本发明专利技术涉及一种晶体振荡器在线批量温度性能测试装置及测试方法，测试装置包括多个依次并排对接的温控箱，每个温控箱的温度设置不同，每个温控箱的箱体一端侧壁上开设进料口，另一相对端的侧壁上对称开设出料口，每个温控箱内设有传送机构、冷却机构、测试机构；所述传送机构用于将装载待测产品的料盘从箱体的进料口输送至箱体内的测试位及出料口，所述测试机构外部连接测试设备，测试机构包括可沿箱体水平方向平移的测试头，测试头相对于箱体底板可上下移动；冷却机构包括可升降的冷却板，冷却板位于测试头下部，冷却板用于与料盘底部贴合。本发明专利技术可实现对产品的全检，能够在制造阶段将不良品剔除，大大降低了成品使用过程中的不良率。不良率。不良率。
【技术实现步骤摘要】
一种晶体振荡器在线批量温度性能测试装置及测试方法
[0001]本专利技术涉及电子元器件测试
，具体涉及一种晶体振荡器在线批量温度性能测试装置及测试方法。
技术介绍
[0002]晶体振荡器在制作过程中需要对产品进行不同温度下的性能测试，因为电子产品工作时对于外界温度变化非常敏感，例如市售的车用级晶体振荡器，通常标注温度在
‑
40℃～120℃之间的频率偏差小于1PPF，在生产过程中，需对该温度范围内的频率进行测试，以剔除性能不合格的产品。
[0003]但现有晶体振荡器不同温度下的性能测试，通常将待测试产品放置于能控温的保温箱内，配合相关的测试设备实现某一设定温度下的性能参数。这种现有测试手段只适合小批量的抽检测试，并不适合产品的在线批量全检使用。因此，对于晶体振荡器的生产，目前还是普遍采用抽检方式来检验产品批次的良品率，并不能完全筛选出所有的不合格产品。
技术实现思路
[0004]本专利技术首先公开一种晶体振荡器在线批量温度性能测试装置，采用自动化测试手段实现晶体振荡器的在线批量化温度性能测试，可实现对产品的全检作业，能够在制造阶段将不良品剔除，大大降低了成品使用过程中的不良率。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术所采用的技术方案为：一种晶体振荡器在线批量温度性能测试装置，包括多个依次并排对接的温控箱，每个温控箱的温度设置不同，每个温控箱的箱体一端侧壁上开设进料口，另一相对端的侧壁上对称开设出料口，每个温控箱内设有传送机构、冷却机构、测试机构；所述传送机构用于将装载待测产品的料盘从箱体的进料口输送至箱体内的测试位及出料口，所述测试机构外部连接测试设备，测试机构包括可沿箱体水平方向平移的测试头，测试头相对于箱体底板可上下移动；冷却机构包括可升降的冷却板，冷却板位于测试头下部，冷却板用于与料盘底部贴合。
[0006]进一步，多个温控箱自首端至末端温度递增或递减。
[0007]进一步，所述箱体内的测试位处安装位置传感器，位置传感器用于检测料盘的位置，所述箱体内还安装有温度传感器，温度传感器用于检测料盘的温度。
[0008]进一步，所述传送机构包括传动电机、被传动电机驱动的传动轴、安装在传动轴上的主动轮、设置在箱体另一侧的从动轮、连接主动轮与从动轮的传送带。
[0009]进一步，所述测试机构包括水平驱动装置和升降驱动装置，测试头的两端设置压块，压块用于压住料盘的边缘，压块底部安装温度传感器，两个压块之间并排设置多个探针，探针用于与料盘上的待测产品接触，水平驱动装置用于带动测试头沿料盘上阵列装载的待测试产品步进方向移动，升降驱动装置用于控制测试头升降。
[0010]进一步，所述压块底部设有弹簧。
[0011]进一步，所述水平驱动装置包括电机、由电机驱动的齿轮组、由齿轮组带动其转动的丝杠、套设在丝杠上的滑块，滑块与连接板相连，连接板与支撑板相连，支撑板下部设置测试头；升降驱动装置包括安装于支撑板顶部的电动引动器，电动引动器的输出端与测试头相连。
[0012]进一步，所述冷却机构包括驱动冷却板升降的升降驱动装置，升降驱动装置包括顶升电机、由顶升电机驱动的齿轮组、由齿轮组带动其转动的丝杠、丝杠顶端与冷却板底部相连。
[0013]进一步，所述冷却板包括位于底层的水冷板、位于中层的制冷片放置板、位于顶层的料盘放置板，制冷片放置板上安装半导体制冷片，料盘放置板的顶面设有定位销，定位销用于与料盘上的定位孔配合对料盘定位。
[0014]本专利技术同时还公开利用上述测试装置在线批量测试晶体振荡器温度性能的测试方法，包括如下步骤：步骤1：将设定不同温度的温控箱并排对接，令前一个温控箱的出料口对接下一个温控箱的进料口；步骤2：将装载晶体振荡器阵列的料盘放置于排在首位温控箱内传送机构的传送带上，启动传动电机将料盘输送至温控箱内的测试位；步骤3：冷却机构的顶升电机启动将冷却板向上顶升至与料盘接触；步骤4：完成步骤3后，测试机构中的电机启动，并带动测试头移动至料盘上晶体振荡器阵列中的第一列待测产品上方，测试机构中的电动引动器带动测试头向下移动，令测试头两端的压块压住料盘边缘，压块底部的温度传感器实时检测料盘的温度并反馈给上位机；步骤5：待料盘温度达到设定温度后，测试机构中的电动引动器继续带动测试头下部并排设置的多个探针向下移动，令探针与料盘上的晶体振荡器接触，测试机构外接的测试设备触发测试信号，测试数据反馈给上位机，并记录下当前测试温度下晶体振荡器所在位置不合格产品的坐标；步骤6：完成晶体振荡器第一列的测试后，电动引动器带动测试头向上复位，测试机构的电机启动带动测试头移动至晶体振荡器的下一列，继续重复步骤4和步骤5，直至完成对料盘上所有晶体振荡器的测试；步骤7：当前温控箱内完成料盘上所有晶体振荡器的测试后，测试机构的电机带动测试头复位，冷却机构的顶升电机带动冷却板复位，传送机构的传动电机带动料盘由当前温控箱的出料口传入下一个对接温控箱的进料口中，继续按照步骤2至步骤7执行，直至完成所有温控箱内的温度性能测试。
