一种爆炸裂纹尖端应力场的应力分析装置及云图生成方法制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开一种爆炸裂纹尖端应力场的应力分析装置及云图生成方法，涉及含缺陷材料分析技术领域。为解决传统实验方法无法精确测量爆炸裂纹尖端应力场，且难以高精度监测和反演裂纹尖端应力场变化过程等问题而发明专利技术的。所述爆炸裂纹尖端应力场的应力分析装置包括：单色点光源、第一凸透镜、起偏镜、第一四分之一波片；单色点光源与第一凸透镜、起偏镜、第一四分之一波片的光轴在第一直线上，单色点光源位于第一凸透镜的焦点上；还包括焦散线光路凸透镜和焦散线光路相机，焦散线光路相机位于焦散线光路凸透镜的焦点上，还包括第二四分之一波片、检偏镜和光弹性光路相机，第二四分之一波片、检偏镜的光轴与光弹性光路相机的光轴在第三直线上。在第三直线上。在第三直线上。

【技术实现步骤摘要】
一种爆炸裂纹尖端应力场的应力分析装置及云图生成方法


[0001]本专利技术涉及含缺陷材料分析
尤其是涉及一种爆炸裂纹尖端应力场的应力分析装置及云图生成方法。

技术介绍

[0002]爆炸裂纹尖端应力场是指材料中裂纹尖端周围的应力分布。爆炸裂纹尖端应力场决定了裂纹扩展并导致材料失效的条件。在裂纹尖端，应力高度集中，并且可能比材料其余部分的应力大得多。爆炸裂纹尖端应力场取决于裂纹的几何形状、载荷条件和材料特性。了解爆炸裂纹尖端应力场对于设计能够承受与裂纹相关的应力并防止灾难性失效的材料和结构非常重要。
[0003]目前在研究爆炸裂纹尖端应力场时，一般使用不同的实验装置获取裂纹尖端的焦散线图像或者裂纹周围的等差应力条纹图，而无法对裂纹周围任一点的应力场进行精确测量，导致得到的爆炸裂纹尖端应力场的变化过程不够精确。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供一种爆炸裂纹尖端应力场的应力分析装置及云图生成方法，以便于精确获得试样的爆炸裂纹尖端应力场的变化过程。
[0005]为达到上述目的，本专利技术的实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种爆炸裂纹尖端应力场的应力分析装置，其特征在于，包括：单色点光源、第一凸透镜、起偏镜、第一四分之一波片；所述单色点光源与所述第一凸透镜、所述起偏镜、所述第一四分之一波片的光轴在第一直线上，且依次相邻设置，所述单色点光源位于所述第一凸透镜的焦点上；还包括焦散线光路凸透镜和焦散线光路相机，所述焦散线光路凸透镜和所述焦散线光路相机的光轴在第二直线上，且所述焦散线光路相机位于所述焦散线光路凸透镜的焦点上，所述单色点光源发出的光至少经所述焦散线光路凸透镜后进入所述焦散线光路相机；还包括第二四分之一波片、检偏镜和光弹性光路相机，所述第二四分之一波片、所述检偏镜与所述光弹性光路相机的光轴在第三直线上，且依次相邻设置；所述单色点光源发出的光至少依次经所述第二四分之一波片和所述检偏镜后进入所述光弹性光路相机；还包括试样，所述试样在第一直线上，位于所述第一四分之一波片远离起偏镜的一侧。2.根据权利要求1所述的爆炸裂纹尖端应力场的应力分析装置，其特征在于，还包括第一分光装置；所述第一直线与所述第二直线相重合，所述第一分光装置位于所述第一四分之一波片与所述焦散线光路凸透镜之间，且所述第一分光装置的中心在所述第一直线；所述第一分光装置至少将所述单色点光源发出的光分为朝向第二直线和第三直线的光。3.根据权利要求2所述的爆炸裂纹尖端应力场的应力分析装置，其特征在于，所述第二直线与所述第三直线相垂直。4.根据权利要求1所述的爆炸裂纹尖端应力场的应力分析装置，其特征在于，还包括第二分光装置和第三分光装置；所述第二分光装置的中心在所述第一直线上，所述单色点光源发出的光至少经所述第一四分之一波片后进入所述第二分光装置，所述第二分光装置至少将所述单色点光源...

【专利技术属性】
技术研发人员：许鹏，杨仁树，陈程，翟柏洋，宋国康，赵梓宸，
申请(专利权)人：北京科技大学，
类型：发明
国别省市：