射频芯片测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种射频芯片测试系统，所述射频芯片测试系统包括：射频收发机；测试机，所述测试机的控制接口与所述射频收发机的控制接口线缆连接；测试板，用于装载待测试芯片，所述测试板的第一通信接口与所述射频收发机的通信接口相连接。使用上述技术方案能够提高芯片的测试效率。高芯片的测试效率。高芯片的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
射频芯片测试系统


[0001]本技术涉及芯片测试
，更具体地，其涉及一种射频芯片测试系统。

技术介绍

[0002]为了保证芯片的质量以及确定制作过程中可能存在的问题，需要在出厂前对芯片进行功能测试，以检验芯片的功能完整性。射频芯片的测试通常是使用自动测试机(Automatic Test Equipment,ATE)进行的，当自动测试机不具有射频信号收发功能时，需要外接射频收发机保证测试能够正常进行。但使用外接射频收发机进行射频芯片的测试时，由于多个环节之间的同步等待，使得接收端提前开启接收功能，会导致测试过程得到的信号存在冗余的无效数据，对无效数据的传输与处理将耗费大量的时间，且容易产生误判，从而导致芯片测试效率低下。
[0003]如何减小冗余的无效数据在芯片测试过程中的影响，以提高芯片的测试效率，是现在亟需解决的问题。

