一种集成电路测试装置制造方法及图纸

技术编号:38552734 阅读:10 留言:0更新日期:2023-08-22 20:58
本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试装置,包括水平底板,所述水平底板的顶部固定连接有竖直板,所述竖直板的顶部固定连接有水平支架板,所述水平支架板的底部固定连接有轮替组件,所述轮替组件包括与水平支架板底部固定连接的动力电机,所述动力电机输出轴的底端固定连接有水平承载圆块,所述水平承载圆块的内部开设有四个通槽,所述通槽均匀对称分布,所述通槽的内部贯穿有衔接杆,本实用新型专利技术涉及集成电路技术领域。该集成电路测试装置,通过轮替组件的设置,装置能够及时对待检测集成电路进行快速切换,能够在检测同时在卡槽板中对待检测集成电路进行安装,方便后续转动检测,整体操作过程统筹安排,效率较高。效率较高。效率较高。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试装置


[0001]本技术涉及集成电路
,具体为一种集成电路测试装置。

技术介绍

[0002]集成电路在生产结束后,需要对其进行检测,普通集成电路检测过程采用人工手持检测仪器对集成电路针脚进行逐个检测,效率较低,有的先进单位采用集成仪器对集成电路进行逐个检测,但是集成电路安装替换速度慢,而检测速度较快,导致大量时间浪费在集成电路的工位安装过程中,不利于快速检测。

技术实现思路

[0003]针对现有技术的不足,本技术提供了一种集成电路测试装置,解决了普通集成电路检测过程采用人工手持检测仪器对集成电路针脚进行逐个检测,效率较低,有的先进单位采用集成仪器对集成电路进行逐个检测,但是集成电路安装替换速度慢,而检测速度较快,导致大量时间浪费在集成电路的工位安装过程中,不利于快速检测的问题。
[0004]为实现以上目的,本技术通过以下技术方案予以实现:一种集成电路测试装置,包括水平底板,所述水平底板的顶部固定连接有竖直板,所述竖直板的顶部固定连接有水平支架板,所述水平支架板的底部固定连接有轮替组件,所述轮替组件包括与水平支架板底部固定连接的动力电机,所述动力电机输出轴的底端固定连接有水平承载圆块,所述水平承载圆块的内部开设有四个通槽,所述通槽均匀对称分布,所述通槽的内部贯穿有衔接杆,所述衔接杆的顶端固定连接有花键盘,所述衔接杆的表面固定连接有伴随板,所述伴随板的底部转动连接有伸缩杆,所述通槽内壁的两侧均固定连接有环形板,所述环形板的顶部与伸缩杆的底端滑动连接,所述衔接杆的底端固定连接有放置槽块,所述放置槽块内壁的一侧固定连接有吸盘,所述放置槽块底部的两侧均固定连接有卡槽板,所述水平支架板的顶部活动连接有纠偏测试组件,所述水平底板内表面的底部固定连接有定位测试块。
[0005]优选的,所述纠偏测试组件包括与水平支架板顶部活动连接的顶板,所述顶板的形状为圆形。
[0006]优选的,所述顶板底部的中间固定连接有测试伸缩杆,所述测试伸缩杆的底端贯穿水平支架板并且延伸至水平支架板的底部。
[0007]优选的,所述测试伸缩杆的底端固定连接有花键套,所述花键套的表面设置加强筋。
[0008]优选的,所述顶板的顶部固定连接有控制把手,所述控制把手的表面设置防滑凸点。
[0009]优选的,所述顶板的底部固定连接有滚动球,所述滚动球的表面打磨光滑。
[0010]有益效果
[0011]本技术提供了一种集成电路测试装置。与现有技术相比具备以下有益效果:
[0012](1)、该集成电路测试装置,通过水平支架板的底部固定连接有轮替组件,轮替组
件包括与水平支架板底部固定连接的动力电机,动力电机输出轴的底端固定连接有水平承载圆块,水平承载圆块的内部开设有四个通槽,通槽均匀对称分布,通槽的内部贯穿有衔接杆,衔接杆的顶端固定连接有花键盘,衔接杆的表面固定连接有伴随板,伴随板的底部转动连接有伸缩杆,通槽内壁的两侧均固定连接有环形板,环形板的顶部与伸缩杆的底端滑动连接,衔接杆的底端固定连接有放置槽块,放置槽块内壁的一侧固定连接有吸盘,放置槽块底部的两侧均固定连接有卡槽板,通过轮替组件的设置,装置能够及时对待检测集成电路进行快速切换,能够在检测同时在卡槽板中对待检测集成电路进行安装,方便后续转动检测,整体操作过程统筹安排,效率较高,解决了集成电路安装替换速度慢,而检测速度较快,导致大量时间浪费在集成电路的工位安装过程中,不利于快速检测的问题。
[0013](2)、该集成电路测试装置,通过纠偏测试组件包括与水平支架板顶部活动连接的顶板,顶板的形状为圆形,顶板底部的中间固定连接有测试伸缩杆,测试伸缩杆的底端贯穿水平支架板并且延伸至水平支架板的底部,测试伸缩杆的底端固定连接有花键套,花键套的表面设置加强筋,顶板的顶部固定连接有控制把手,控制把手的表面设置防滑凸点,顶板的底部固定连接有滚动球,滚动球的表面打磨光滑,通过纠偏测试组件的设置,装置能及时对集成电路进行角度纠正,避免转动歪斜的集成电路不能准确对准定位测试块,方便工作人员快速检测,并且相关结构十分简单,易于工作人员快速操作。
附图说明
[0014]图1为本技术的正视图;
[0015]图2为本技术轮替组件结构的示意图;
[0016]图3为本技术动力电机结构的侧视图;
[0017]图4为本技术纠偏测试组件结构的示意图。
[0018]图中:1、水平底板;2、竖直板;3、水平支架板;4、轮替组件;41、动力电机;42、水平承载圆块;43、通槽;44、衔接杆;45、花键盘;46、伴随板;47、伸缩杆;48、环形板;49、放置槽块;410、吸盘;411、卡槽板;5、纠偏测试组件;51、顶板;52、测试伸缩杆;53、花键套;54、控制把手;55、滚动球;6、定位测试块。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本技术保护的范围。
[0020]请参阅图1

