一种使用于ASIC的内置逻辑分析仪的方法技术

本发明专利技术公开一种使用于ASIC的内置逻辑分析仪的方法，属于集成电路设计领域。本发明专利技术基于ASIC中已有的调试总线来扩展一个内置逻辑分析仪，调试总线中有每个模块最重要的关键信号，无需为内置逻辑分析仪额外再整理信号源，以节省资源；内置逻辑分析仪是周期性的，在每个周期分析是否满足设定的状态，将每个模块的工作时钟随调试总线一起送出，并和调试总线一起参与模块间的选择；选出一组或者多组调试总线和其对应的时钟，给内置逻辑分析仪进行分析。本发明专利技术对传统调试总线的可以观测的数据做了有效扩充，增加了调试可以应用于高速时钟的使用方式，增加了调试总线可以观测的方式，都大大提升了IC回来调试的方式方法，提升了调试的效率。的效率。的效率。

【技术实现步骤摘要】
一种使用于ASIC的内置逻辑分析仪的方法


[0001]本专利技术涉及集成电路设计
，特别涉及一种使用于ASIC的内置逻辑分析仪的方法。

技术介绍

[0002]在IC（芯片）内部，通常会规划调试总线用于观测ASIC（Application Specific Integrated Circuit，专用集成电路）内部的信号，调试总线可以送到RO（只读）寄存器供cpu（中央处理器）存取，或者送到芯片管脚；调试总线可以通过示波器或者逻辑分析仪来观测。
[0003]IC内部的主频时钟通常都比较快，一般大于200兆甚至更高；这两种情况都有速度的问题：寄存器存取接口通常在几兆或者几十兆的时钟，一次寄存器存取更慢；送到芯片管脚观测，芯片管脚通常也是能接受几十兆，最多100多兆的速度，无法观测到IC内部随着主频每拍都可能跳变的信号，因此送到调试总线的通常都是比较静态的状态。而且在研发过程中，也无法将想要看的状态都想的非常的全面。
[0004]为了解决上述的痛点，亟需一种适用于ASIC的内置逻辑分析仪的方法，能够实现对调试总线做扩展，也弹性地检测内部的高速变化的信号，将其结果记录下来。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种使用于ASIC的内置逻辑分析仪的方法，以解决
技术介绍
中的问题。
[0006]为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种使用于ASIC的内置逻辑分析仪的方法，基于ASIC中已有的调试总线来扩展一个内置逻辑分析仪，调试总线中有每个模块最重要的关键信号，无需为内置逻辑分析仪额外再整理信号源，以节省资源；内置逻辑分析仪是基于每个时钟周期的，在每个时钟周期分析是否满足设定的状态，将每个模块的工作时钟随调试总线一起送出，并和调试总线一起参与模块间的选择；选出一组或者多组调试总线和其对应的时钟，给内置逻辑分析仪进行分析。
[0007]在一种实施方式中，所述内置逻辑分析仪输入调试总线后，经过位选择/位屏蔽的功能，选出需要观测的信号；经过模式选择来观测关注的状态；然后将结果产生并提供合适的可观测的方式。
[0008]在一种实施方式中，所述位选择/位屏蔽的方式为：选出调试总线整组信号中的任意一个或者多个，以增加观测信号组合的弹性。
[0009]在一种实施方式中，所述内置逻辑分析仪选定需要观测的信号之后便开始内置逻辑分析仪的分析功能，主要分成两个模式：事件模式和捕获模式；其中事件模式用来检测是否发生符合某一种设定的事件；捕获模式是用来存储数据，然后将数据读出来分析的。
[0010]在一种实施方式中，所述事件模式按触发的类型分为边沿触发模式和电平触发模式；所述边沿触发模式用上升沿或下降沿的事件来作为事件触发的状态，每个被选出来的信号都单独配置是用上升沿还是下降沿来检测，同时还配置监测边沿发生的次数，当满足要求时表示事件发生；所述电平触发模式用电平作为事件触发的状态，每个被选出来的信号都单独配置用高电平还是低电平来监测，同时还配置电平的时间，当满足要求时表示事件发生。
[0011]在一种实施方式中，所述事件模式按观测的信号的数量分为单事件模式和全事件模式；所述单事件模式选出的信号中，只要有一个发生指定的沿或者电平，则将此事件记录下来，记录到闩锁高的寄存器；所述全事件模式选出的信号中，全都发生指定的沿或者电平，则将此事件记录下来。
[0012]在一种实施方式中，所述捕获模式用来存储发生一个事件的前后数据，并把数据存到存储器或者寄存器中去，然后读出来分析。
[0013]在一种实施方式中，所述捕获模式分为3种模式：当前模式、前期模式和后期模式；所述当前模式用于存储事件发生时的数据，如果事件长时间发生，需要捕获一长串的数据，则将数据捕获下来后存到存储器中；所述前期模式用于存储事件发生之前的数据，存储器会一直存数据，直到事件发生时停止，保存数据；如果数据的量大，只能存事件发生之前有限的数据量；所述后期模式用于存储事件发生之后的数据，当事件发生之后开始存数据，可存的数据量能够设定，最大是整个存储器的大小，存满后停止。