技术实现思路

[0004]本技术解决的技术问题是如何提高芯片的测试效率。
[0005]为解决上述技术问题，本技术提供一种射频芯片测试系统，所述射频芯片测试系统包括：射频收发机；测试机，所述测试机的控制接口与所述射频收发机的控制接口线缆连接；测试板，用于装载待测试芯片，所述测试板的第一通信接口与所述射频收发机的通信接口相连接。
[0006]可选地，所述测试机的控制接口与所述测试板的第一控制接口线缆连接，所述射频收发机的控制接口与所述测试板的第二控制接口线缆连接；第一控制接口与第二控制接口在测试板内部连通。
[0007]可选地，所述第一控制接口与所述第二控制接口线缆连接。
[0008]可选地，所述测试机的控制接口与所述射频收发机的控制接口经由线缆直接连接。
[0009]可选地，所述测试机的控制接口与所述射频收发机的控制接口经由线缆卡扣连接或螺纹连接。
[0010]可选地，所述测试板的第一通信接口与所述射频收发机的通信接口经由线缆螺纹连接或卡扣连接。
[0011]可选地，射频芯片测试系统还包括：控制主机，所述控制主机的通信接口与所述测试机的第一通信接口经由光纤连接。
[0012]可选地，所述测试机的第二通信接口与所述测试板的第二通信接口线缆连接。
[0013]可选地，所述测试板的读取接口与所述待测试芯片的通信接口相连接。
[0014]可选地，所述测试机用于向所述测试板提供电源。
[0015]与现有技术相比，本技术的技术方案具有以下有益效果：
[0016]本技术实施例提出一种射频芯片测试系统，射频芯片测试系统包括射频收发机；测试机，测试机的控制接口与射频收发机的控制接口线缆连接；用于装载待测试芯片的测试板，测试板的第一通信接口与射频收发机的第二通信接口相连接。本技术技术方案通过将测试机的控制接口与射频收发机的控制接口通过线缆进行连接，可以直接通过线缆传递控制信号，以控制射频收发机进行射频信号的发送。通过线缆进行信号的传输，可以大大提升信号的传输效率，缩短测试机发送控制信号至射频收发机接收控制信号的时间，使射频收发机能够更快地发送射频信号至待测试芯片。相应地，待测试芯片能够更快地接收到射频信号并生成接收结果，以缩短测试机从开始采集数据(也即测试机开始发射控制信号的时刻)至采集到接收结果的时间，从而减少在该时间段内测试机采集到的无效数据，降低误判断率，进而提高测试效率。
附图说明
[0017]图1是现有技术中射频芯片测试系统的结构示意图；
[0018]图2本技术实施例提供的一种射频芯片测试系统的结构示意图；
[0019]图3本技术实施例提供的另一种射频芯片测试系统的结构示意图；
[0020]图4是本技术实施例提供的一种射频芯片测试方法的具体流程图。
具体实施方式
[0021]如
技术介绍
中所述，射频芯片的测试通常是使用自动测试机(Automatic Test Equipment,ATE)进行的，当自动测试机不具有射频信号收发功能时，需要外接射频收发机保证测试能够正常进行。但使用外接射频收发机进行射频芯片的测试时，由于多个环节之间的同步等待，使得接收端提前开启接收功能，会导致测试得到的信号存在冗余的无效数据，对无效数据的传输与处理将耗费大量的时间，且容易产生误判，从而导致芯片测试效率低下。如何减小冗余的无效数据在芯片测试过程中的影响，以提高芯片的测试效率，是现在亟需解决的问题。
[0022]图1是现有技术中一种射频芯片测试系统的结构示意图。
[0023]如图1所示，现有技术中测试机10通过以太网络连接(例如TCP/IP通信协议)的方式建立与射频收发机20的通信。在对测试板30上装载的待测试芯片40的射频信号接收功能开始进行测试时，测试机10通过以太网络通信向射频收发机20发送用于触发射频收发机20发射射频信号的控制信号。由于待测试芯片40生成接收结果的时间未知，因此为了避免遗漏待测试芯片40的测试结果，测试机10将在发送控制信号后的同时通过测试板30开始采集待测试芯片40的接收结果。
[0024]但是，测试机10开始采集接收结果至待测试芯片40生成接收结果通常存在时间延迟，导致测试机10在时间延迟内会采集到大量冗余的无效数据。而测试机10对无效数据的传输与处理也将耗费大量的时间，且容易产生误判，导致芯片的测试周期变长，严重影响芯片测试的时间成本，降低测试效率。
[0025]本技术实施例中提出一种射频芯片测试系统，射频芯片测试系统包括射频收发机；测试机，测试机的控制接口与射频收发机的控制接口线缆连接；用于装载待测试芯片的测试板，测试板的第一通信接口与射频收发机的第二通信接口相连接。本技术技术
方案通过将测试机的控制接口与射频收发机的控制接口通过线缆进行连接，可以直接通过线缆传递控制信号，以控制射频收发机进行射频信号的发送。通过线缆进行信号的传输，可以大大提升信号的传输效率，缩短测试机发送控制信号至射频收发机接收控制信号的时间，使射频收发机能够更快地发送射频信号至待测试芯片。相应地，待测试芯片能够更快地接收到射频信号并生成接收结果，以缩短测试机从开始采集数据(也即测试机开始发射控制信号的时刻)至采集到接收结果的时间，从而减少在该时间段内测试机采集到的无效数据，降低误判断率，提高测试效率。
[0026]为使本技术的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施例做详细的说明。显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0027]图2是本技术实施例提供的一种射频芯片测试系统的结构示意图。
[0028]如图2所示，射频芯片测试系统包括测试机10、射频收发机20、测试板30和待测试芯片40。
[0029]测试机10的控制接口101与射频收发机20的控制接口201线缆连接。具体地，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种射频芯片测试系统，其特征在于，包括：射频收发机；测试机，所述测试机的控制接口与所述射频收发机的控制接口线缆连接；测试板，用于装载待测试芯片，所述测试板的第一通信接口与所述射频收发机的通信接口相连接。2.根据权利要求1所述的射频芯片测试系统，其特征在于，所述测试机的控制接口与所述测试板的第一控制接口线缆连接，所述射频收发机的控制接口与所述测试板的第二控制接口线缆连接；第一控制接口与第二控制接口在测试板内部连通。3.根据权利要求2所述的射频芯片测试系统，其特征在于，所述第一控制接口与所述第二控制接口线缆连接。4.根据权利要求1所述的射频芯片测试系统，其特征在于，所述测试机的控制接口与所述射频收发机的控制接口经由线缆直接连接。5.根据权利要求4所述的射频芯片测试系统，...

【专利技术属性】
技术研发人员：娄锦兰，王震宇，罗茗怡，孙国荣，
申请(专利权)人：上海东软载波微电子有限公司，
类型：新型
国别省市：