4,本技术提供两种技术方案:
[0021]实施例一
[0022]一种集成电路测试装置,包括水平底板1,水平底板1的顶部固定连接有竖直板2,竖直板2的顶部固定连接有水平支架板3,水平支架板3的底部固定连接有轮替组件4,轮替组件4包括与水平支架板3底部固定连接的动力电机41,动力电机41为步进电机,动力电机41输出轴的底端固定连接有水平承载圆块42,水平承载圆块42的内部开设有四个通槽43,通槽43均匀对称分布,通槽43的内部贯穿有衔接杆44,衔接杆44的顶端固定连接有花键盘
45,衔接杆44的表面固定连接有伴随板46,伴随板46的底部转动连接有伸缩杆47,通槽43内壁的两侧均固定连接有环形板48,环形板48的顶部与伸缩杆47的底端滑动连接,衔接杆44的底端固定连接有放置槽块49,放置槽块49内壁的一侧固定连接有吸盘410,放置槽块49底部的两侧均固定连接有卡槽板411,水平支架板3的顶部活动连接有纠偏测试组件5,水平底板1内表面的底部固定连接有定位测试块6,通过轮替组件4的设置,装置能够及时对待检测集成电路进行快速切换,能够在检测同时在卡槽板411中对待检测集成电路进行安装,方便后续转动检测,整体操作过程统筹安排,效率较高,解决了集成电路安装替换速度慢,而检测速度较快,导致大量时间浪费在集成电路的工位安装过程中,不利于快速检测的问题。
[0023]实施例二
[0024]与实施例一的主要区别在于:
[0025]一种集成电路测试装置,纠偏测试组件5包括与水平支架板3顶部活动连接的顶板51,顶板51的形状为圆形,顶板51底部的中间固定连接有测试伸缩杆52,测试伸缩杆52的底端贯穿水本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试装置,包括水平底板(1),其特征在于:所述水平底板(1)的顶部固定连接有竖直板(2),所述竖直板(2)的顶部固定连接有水平支架板(3),所述水平支架板(3)的底部固定连接有轮替组件(4),所述轮替组件(4)包括与水平支架板(3)底部固定连接的动力电机(41),所述动力电机(41)输出轴的底端固定连接有水平承载圆块(42),所述水平承载圆块(42)的内部开设有四个通槽(43),所述通槽(43)均匀对称分布,所述通槽(43)的内部贯穿有衔接杆(44),所述衔接杆(44)的顶端固定连接有花键盘(45),所述衔接杆(44)的表面固定连接有伴随板(46),所述伴随板(46)的底部转动连接有伸缩杆(47),所述通槽(43)内壁的两侧均固定连接有环形板(48),所述环形板(48)的顶部与伸缩杆(47)的底端滑动连接,所述衔接杆(44)的底端固定连接有放置槽块(49),所述放置槽块(49)内壁的一侧固定连接有吸盘(410),所述放置槽块(49)底部的两侧均固定连接有卡槽板(411),所述水平支...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐辉廖志国李斌
申请(专利权)人:深圳市凯新达电子有限公司
类型:新型
国别省市:

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