折叠支架制造技术

技术编号:38656819 阅读:12 留言:0更新日期:2023-09-02 22:42
本实用新型专利技术公开了一种折叠支架,该折叠支架包括基座、滑动支撑架和滑块。滑动支撑架可折叠地设置于基座上,滑动支撑架设有滑道并刻有刻度线。滑块的数量与滑动支撑架的数量相同,滑块滑动设置于滑道上,滑块设有用于供X射线野特性检测装置容置的容置位,滑块上对应刻度线的侧边上设有指示箭头,以用于指示X射线野特性检测装置的检测位置。本实用新型专利技术提供了一种折叠支架,适用于调节X射线野特性检测装置的检测位置,提高了检测效率,并提高了X射线野特性检测装置的检测准确性,收纳方便。收纳方便。收纳方便。

【技术实现步骤摘要】
折叠支架


[0001]本技术涉及X射线野特性检测装置
,尤其涉及一种折叠支架。

技术介绍

[0002]现有X射线野特性检测装置通过一致性检测板或检测尺调整位置来进行检测,检测板或检测尺上刻有刻度线,通过读取X射线野特性检测装置所处的刻度来获得误差数据。
[0003]然而,单次曝光只能读取单边的误差数据,如需获取X射线野特性检测装置几条边的误差数据,需要先后摆放多次,进行多次曝光,检测效率低下且误差值较大。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的在于提供一种折叠支架,旨在提高检测效率低,并提高X射线野特性检测装置的检测准确性。
[0005]为实现上述目的,本技术提出一种折叠支架,包括:
[0006]基座;
[0007]至少两个滑动支撑架,可折叠地设置于所述基座上,所述滑动支撑架设有滑道并刻有刻度线;以及
[0008]滑块,所述滑块的数量与所述滑动支撑架的数量相同,所述滑块滑动设置于所述滑道上,所述滑块设有用于供X射线野特性检测装置容置的容置位,所述滑块上对应所述刻度线的侧边上设有指示箭头,以用于指示所述X射线野特性检测装置的检测位置。
[0009]可选地,所述基座包括基座本体及设置于所述基座本体上的锁扣,所述滑动支撑架的一端转动设置于所述基座本体与所述锁扣之间。
[0010]可选地,所述锁扣设有与所述滑动支撑架数量相同的锁紧部,所述滑动支撑架的固定端设有限位部,所述锁扣的锁紧部在锁紧位置和松开位置可旋转切换地设置于所述基座上;
[0011]在所述锁紧位置时,所述锁紧部与所述限位部抵接,以限制所述滑动支撑架转动;
[0012]在所述松开位置时,所述锁紧部与所述限位部错开,以使所述滑动支撑架解除锁定。
[0013]可选地,所述锁扣的底部设有扳拧槽,以用于通过扁平工具来旋转所述锁扣。
[0014]可选地,每一所述锁紧部均设有安装孔,所述安装孔内装有滚珠,所述基座本体设有与所述滚珠数量相同的第一限位槽,每一所述滑动支撑架均设有第二限位槽;
[0015]在所述锁紧位置时,所述滚珠嵌设于所述第二限位槽中;
[0016]在所述松开位置时,所述滚珠嵌设于所述第一限位槽中。
[0017]可选地,所述基座呈方形,所述基座的四侧边均设有凹槽,所述滑动支撑架的数量为四个,四个所述滑动支撑架的一端分别转动设置于四个所述凹槽中。
[0018]可选地,所述滑块的侧边设有用于显露所述刻度线的避让缺口,所述指示箭头设置于所述避让缺口一侧。
[0019]可选地,所述刻度线通过镭雕蚀刻而成,所述指示箭头通过镭雕蚀刻而成。
[0020]可选地,所述容置位内设有托举边,以用于托举所述X射线野特性检测装置的底部。
[0021]可选地,所述容置位远离所述托举边的一端设有止挡块,以挡住所述X射线野特性检测装置的顶部。
[0022]在本技术的技术方案中,该折叠支架包括基座、滑动支撑架和滑块。滑动支撑架可折叠地设置于基座上,滑动支撑架设有滑道并刻有刻度线。滑块的数量与滑动支撑架的数量相同,滑块滑动设置于滑道上,滑块设有用于供X射线野特性检测装置容置的容置位,滑块上对应刻度线的侧边上设有指示箭头,以用于指示X射线野特性检测装置的检测位置。
[0023]在检测时,可以同时放置至少两个X射线野特性检测装置,通过滑动滑块将X射线野特性检测装置调整至所需要的检测尺寸,进行曝光后对四边的数据进行读取,单次曝光能够读取至少两边的误差数据,无需先后摆放多次并进行多次曝光,极大地提升了检测效率,且通过设置滑动结构来容置X射线野特性检测装置并读取数据,避免了人工摆放检测装置造成的误差,提高了X射线野特性检测装置的检测准确性。此外,由于滑动支撑架可折叠地设置于基座上,可方便收纳,提高了使用的便利性。
