坏点校正方法、装置、终端设备及存储介质制造方法及图纸

本申请涉及图像处理技术领域，具体而言，涉及一种坏点校正方法、装置、终端设备及存储介质，一定程度上可以解决图像传感器获得的待处理图像中存在坏点或坏簇无法校正的问题。通过预设扫描顺序，从第一起点(非坏点)对待处理图像中像素点逐个进行扫描，可确定扫描到的待处理图像中的第一个坏点为第一目标点；基于预设尺寸判定窗口，可确定以第一目标点为中心的第一目标区域，进而可确定第一目标区域中的判定子区域；进一步若判定子区域中存在非坏点，通过判定子区域中的非坏点，确定第一目标点的校正值，并通过校正值对第一目标点进行校正；实现对图像传感器获得的待处理图像中各坏点的校正。的校正。的校正。

【技术实现步骤摘要】
坏点校正方法、装置、终端设备及存储介质


[0001]本申请涉及图像处理
，具体而言，涉及一种坏点校正方法、装置、终端设备及存储介质。

技术介绍

[0002]图像传感器是一种能将反映图像信息的光信号转换成电信号的传感器芯片。图像传感器由于加工工艺、老化等原因，使得图像传感器上一些感光单元出现响应异常，使得图像传感器获得的待处理图像上出现与正常像素点亮度不同的点(即坏点)，多个相邻的坏点构成坏簇。
[0003]相关技术中，待处理图像中坏点校正通常是在以坏点为中心的3*3窗口内，通过该3*3窗口中的正常像素点(即非坏点)计算出用于该坏点校正的校正值，然后基于该校正值调整该坏点的像素。
[0004]但是，实际的校正过程中，受到待处理图像中坏簇因尺寸、形态等原因的影响，使得3*3窗口内不一定存在正常像素点，从而导致得到的校正值不准确，相应的基于该校正值无法对坏点进行校正。例如，图1示出了一种待处理图像中一个坏簇的示意图，如图1所示，坏簇110中，3*3窗口120内所有像素点均为坏点，使得无法确定坏点d22的校正值。
[0005]因此，亟需一种能够对待处理图像中各坏点进行校正的方法。

