一种基于测点拟合的雷达天线阵面标校方法及系统技术方案

技术编号:38543630 阅读:34 留言:0更新日期:2023-08-22 20:54
本发明专利技术公开了一种基于测点拟合的雷达天线阵面标校方法及系统,包括:获取雷达天线阵面中的每个测点的北天东坐标值;对所有的北天东坐标值进行拟合,得到拟合平面,并根据所述拟合平面,分别确定每个测点的目标调整量;基于每个测点的目标调整量,分别对每个测点的位置进行调整,以对所述雷达天线阵面进行标校。本发明专利技术通过采用测点拟合法得到雷达天线阵面中各个测点构成的拟合平面,并获取每个测点的调整量,以此对雷达天线阵面中的每个测点进行调整,提升了对雷达天线阵面的标校精度。提升了对雷达天线阵面的标校精度。提升了对雷达天线阵面的标校精度。

【技术实现步骤摘要】
一种基于测点拟合的雷达天线阵面标校方法及系统


[0001]本专利技术涉及雷达天线阵面标校
,尤其涉及一种基于测点拟合的雷达天线阵面标校方法及系统。

技术介绍

[0002]大型雷达阵面平面度结构精度保证是实现雷达具备良好的电气功能和性能的基础,在设计中需要着重考虑并在安装过程中严格控制。为实现良好的阵面平面度,需要在设计初期预设结构调整环节,对阵面安装接口的各调整点进行准确测量,得知各点的调整量,以指导现场工作,通过调整优化阵面平面度。
[0003]大型阵面平面度的测量和调整可选用的传统方法为瞄准镜法、摄影测量法。

瞄准镜法操作过程为将瞄准镜通过合适高度的工装安装在阵面一侧,通过人工瞄准观测阵面调整机构的高差进行其高低的调整,配合拉线方法,使阵面安装接口基本调整至通过瞄准镜目视同一高度,以提高天线阵面平面度。此方法工作量大,精度低,测量效率低,受人的主观因素影响大,对测量环境的要求高,场地、温度、光照、振动、风、测量时间对其测量精度都有影响。从效率和精度方面来说,瞄准镜法用于大型雷达阵面的测量在操作上不方便。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于测点拟合的雷达天线阵面标校方法,其特征在于,包括:S1、获取雷达天线阵面中的每个测点的北天东坐标值;S2、对所有的北天东坐标值进行拟合,得到拟合平面,并根据所述拟合平面,分别确定每个测点的目标调整量;S3、基于每个测点的目标调整量,分别对每个测点的位置进行调整,以对所述雷达天线阵面进行标校。2.根据权利要求1所述的基于测点拟合的雷达天线阵面标校方法,其特征在于,步骤S1包括:利用全站仪和分别设置在所述雷达天线阵面中的每个测点上的靶球,分别获取所述雷达天线阵面中的每个测点的北天东坐标值。3.根据权利要求1所述的基于测点拟合的雷达天线阵面标校方法,其特征在于,所述对所有的北天东坐标值进行拟合,得到拟合平面的步骤,包括:基于最小二乘法,对所有的北天东坐标值进行拟合,得到所述拟合平面。4.根据权利要求1所述的基于测点拟合的雷达天线阵面标校方法,其特征在于,所述根据所述拟合平面,分别确定每个测点的目标调整量的步骤,包括:获取每个测点到所述拟合平面的垂直距离值,并根据每个测点对应的垂直距离值分别与所有的垂直距离值的平均值之间的差值,确定每个测点的目标调整量。5.根据权利要求1

4任一项所述的基于测点拟合的雷达天线阵面标校方法,其特征在于,还包括:S4、从所有的目标调整量中,获取并根据最大的目标调整量和最小的目标调整量,得到所述雷达天线阵面的阵面平面度峰峰值,并基于预设公式和所有的目标调整量,得到所述雷达天线阵面的RMS值;S5、当所述阵面平面度峰峰值超出第一预设范围或/和所述RMS值超出第二预设范围时,返回执行步骤S1,直至所述阵面平面度峰峰值处于所述第一预设范围时和/或所述RMS值处于所述第二预设范围,完成对所述雷达天线阵面的标校。6.一种基于测点拟合的雷达天线阵面标...

【专利技术属性】
技术研发人员:于浚峰史永东王来孙治伟
申请(专利权)人:北京无线电测量研究所
类型:发明
国别省市:

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