一种电路验证方法、装置、电子设备及可读存储介质制造方法及图纸

技术编号:38659111 阅读:32 留言:0更新日期:2023-09-02 22:43
本发明专利技术实施例提供一种电路验证方法、装置、电子设备及可读存储介质,该方法包括:获取设计文件,所述设计文件包括被测设计和断言语句;所述断言语句用于验证所述被测设计是否满足测试条件;将所述断言语句转化为断言电路,所述断言电路为寄存器转换级电路;基于所述被测设计和所述断言电路,生成目标网表;根据所述目标网表将所述被测设计和所述断言电路配置到集成电路芯片中;运行所述集成电路芯片,并监测所述被测设计的断言结果;在所述被测设计的断言覆盖率满足预设条件的情况下,确定所述被测设计通过验证。本发明专利技术实施例可以利用断言电路来揭示被测设计内部状态和潜在问题,解决了FPGA仿真缺乏设计细节的低级可见性的问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
一种电路验证方法、装置、电子设备及可读存储介质


[0001]本专利技术涉及计算机
,尤其涉及一种电路验证方法、装置、电子设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]随着计算机体系结构和硬件设计的复杂化,功能验证成为芯片开发中耗时的过程。验证工作占据了高达70%的开发周期。在验证环节中,其中一个瓶颈是寄存器转换级别(Register

Transfer Level,RTL)电路的软件仿真。虽然软件仿真提供了完整的设计细节可见性以帮助调试,但对于复杂设计的长时间仿真而言,RTL仿真会非常耗时,这使得验证效率明显地降低。此外,软件仿真仍然依赖人工判断来检查波形和调试信息,以定位设计中的问题。
[0003]断言通常被用作一种高效的验证方法,以减轻数字电路功能验证中的调试工作量。超过75%的ASIC设计和近50%的FPGA设计采用了基于断言的验证(assertion

based verification, ABV)。与传统的使用printf或display调试技术相比,ABV可以同时执行自动监测和检查,本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路验证方法,其特征在于,所述方法包括:获取设计文件,所述设计文件包括被测设计和断言语句;所述断言语句用于验证所述被测设计是否满足测试条件;将所述断言语句转化为断言电路,所述断言电路为寄存器转换级电路;基于所述被测设计和所述断言电路,生成目标网表;根据所述目标网表将所述被测设计和所述断言电路配置到集成电路芯片中;运行所述集成电路芯片,并监测所述被测设计的断言结果;在所述被测设计的断言覆盖率满足预设条件的情况下,确定所述被测设计通过验证。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述断言语句转化为断言电路,包括:对所述设计文件进行解析,得到抽象语法树;所述抽象语法树用于反映所述设计文件的逻辑结构和语义;遍历所述抽象语法树,以获取所述抽象语法树中的断言语句子树;对所述断言语句子树进行电路综合处理,得到断言电路,所述断言电路为寄存器转换级电路。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对所述断言语句子树进行电路综合处理,得到断言电路,包括:对所述抽象语法树中的断言语句子树进行分析,识别所述断言语句子树的关键字和断言语句表达式;将所述断言语句子树中的关键字例化为基础电路模块;对所述断言语句表达式进行语义解析,确定所述基础电路模块之间的连接方式;按照所述连接方式对所述基础电路模块进行连接,得到断言电路。4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述被测设计和所述断言电路,生成目标网表,包括:对所述断言语句进行解析,得到所述被测设计与所述断言电路之间的信号连接信息;基于所述信号连接信息、所述被测设计和所述断言电路,生成目标网表;所述目标网表用于采用逻辑门描述所述被测设计与所述断言电路之间的连接情况。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述信号连接信息、所述被测设计和所述断言电路,生成目标网表,包括:将所述被测设计转换为第一网表,并将所述断言电路转换为第二网表;基于所述信号连接信息将所述第一网表与所述第二网表中的对应部分进行缝合处理,得到目标网表;在所述目标网表中,所述第二网表的信号输入端与所述第一网表中的待监测信号的输出端相连。6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标网表将所述被测设计和所述断言电路配置到集成电路芯片中,包括:根据所述目标网表生成目标位流文件;基于所述目标位流文件,将所述被测设计烧录至集成电路芯片的静态区域,并将所述断言电路烧录至所述集成电路芯片的动态部分重配置区域。7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述集成电路芯片的静态区域中还配置有
覆盖率监测器;所述运行所述集成电路芯片,并监测所述被测设计的断言结果,包括:运行所述集成电路芯片,并通过所述覆盖率监测器对所述被测设计的断言结果进行采样,以确定所述被测设计对应的正确断言次数;所述在所述被测设计的断言覆盖率满足预设条件的情况下,确定所述被测设计通过验证,包括:在所述被测设计对应的正确断言次数大于或等于预设阈值的情况下,确定所述被测设计通过验证。8.根据权利要求6所述的方...

【专利技术属性】
技术研发人员:石侃翁伟杰张子卿蔡礼嘉包云岗
申请(专利权)人:北京开源芯片研究院
类型:发明
国别省市:

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