[0014]在一种实施方式中，所述内置逻辑分析仪中的结果处理模块将结果产生并提供合适的可观测的方式，结果的处理可以有多种方式：每一次事件的发生，作为中断一路源头，通知cpu有该事件发生，适用于重要的事件急需cpu处理的情况；将事件的发生用闩锁高或闩锁低的寄存器保存下来，或者计次的寄存器保存下来，通过寄存器存取来获得内置逻辑分析仪结果的情况；将结果做成一个新的调试总线源，送到调试总线，通过管脚来观察；捕获模式将捕获下来的数据存储在存储器中，通过存储器存取的内容得到数据进而分析需要的应用场景。
[0015]本专利技术提供的一种使用于ASIC的内置逻辑分析仪的方法，具有以下有益效果：1）用调试总线作为源来扩展内置逻辑分析仪，以节省资源；调试总线的每一位都有一个寄存器来选择是否需要成为观测的对象；并用对应的基于时钟周期分析选中的观测对象，主要有事件模式和捕获模式两种，两者都有多种灵活的应用方式，方便将需要观测的信号组合各种状况来做分析；2）事件模式可以有多个信号的单个事件模式，也有多个信号的全事件模式，边沿触发模式可以设定上升沿和下降沿混用，也可以要求计数达到设定的次数才表示事件发生；电平触发模式可以计时，当达到一定的时长才表示事件发生。边沿触发模式和电平触发
模式也可组合起来混合使用；3）捕获模式有多个模式可以选择，大大增加数据需要观测的场景的应用弹性，有当前模式可以看到事件发生时数据的情况；前期模式可以分析事件发生之前，数据的情况；后期模式可以分析事件发生之后数据的情况；4）内置逻辑分析仪的结果也是有多种可观测方式，可以结合应用场景来使用；对于优先级非常高的事件，可以占用中断的一路源头，通知cpu；对于普通的调试，则可以将结果存在内部的寄存器中，用寄存器存取的方式来轮询状态；对于需要捕获下来的大量的数据，可以存储在存储器中；也可以作为调试总线一路源头，送到管脚去观测。
附图说明
[0016]图1是基于ASIC中已有的调试总线来扩展一个内置的LA的结构示意图。
[0017]图2是内置逻辑分析仪的结构框图。
[0018]图3是位选择/位屏蔽的示意图。
[0019]图4是捕获模式示意图。
[0020]图5是当前模式的示意图。
[0021]图6是事件长时间为1时的当前模式示意图。
[0022]图7是前期模式的示意图。
[0023]图8是数据的量比较大时前期模式的示意图。
[0024]图9是后期模式的示意图。
[0025]图10是存储器存满数据后停止的示意图。
具体实施方式
[0026]以下结合附图和具体实施例对本专利技术提出的一种使用于ASIC的内置逻辑分析仪的方法作进一步详细说明。根据下面说明，本专利技术的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本专利技术实施例的目的。
[0027]本专利技术是基于ASI本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种使用于ASIC的内置逻辑分析仪的方法，其特征在于，基于ASIC中已有的调试总线来扩展一个内置逻辑分析仪，调试总线中有每个模块最重要的关键信号，无需为内置逻辑分析仪额外再整理信号源，以节省资源；内置逻辑分析仪是基于每个时钟周期的，在每个时钟周期分析是否满足设定的状态，将每个模块的工作时钟随调试总线一起送出，并和调试总线一起参与模块间的选择；选出一组或者多组调试总线和其对应的时钟，给内置逻辑分析仪进行分析。2.如权利要求1所述的使用于ASIC的内置逻辑分析仪的方法，其特征在于，所述内置逻辑分析仪输入调试总线后，经过位选择/位屏蔽的功能，选出需要观测的信号；经过模式选择来观测关注的状态；然后将结果产生并提供合适的可观测的方式。3.如权利要求2所述的使用于ASIC的内置逻辑分析仪的方法，其特征在于，所述位选择/位屏蔽的方式为：选出调试总线整组总线中的任意一个或者多个，以增加观测信号组合的弹性。4.如权利要求2所述的使用于ASIC的内置逻辑分析仪的方法，其特征在于，所述内置逻辑分析仪选定需要观测的信号之后便开始内置逻辑分析仪的分析功能，主要分成两个模式：事件模式和捕获模式；其中事件模式用来检测是否发生符合某一种设定的事件；捕获模式是用来存储数据，然后将数据读出来分析的。5.如权利要求4所述的使用于ASIC的内置逻辑分析仪的方法，其特征在于，所述事件模式按触发的类型分为边沿触发模式和电平触发模式；所述边沿触发模式用上升沿或下降沿的事件来作为事件触发的状态，每个被选出来的信号都单独配置是用上升沿还是下降沿来检测，同时还配置监测边沿发生的次数，当满足要求时表示事件发生；所述电平触发模式用电平作为事件触发的状态，每个被选出来的信号都单独配置用高电平还是低电平来监测，同时还配置电平的时间，当满足要求时表示事件发生。6....

【专利技术属性】
技术研发人员：吴光林，程剑平，
申请(专利权)人：上海芯炽科技集团有限公司，
类型：发明
国别省市：