附图说明
[0024]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0025]图1为本技术折叠支架一实施例中处于展开状态时的结构图;
[0026]图2为本技术折叠支架一实施例中处于收纳状态时的结构图;
[0027]图3为本技术折叠支架一实施例中基座本体的结构示意图;
[0028]图4为本技术折叠支架一实施例中锁扣的结构示意图;
[0029]图5为本技术折叠支架一实施例中滑动支撑架的结构示意图;
[0030]图6为本技术折叠支架一实施例中滑块的结构示意图。
[0031]附图标号说明:
[0032]100、X射线野特性检测装置;10、基座;20、滑动支撑架;30、滑块;20a、滑道;301、容置位;302、指示箭头;201、刻度线;11、基座本体;12、锁扣;121、锁紧部;202、限位部;12a、扳拧槽;10a、凹槽;30a、避让缺口;311、托举边;312、止挡块;11a、第一限位槽;20b、第二限位槽。
[0033]本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0034]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提
下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0035]需要说明,若本技术实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
),则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等,如果该特定姿态发生改变时,则该方向性指示也相应地随之改变。
[0036]另外,若本技术实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述,则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少两个该特征。另外,若全文中出现的“和/或”的含义为,包括三个并列的方案,以“A和/或B”为例,包括A方案,或B方案,或A和B同时满足的方案。另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本技术要求的保护范围之内。
[0037]本技术提出一种折叠支架,适用于调节X射线野特性检测装置的检测位置,也可适用于其他需要进行位置调节的装置的检测需求,此处不限。
[0038]参考图1和图2,在本技术一实施例中,该折本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种折叠支架,其特征在于,包括:基座;至少两个滑动支撑架,可折叠地设置于所述基座上,所述滑动支撑架设有滑道并刻有刻度线;以及滑块,所述滑块的数量与所述滑动支撑架的数量相同,所述滑块滑动设置于所述滑道上,所述滑块设有用于供X射线野特性检测装置容置的容置位,所述滑块上对应所述刻度线的侧边上设有指示箭头,以用于指示所述X射线野特性检测装置的检测位置。2.如权利要求1所述的折叠支架,其特征在于,所述基座包括基座本体及设置于所述基座本体上的锁扣,所述滑动支撑架的一端转动设置于所述基座本体与所述锁扣之间。3.如权利要求2所述的折叠支架,其特征在于,所述锁扣设有与所述滑动支撑架数量相同的锁紧部,所述滑动支撑架的固定端设有限位部,所述锁扣的锁紧部在锁紧位置和松开位置可旋转切换地设置于所述基座上;在所述锁紧位置时,所述锁紧部与所述限位部抵接,以限制所述滑动支撑架转动;在所述松开位置时,所述锁紧部与所述限位部错开,以使所述滑动支撑架解除锁定。4.如权利要求3所述的折叠支架,其特征在于,所述锁扣的底部设有扳拧槽,以用于通过扁平工具来旋转所...

【专利技术属性】
技术研发人员:侯建勋杨太康郑秀玉
申请(专利权)人:深圳市药品检验研究院深圳市医疗器械检测中心
类型:新型
国别省市:

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