及下料区5,所述待检区4及下料区5设置在以所述中心转轴1为旋转中本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种U盘自助检测装置,其特征在于,包括中心转轴、检测部、取盘部、待检区及下料区,所述待检区及下料区设置在以所述中心转轴为旋转中心的圆周上,所述取盘部与所述检测部对应设置,且均与所述中心转轴连接,随所述中心转轴的转动能够旋转至所述待检区及所述下料区的对应位置,所述取盘部具有伸缩臂,通过所述伸缩臂的伸缩实现U盘的上料及下料。2.根据权利要求1所述的U盘自助检测装置,其特征在于,所述检测部的前端设置有前端开口,所述前端开口的底部设置有U盘母座,所述前端开口的两侧面设置有对称的凹槽,使得所述U盘能够从前端沿所述凹槽插入所述U盘母座。3.根据权利要求2所述的U盘自助检测装置,其特征在于,所述伸缩臂设置在所述检测部的下方,所述伸缩臂前端设置有向上的置物凸台,所述置物凸台的宽度略小于所述前端开口的宽度。4.根据权利要求3所述的U盘自助检测装置,其特征在于,所述置物凸台的前端在竖直方向设置有取盘销,所述取盘销在取盘销驱动部的作用下能够实现上下运动,所述取盘销在向上运动时能够插入U盘的尾孔。5.根据权利要求4所述的U盘自助检测装置,其特征在于,所述待检区及所述下料区所在圆周的径向位置对应于所述伸缩臂伸出时其前端所在的径向位置,所述待检区包括竖直设置的中空的U盘容纳槽,所述U盘容纳槽的底部及朝向中心转轴一侧的底端设置有相连的开孔,所述开孔的宽度大于所述取盘销的宽度且小于所述U盘的宽度,所述开孔位于所述U盘容纳槽侧面部分的高度大于所述U盘的厚度,所述U盘容纳槽的底面在竖直方向上略高于所述置物凸台的顶面。6.根据权利要求5所述的U盘自助检测装置,其特征在于,所述下料区包括下料罩,所述下料罩面向所述中心转轴的侧面上设置有下料开口,所述下料...

【专利技术属性】
技术研发人员:巴树海
申请(专利权)人:巴方医疗科技北京有限公司
类型:发明
国别省市:

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