一种测试超高压碳化硅芯片测试台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种测试超高压碳化硅芯片测试台，包括装置主体，所述装置主体的内部设置有支撑座，且支撑座的上端安装有第一传输装置，所述第一传输装置的两端分别安装有第一挡板与第二挡板，所述支撑座上端安装有测试箱，且测试箱的内部安装有检测装置，所述测试箱的侧壁安装有控制器，且控制器与检测装置电性连接，所述测试箱的内部侧部安装有电动伸缩杆，且电动伸缩杆的输出端贯穿于第一挡板的内部，在对芯片进行测试，通过设置在测试箱内部的电动伸缩杆能够便捷的对不合格的芯片进行突出，利用控制器的自动化控制，使装置主体能够便捷的将合格与不合格的芯片进行便捷的分类与储物箱与废料箱的内部。类与储物箱与废料箱的内部。类与储物箱与废料箱的内部。

【技术实现步骤摘要】
一种测试超高压碳化硅芯片测试台


[0001]本技术涉及测试台的
，具体为一种测试超高压碳化硅芯片测试台。

技术介绍

[0002]碳化硅芯片的主要应用领域有LED固体照明和高频率器件。该材料具有高出传统硅数倍的禁带、漂移速度、击穿电压、热导率、耐高温等优良特性，在高温、高压、高频、大功率、光电、抗辐射、微波性等电子应用领域和航天、军工、核能等极端环境应用有着不可替代的优势。但是在进行使用前，需要对其进行检测。
[0003]经检索，中国专利授权号为CN213316293U的专利，公开了一种适用于碳化硅芯片生产的测试装置。所述适用于碳化硅芯片生产的测试装置包括：箱体；单轴电机，所述单轴电机固定安装在箱体的顶部；第一皮带轮，所述第一皮带轮固定安装在单轴电机的输出轴上；多个带动杆，多个带动杆均转动安装在箱体内，多个带动杆的两端均延伸至箱体外；第二皮带轮，所述第二皮带轮固定安装在任意一个带动杆的一端；拉带，所述拉带套设在第一皮带轮和第二皮带轮上；多个带动辊，多个带动辊分别固定套设在多个带动杆上；传送带，所述传送带套设在多个带动辊上。上述方案优点在于，具有使用方便，可以自动对不合格的产品进行分拣的优点。但是该装置在对不合格的芯片进行取出使不能够便捷的取出。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本技术提供了一种测试超高压碳化硅芯片测试台，解决在对芯片进行测试时，能够便捷的对合格与不合格的芯片进行分类处理的问题。
[0005]为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种测试超高压碳化硅芯片测试台，包括装置主体，所述装置主体的内部设置有支撑座，且支撑座的上端安装有第一传输装置，所述第一传输装置的两端分别安装有第一挡板与第二挡板，所述支撑座上端安装有测试箱，且测试箱的内部安装有检测装置，所述测试箱的侧壁安装有控制器，且控制器与检测装置电性连接。
[0006]优选的，所述测试箱的内部侧部安装有电动伸缩杆，且电动伸缩杆的输出端贯穿于第一挡板的内部，且连接有推板，所述电动伸缩杆与控制器电性连接。
[0007]优选的，所述第二挡板的侧壁内部设置有第一空心槽，所述支撑座的上端内部安装有连接箱，且连接箱的内部与第一空心槽相连通。
[0008]优选的，所述支撑座的内部设置有第二空心槽，所述连接箱的下端贯穿于第二空心槽的内部，且支撑座的下端安装有废料箱，所述废料箱与连接箱的内部相连通，所述支撑座的下端设置有滑槽，且废料箱的上端安装有滑块，所述滑块通过废料箱滑动连接于滑槽的内部。
[0009]优选的，所述装置主体的内部安装有第二传输装置，且第二传输装置的右端连接于支撑座的左端。
[0010]优选的，所述第二传输装置的下端连接有储物箱，且储物箱的内部安装有斜板。
[0011]本技术提供了一种测试超高压碳化硅芯片测试台。具备以下有益效果：
[0012]该一种测试超高压碳化硅芯片测试台，在对芯片进行测试，通过设置在测试箱内部的电动伸缩杆能够便捷的对不合格的芯片进行突出，利用控制器的自动化控制，使装置主体能够便捷的将合格与不合格的芯片进行便捷的分类与储物箱与废料箱的内部。
附图说明
[0013]图1为本技术整体结构示意图；
[0014]图2为本技术电动伸缩杆结构示意图；
[0015]图3为本技术第一空心槽结构示意图；
[0016]图4为本技术滑槽与滑块结构示意图。
[0017]图中，1
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装置主体、2
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支撑座、3
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第一传输装置、4
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第一挡板、5
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第二挡板、6
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测试箱、7
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控制器、8
