【技术实现步骤摘要】
一种图像高分辨率支持方法、装置和电子设备
[0001]本公开涉及图像处理
,尤其涉及一种图像高分辨率支持方法、装置和电子设备。
技术介绍
[0002]随着基于数字微型晶体(Digital Micromirror Device,DMD)的芯片技术的发展和成熟,通过增加DMD芯片的尺寸,可以提高图像的投影分辨率,能够为用户提供图像投影功能。
[0003]然而,随着图像的分辨率越来越高,由于DMD芯片的尺寸与成本正相关,在不改变DMD芯片的尺寸的情况下,越高分辨率的图像的投影效果越差,投影延时也越高,难以为用户提供高质量的图像投影效果。
[0004]因此,如何在DMD芯片有限尺寸的场景下,对高分辨率图像进行有效支持,成为本领域技术人员急需解决的技术问题。
技术实现思路
[0005]鉴于上述问题,本公开提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种图像高分辨率支持方法、装置和电子设备,技术方案如下:
[0006]一种图像高分辨率支持方法,包括:
[0007]获得正交像素图像 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种图像高分辨率支持方法,其特征在于,包括:获得正交像素图像;对所述正交像素图像进行电光转换处理,获得第一光空间信号;对所述第一光空间信号进行抗混叠低通滤波处理,获得第二光空间信号;对所述第二光空间信号进行光电转换处理,获得第一菱形像素图像;对所述第一菱形像素图像进行菱形降采样,获得第二菱形像素图像。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述正交像素图像进行电光转换处理,获得第一光空间信号,包括:对所述正交像素图像中的任一像素:利用该像素在所述正交像素图像上对应的正交像素值,查询预设电光转换对应表,获得该像素对应的光空间强度值;根据所述正交像素图像中各像素对应的所述光空间强度值,获得第一光空间信号。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对所述第一光空间信号进行抗混叠低通滤波处理,获得第二光空间信号,包括:使用抗混叠低通滤波器与所述第一光空间信号进行滤波相关性运算,获得第二光空间信号。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述使用抗混叠低通滤波器与所述第一光空间信号进行滤波相关性运算,获得第二光空间信号,包括:对所述第一光空间信号中的任一像素:利用抗混叠低通滤波器的滤波器核,在所述第一光空间信号中确定该像素对应的目标领域;获得与所述目标领域对应的像素强度值集合,其中,所述像素强度值集合包括所述目标领域中各像素对应的光空间强度值;基于所述滤波器核,利用所述像素强度值集合进行滤波相关性运算,获得该像素对应的滤波后强度值;根据所述第一光空间信号中各像素对应的所述滤波后强度值,获得第二光空间信号。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述对所述第二光空间信号进行光电转换处理,获得第一菱形像素图像,包括:对所述第二光空间信号中的任一像素:利用该像素在所述第二光空间信号上...
【专利技术属性】
技术研发人员:郭港,成一诺,艾帆,鲜龙,
申请(专利权)人:北京经纬恒润科技股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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