磁盘装置以及写处理方法制造方法及图纸

提供能够提高可靠性的磁盘装置以及写处理方法。本实施方式涉及的磁盘装置具备：盘；头，其对所述盘写入数据，从所述盘读取数据；以及控制器，其在所述盘的第1磁道的写处理时，基于按超过次数而规定的与所述头向所述盘的半径方向的第1偏离量对应的第1判定值、和变更写处理的第2阈值，对写处理进行控制，所述超过次数是所述第1偏离量超过了使在所述半径方向上与所述第1磁道相邻的第2磁道产生读错误的第1阈值的次数。阈值的次数。阈值的次数。

【技术实现步骤摘要】
磁盘装置以及写处理方法
[0001]本申请享受以日本特许申请2022
‑
022153号(申请日：2022年2月16日)和日本特许申请2022
‑
113281号(申请日：2022年7月14日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。


[0002]本专利技术的实施方式涉及磁盘装置以及写处理方法。

技术介绍

[0003]近年来，开发了具有实现高记录密度的技术的磁盘装置。作为实现高记录密度的磁盘装置，具有能够执行在盘的半径方向上进行多个磁道的重叠写入的瓦记录型式(Shingled write Magnetic Recording：SMR或者Shingled Write Recording：SWR)的磁盘装置。
[0004]磁盘装置具有包含对预定磁道的各扇区进行异或(Exclusive OR：XOR)运算而得到的奇偶校验扇区的磁道。磁盘装置在该磁道的预定扇区中检测到错误的情况下，执行基于与该磁道对应的奇偶校验扇区来通过纠错码(Error Correction Code)对错本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种磁盘装置，具备：盘；头，其对所述盘写入数据，从所述盘读取数据；以及控制器，其在所述盘的第1磁道的写处理时，基于按超过次数而规定的与所述头向所述盘的半径方向的第1偏离量对应的第1判定值、和变更写处理的第2阈值，对写处理进行控制，所述超过次数是所述第1偏离量超过了使在所述半径方向上与所述第1磁道相邻的第2磁道产生读错误的第1阈值的次数。2.根据权利要求1所述的磁盘装置，所述控制器每当所述第1偏离量超过所述第1阈值时，逐渐减小与所述第1磁道对应的第1DDOL。3.根据权利要求1所述的磁盘装置，所述控制器在判定为所述第1判定值比所述第2阈值大的情况下，停止所述第1磁道的写处理。4.根据权利要求3所述的磁盘装置，所述控制器在判定为所述第1判定值比所述第2阈值大的情况下，将与所述第1磁道对应的第1DDOL变更为比所述第1DDOL小的第2DDOL。5.根据权利要求4所述的磁盘装置，所述第2DDOL比所述第1阈值小。6.根据权利要求4所述的磁盘装置，所述控制器在所述第1偏离量以规定次数以上超过了所述第2DDOL的情况下，挪移所述第1磁道的至少一个扇区。7.根据权利要求6所述的磁盘装置，所述控制器在所述第1偏离量以规定次数以上超过了所述第2DDOL的情况下，将从所述第1磁道的所述第1偏离量以规定次数超过了所述第2DDOL的第1扇区到所述第1磁道的最后的第2扇区为止的多个扇区挪移至与所述第2磁道相反一侧的在所述半径方向上与所述第1磁道相邻的第3磁道。8.根据权利要求7所述的磁盘装置，所述控制器将对所述第1磁道的从最初的第3扇区到所述第1扇区为止的多个扇区进行XOR运算而得到的结果写入到所述第1磁道的第1奇偶校验扇区。9.根据权利要求7所述的磁盘装置，所述控制器将对所述第1磁道的从最初的第3扇区到所述第1扇区为止的多个扇区进行XOR运算而得到的结果写入到与所述第1磁道不同的记录区域。10.根据权利要求4所述的磁盘装置，所述控制器对所述第1阈值以第3阈值以上接近所述第1磁道的扇区进行挪移。11.根据权利要求4所述的磁盘装置，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：前东信宏，
申请(专利权)人：东芝电子元件及存储装置株式会社，
类型：发明
国别省市：