[0015]本专利技术所设计的在线批量温度性能测试装置，不仅适用于晶体振荡器的在不同温度下的性能测试，同样也适用于其他电子元器件需在不同温度下批量测试其性能使用。采用本专利技术所设计的测试装置可对产品实现全检测筛选，能在制造阶段将不良品进行剔除，提高了产品出厂的合格率，降低了产品使用过程中发生失效的概率。本专利技术所设计的温控箱内设有冷却机构，测试时，可将对应温控箱的温度比待测试温度设定高一些，令输送至温控箱内的装载产品的料盘快速升温，然后利用冷却机构与料盘接触快速降温至待测试温
度，对于非连续性温度测试下，具有测试速度快、测试效率高、操作方便的优势，适合于产品在线批量测试使用。
附图说明
[0016]图1为实施例测试装置中单个温控箱的结构示意图；图2为温控箱内部设置的相关结构示意图；图3为冷却机构中冷却板的爆炸图；图4为装载晶体振荡器的料盘结构示意图。
[0017]附图标记说明：100、温控箱；101、进料口；102、出料口；103、箱体；200、传送机构；201、传动电机；202、传动轴；203、主动轮；204、传送带；205、从动轮；300、冷却机构；301、顶升电机；302、传动轴；303、齿轮；304、支撑座；305、齿轮；306、丝杠；307、水冷板；308、制冷片放置板；309、半导体制冷片；310、料盘放置板；311、定位销；400、测试机构；401、电机；402、齿轮；403、齿轮；404、丝杠；405、连接板；406、支撑板；407、压块；408、探头；409、探针；410、电动引动器；500、位置传感器；600、料盘；601、定位孔。
具体实施方式
[0018]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0019]本实施例首先公开一种晶体振荡器在线批量温度性能测试装置，如图1至图3所示，该测试装置主要包括如图1所示的温控箱100，该温控箱100内部可以预设本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种晶体振荡器在线批量温度性能测试装置，其特征在于：包括多个依次并排对接的温控箱，每个温控箱的温度设置不同，每个温控箱的箱体一端侧壁上开设进料口，另一相对端的侧壁上对称开设出料口，每个温控箱内设有传送机构、冷却机构、测试机构；所述传送机构用于将装载待测产品的料盘从箱体的进料口输送至箱体内的测试位及出料口，所述测试机构外部连接测试设备，测试机构包括可沿箱体水平方向平移的测试头，测试头相对于箱体底板可上下移动；冷却机构包括可升降的冷却板，冷却板位于测试头下部，冷却板用于与料盘底部贴合。2.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器在线批量温度性能测试装置，其特征在于：多个温控箱自首端至末端温度递增或递减。3.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器在线批量温度性能测试装置，其特征在于：所述箱体内的测试位处安装位置传感器，位置传感器用于检测料盘的位置，所述箱体内还安装有温度传感器，温度传感器用于检测料盘的温度。4.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器在线批量温度性能测试装置，其特征在于：所述传送机构包括传动电机、被传动电机驱动的传动轴、安装在传动轴上的主动轮、设置在箱体另一侧的从动轮、连接主动轮与从动轮的传送带。5.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器在线批量温度性能测试装置，其特征在于：所述测试机构包括水平驱动装置和升降驱动装置，测试头的两端设置压块，压块用于压住料盘的边缘，压块底部安装温度传感器，两个压块之间并排设置多个探针，探针用于与料盘上的待测产品接触，水平驱动装置用于带动测试头沿料盘上阵列装载的待测试产品步进方向移动，升降驱动装置用于控制测试头升降。6.根据权利要求5所述的一种晶体振荡器在线批量温度性能测试装置，其特征在于：所述压块底部设有弹簧。7.根据权利要求5所述的一种晶体振荡器在线批量温度性能测试装置，其特征在于：所述水平驱动装置包括电机、由电机驱动的齿轮组、由齿轮组带动其转动的丝杠、套设在丝杠上的滑块，滑块与连接板相连，连接板与支撑板相连，支撑板下部设置测试头；升降驱动装置包括安装于支撑板顶部的电动引动器，电动引动器的输出端与测试头相连。8.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴震宇，张壮，周永杰，程晓颖，
申请(专利权)人：浙江理工大学，
类型：发明
国别省市：
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