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检测装置、9
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第二传输装置、10
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储物箱、11
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斜板、12
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电动伸缩杆、13
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第一空心槽、14
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连接箱、15
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推板、16
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第二空心槽、17
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废料箱、18
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滑槽、19
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滑块。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0019]请参阅图1
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4，本技术实施例提供一种技术方案：一种测试超高压碳化硅芯片测试台，包括装置主体1，所述装置主体1的内部设置有支撑座2，且支撑座2的上端安装有第一传输装置3，所述第一传输装置3的两端分别安装有第一挡板4与第二挡板5，所述支撑座2上端安装有测试箱6，且测试箱6的内部安装有检测装置8，所述测试箱6的侧壁安装有控制器7，且控制器7与检测装置电性连接。
[0020]所述测试箱6的内部侧部安装有电动伸缩杆12，且电动伸缩杆12的输出端贯穿于第一挡板4的内部，且连接有推板15，所述电动伸缩杆12与控制器7电性连接，从而通过控制器7能够控制电动伸缩杆12的工作，且通过电动伸缩杆12使推板推动第一传输装置3上不合格的芯片。
[0021]所述第二挡板5的侧壁内部设置有第一空心槽13，所述支撑座2的上端内部安装有连接箱14，且连接箱14的内部与第一空心槽13相连通，从而通过推板15在推动芯片时，能够推向第一空心槽13,从而能够使芯片进入连接箱14的内部。
[0022]所述支撑座2的内部设置有第二空心槽16，所述连接箱14的下端贯穿于第二空心槽16的内部，且支撑座2的下端安装有废料箱17，所述废料箱17与连接箱14的内部相连通，所述支撑座2的下端设置有滑槽18，且废料箱17的上端安装有滑块19，所述滑块19通过废料箱17滑动连接于滑槽18的内部，从而使不合格的芯片进入至废料箱17内部，通过滑槽18与滑块19能够使废料箱17滑出，能够便捷的将内部的芯片处理。
[0023]所述装置主体1的内部安装有第二传输装置9，且第二传输装置9的右端连接于支撑座2的左端，从而能够便捷的使第一传输装置3内的芯片传输至第二传输装置9的上表面。
[0024]所述第二传输装置9的下端连接有储物箱10，且储物箱10的内部安装有斜板11，从
而通过斜板11能够使合格的芯片便捷的进入储物箱10的内部。
[0025]该装置工作原理：在对芯片进行检测时，通过控制器7设置的检测装置、电动伸缩杆的工作状态，在进行工作时，将芯片放置于第一传输装置上，同时装置主体1的内部设备开始工作，当芯片进入至检测装置8的下端时，不合格的会通过电动伸缩杆12推动推板15，通过推板15将芯片推向第一空心槽13的内部，当检测的为合格时，第一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试超高压碳化硅芯片测试台，包括装置主体(1)，其特征在于：所述装置主体(1)的内部设置有支撑座(2)，且支撑座(2)的上端安装有第一传输装置(3)，所述第一传输装置(3)的两端分别安装有第一挡板(4)与第二挡板(5)，所述支撑座(2)上端安装有测试箱(6)，且测试箱(6)的内部安装有检测装置(8)，所述测试箱(6)的侧壁安装有控制器(7)，且控制器(7)与检测装置(8)电性连接。2.根据权利要求1所述一种测试超高压碳化硅芯片测试台，其特征在于：所述测试箱(6)的内部侧部安装有电动伸缩杆(12)，且电动伸缩杆(12)的输出端贯穿于第一挡板(4)的内部，且连接有推板(15)，所述电动伸缩杆(12)与控制器(7)电性连接。3.根据权利要求1所述一种测试超高压碳化硅芯片测试台，其特征在于：所述第二挡板(5)的侧壁内部设置有第一空心槽(13)，所述支撑座(2)的上端内部安装有连接箱(14)...

【专利技术属性】
技术研发人员：葛廷全，王银东，张容川，
申请(专利权)人：硅科锐达信息技术成都有限公司，
类型：新型
国别省市：