处理装置和光电转换系统制造方法及图纸

公开了处理装置和光电转换系统。一种处理装置包括：第一存储单元，用于存储基于布置成阵列的多个像素的输出值的第一阵列数据；第二存储单元，具有存储在其中的第二阵列数据，所述第二阵列数据要被用于来自所述多个像素的输出值的校正；以及校正单元，包括计算单元，所述计算单元基于第一阵列数据和第二阵列数据来校正所述多个像素中的至少一个像素的输出值。值。值。

【技术实现步骤摘要】
处理装置和光电转换系统


[0001]本专利技术涉及处理装置和光电转换系统。

技术介绍

[0002]作为缺陷校正单元，已知提取输出电平高于周边像素的像素作为缺陷像素并用周边像素的输出的平均值来替换缺陷像素的输出的方法。
[0003]然而，在美国专利申请公开No.2007
‑
030365的说明书中讨论的校正方法中，存在缺陷校正的精度劣化并由此图像质量劣化的问题。本专利技术是鉴于上述问题而设计的，并且目的是通过提高缺陷校正精度来防止图像质量劣化。

技术实现思路

[0004]根据本专利技术的一方面，一种处理装置包括：第一存储单元，用于存储基于布置成阵列的多个像素的输出值的第一阵列数据；第二存储单元，具有存储在其中的第二阵列数据，所述第二阵列数据要被用于来自所述多个像素的输出值的校正；以及校正单元，包括计算单元，所述计算单元被配置为基于所述第一阵列数据和所述第二阵列数据来校正所述多个像素中的至少一个像素的输出值。
[0005]根据以下参考附图对实施例的描述，本专利技术的其他特征将变得清楚。
附图说本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种处理装置，包括：第一存储单元，用于存储基于布置成阵列的多个像素的输出值的第一阵列数据；第二存储单元，具有存储在其中的第二阵列数据，所述第二阵列数据要被用于来自所述多个像素的输出值的校正；以及校正单元，包括计算单元，所述计算单元被配置为基于所述第一阵列数据和所述第二阵列数据来校正所述多个像素中的至少一个像素的输出值。2.根据权利要求1所述的处理装置，还包括：缺陷提取单元，被配置为从所述第一阵列数据提取缺陷像素的输出值和位置；以及阵列生成单元，被配置为基于所述第二阵列数据以及所述缺陷像素的输出值和位置来生成第三阵列数据，其中，所述计算单元被配置为基于所述第一阵列数据和所述第三阵列数据来校正位于所述缺陷像素周围的至少一个周边像素的输出值。3.根据权利要求1所述的处理装置，其中，所述校正单元包括缺陷校正单元，并且其中，所述缺陷校正单元被配置为校正由所述计算单元生成的第四阵列数据中的缺陷像素。4.根据权利要求2所述的处理装置，其中，所述第二阵列数据包括至少三个数据块，并且其中，与所述第二阵列数据的至少一行或一列对应的一维数据在中心处具有峰值或底值。5.根据权利要求4所述的处理装置，其中，所述一维数据具有从所述峰值或所述底值朝向数据端部单调变化的分布。6.根据权利要求4所述的处理装置，其中，共享所述一维数据的峰值或底值并在与所述一维数据相交的方向上排列的不同的一维数据具有从所述不同的一维数据的峰值或底值朝向数据端部单调变化的分布。7.根据权利要求2所述的处理装置，其中，所述第一阵列数据包括N行M列的数据，其中，N和M中的一个是大于或等于2的整数，并且N和M中的另一个是大于或等于1的整数。8.根据权利要求2所述的处理装置，其中，所述第二存储单元具有存储在其中的多种类型的第二阵列数据，并且其中，所述阵列生成单元被配置为根据执行图像捕获的环境来选择要使用的所述第二阵列数据的类型。9.根据权利要求2所述的处理装置，其中，所述第三阵列数据通过所述第二阵列数据和基于所述缺陷像素的输出值生成的阵列数据的相乘来生成。10.根据权利要求3所述的处理装置，其中，所述第四阵列数据通过所述第一阵列数据和所述第二阵列数据的相除来生成。11.根据权利要求2所述的处理装置，其中，所述缺陷提取单元基于已预先获取的所述缺陷像素的地址数据来提取缺陷像素。12.根据权利要求2所述的处理装置，其中，在第一像素的输出值与和所述第一像素相邻的第二像素的输出值之间的差值大于或等于固定...

【专利技术属性】
技术研发人员：森本和浩，关根宽，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：