技术实现思路

[0006]为了解决图像传感器获得的待处理图像中存在坏点或坏簇无法校正的技术问题，本申请提供了一种坏点校正方法、装置、终端设备及存储介质。
[0007]本申请的实施例是这样实现的：
[0008]本申请实施例的第一方面提供一种坏点校正方法，包括如下步骤：
[0009]通过预设扫描顺序，从第一起点对待处理图像中像素点逐个进行扫描，确定扫描到的待处理图像中的第一个坏点为第一目标点，其中，第一起点为待处理图像中的非坏点；
[0010]基于预设尺寸判定窗口，确定以第一目标点为中心的第一目标区域，并确定第一目标区域中的判定子区域，判定子区域位于第一目标区域内，并且为在扫描到第一目标点时，还未扫描到的区域；
[0011]若判定子区域中存在非坏点，通过判定子区域中的非坏点，确定第一目标点的校正值，并通过校正值对第一目标点进行校正；
[0012]若判定子区域中不存在非坏点，通过第一目标区域中的非坏点，确定第一目标点的校正值，并通过校正值对第一目标点进行校正。
[0013]本申请实施例的第二方面提供一种坏点校正装置，包括：
[0014]目标点确定模块，用于通过预设扫描顺序，从第一起点对待处理图像中像素点逐个进行扫描，确定扫描到的待处理图像中的第一个坏点为第一目标点，其中，第一起点为待处理图像中的非坏点；
[0015]区域确定模块，用于基于预设尺寸判定窗口，确定以第一目标点为中心的第一目标区域，并确定第一目标区域中的判定子区域，判定子区域位于第一目标区域内，并且在扫描到第一目标点时，还未扫描到的区域；
[0016]判定模块，用于若判定子区域中存在非坏点，通过判定子区域中的非坏点，确定第一目标点的校正值，并通过校正值对第一目标点进行校正；
[0017]判定模块，还用于若判定子区域中不存在非坏点，通过第一目标区域中的非坏点，确定第一目标点的校正值，并通过校正值对第一目标点进行校正。
[0018]本申请实施例的第三方面提供一种终端设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现第一方面坏点校正方法的步骤。
[0019]本申请实施例的第四方面一种计算机存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行第一方面坏点校正方法的步骤。
[0020]本申请的有益效果：通过预设扫描顺序，从第一起点(待处理图像中的非坏点)对待处理图像中像素点逐个进行扫描，可确定扫描到的待处理图像中的第一个坏点为第一目标点；基于预设尺寸判定窗口，可确定以第一目标点为中心的第一目标区域，进而可确定第一目标区域中的判定子区域，判定子区域位于第一目标区域内，并且在扫描到第一目标点时，还未扫描到的区域；进一步若判定子区域中存在非坏点，通过判定子区域中的非坏点，确定第一目标点的校正值，并通过校正值对第一目标点进行校正；进一步若判定子区域中不存在非坏点，通过第一目标区域中的非坏点，确定第一目标点的校正值，并通过校正值对第一目标点进行校正，实现对图像传感器获得的待处理图像中各坏点的校正。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0022]图1示出了一种待处理图像中一个坏簇的示意图；
[0023]图2示出了本申请实施例提供一种坏点校正方法的流程示意图；
[0024]图3a示出了一种待处理图像和其预设扫描顺序的示意图；
[0025]图3b示出了一种待处理图像和其预设扫描顺序的示意图；
[0026]图3c示出了图3a中第一目标点的第一目标区域和判定子区域；
[0027]图3d示出了一些第一目标点位于待处理图像的边界时对应第一目标区域的示意图；
[0028]图3e示出了一种3*3预设尺寸判定窗口的预设方向示意图；
[0029]图4示出了本申请实施例又一种坏点校正方法的流程示意图；
[0030]图5示出了一种通过判定子区域中的非坏点确定第一目标点的校正值的流程图；
[0031]图6示出了本申请实施例提供又一种坏点校正方法的流程示意图；
[0032]图7示出了本申请实施例提供的一种坏点校正装置的结构示意图；
[0033]其中，110
‑
坏簇；120
‑
3*3窗口；311、321
‑
第一起点；312、322
‑
第一目标点。
具体实施方式
[0034]为使本申请的目的、实施方式和优点更加清楚，下面将结合本申请示例性实施例中的附图，对本申请示例性实施方式进行清楚、完整地描述，显然，所描述的示例性实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0035]需要说明的是，本申请中对于术语的简要说明，仅是为了方便理解接下来描述的实施方式，而不是意图限定本申请的实施方式。除非另有说明，这些术语应当按照其普通和通常的含义理解。
[0036]本申请中说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”等是用于区别类似或同类的对象或实体，而不必然意味着限定特定的顺序或先后次序，除非另外注明。应该理解这样使用的用语在适当情况下可以互换。
[0037]术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖但不排他的包含，例如，包含了一系列组件的产品或设备不必限于清楚地列出的所有组件，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些产品或设备固有的其它组件。
[0038]图像传感器是一种本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种坏点校正方法，其特征在于，包括：通过预设扫描顺序，从第一起点对待处理图像中像素点逐个进行扫描，确定扫描到的所述待处理图像中的第一个坏点为第一目标点，其中，所述第一起点为所述待处理图像中的非坏点；基于预设尺寸判定窗口，确定以所述第一目标点为中心的第一目标区域，并确定所述第一目标区域中的判定子区域，所述判定子区域位于所述第一目标区域内，并且为在扫描到所述第一目标点时，还未扫描到的区域；若所述判定子区域中存在非坏点，通过所述判定子区域中的所述非坏点，确定所述第一目标点的校正值，并通过所述校正值对所述第一目标点进行校正；若所述判定子区域中不存在非坏点，通过所述第一目标区域中的非坏点，确定所述第一目标点的校正值，并通过所述校正值对所述第一目标点进行校正。2.根据权利要求1所述的坏点校正方法，其特征在于，还包括：在对所述第一目标点进行校正后，若所述待处理图像还包括未校正的其他坏点，通过所述预设扫描顺序，从所述第一目标点对待处理图像中像素点逐个进行扫描，并通过扫描到的其他坏点对应的判定子区域，对所述其他坏点进行校正。3.根据权利要求1所述的坏点校正方法，其特征在于，若所述判定子区域中存在非坏点，所述非坏点为第一像素点；所述通过所述判定子区域中的所述非坏点，确定所述第一目标点的校正值，包括：确定各所述第一像素点对应预设方向的梯度值；从各所述梯度值中筛选出最小梯度值，并确定所述最小梯度值对应的第一预设方向；基于所述第一目标区域内在所述第一预设方向上的各非坏点，确定所述第一目标点的校正值。4.根据权利要求3所述的坏点校正方法，其特征在于，所述确定各所述第一像素点对应预设方向的梯度值，包括：基于所述第一目标区域内在所述第一像素点对应预设方向上的非坏点，确定所述第一像素点对应预设方向的梯度值；其中，若所述非坏点包括第二像素点和第三像素点，通过所述第二像素点的灰度值和所述第三像素点的灰度值的差值的绝对值，确定所述第一像素点对应预设方向的梯度值。5.根据权利要求1所述的坏点校正方法，其特征在于，还包括：在所述通过所述第一目标区域中的非坏点，确定所述第一目标点的校正值之前，若所述第一目标点位于所述待处理图像的边界时，判定所述第一目标区域中位于所述待处理图像之外的区域为坏点。6.根据权利要求1所述的坏点校正方法，其特征在于，所述第一目标区域还包括正常子区域，所述正常子...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭慧，张见，戚涛，姚毅，
申请(专利权)人：凌云光技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：