一种半导体测试的数据追溯方法、装置及电子设备制造方法及图纸

本申请提供了一种半导体测试的数据追溯方法、装置及电子设备，半导体测试的数据追溯方法包括；基于对目标半导体的测试类型和每个测试类型对应的预设测试标准，确定目标半导体硅后的目标测试计划；基于目标测试计划，确定与目标测试计划对应的目标测试用例库以及目标测试用例库中每个目标测试用例对应的目标测试代码；根据预设测试计划、测试用例以及测试代码之间的关系表，对目标测试计划、每个目标测试用例以及每个目标测试代码进行关联，实现对目标测试结果和目标测试数据的追溯。本申请实现了将各个目标测试数据与各个目标测试计划相关联，进而实现了对目标测试数据的追溯，保证了数据工作流的正常运行。保证了数据工作流的正常运行。保证了数据工作流的正常运行。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体测试的数据追溯方法、装置及电子设备


[0001]本申请涉及半导体检测
，尤其是涉及一种半导体测试的数据追溯方法、装置及电子设备。

技术介绍

[0002]随着社会的发展和科技的进步，越来越多的企业和生产厂家开始使用半导体材料进行芯片的制作，而在半导体材料进行芯片的制作的过程中，由于在对半导体材料的芯片进行测试和验证的时候，通常会通过独立的文档或独立的服务器来对验证测试环节所涉及到各个环节的数据信息进行存储和显示，但是现有的传统的对于芯片的测试检测数据是无法进行追踪和签核的，会存在数据不连贯导致工作流断裂的情况。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本申请的目的在于提供一种半导体测试的数据追溯方法、装置及电子设备，实现了将各个目标测试数据与各个目标测试计划相关联，进而实现了对目标测试数据的追溯，保证了数据工作流的正常运行。
[0004]本申请实施例提供了一种半导体测试的数据追溯方法，所述半导体测试的数据追溯方法包括：
[0005]基于对目标半导体的测试类型和每个所述测试类型对应的预设测试标准，确定所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体测试的数据追溯方法，其特征在于，所述半导体测试的数据追溯方法包括：基于对目标半导体的测试类型和每个所述测试类型对应的预设测试标准，确定所述目标半导体硅后的目标测试计划；基于所述目标测试计划，确定与所述目标测试计划对应的目标测试用例库以及所述目标测试用例库中每个目标测试用例对应的目标测试代码；根据预设测试计划、测试用例以及测试代码之间的关系表，对所述目标测试计划、每个目标测试用例以及每个所述目标测试代码进行关联，以便在按照所述目标测试计划完成对所述目标半导体的硅后的所述目标测试后，实现对目标测试结果和目标测试数据的追溯。2.根据权利要求1所述的半导体测试的数据追溯方法，其特征在于，在根据预设测试计划、测试用例以及测试代码之间的关系表，对所述目标测试计划、每个目标测试用例以及每个所述目标测试代码进行关联之后，所述半导体硅后测试的数据管理方法还包括：根据各个目标测试代码对各个目标测试用例进行硅后的目标测试，生成各个目标测试结果；基于各个所述目标测试结果，确定是否对对应的各个所述目标测试用例和各个所述目标测试代码进行更改。3.根据权利要求2所述的半导体测试的数据追溯方法，其特征在于，在所述基于各个所述目标测试结果，确定是否对对应的各个所述目标测试用例和各个所述目标测试代码进行更改之后，所述半导体测试的数据追溯方法还包括：若各个所述目标测试结果与预设测试标准相匹配，则确定不对各个目标测试用例和各个目标测试代码进行更改。4.根据权利要求2所述的半导体测试的数据追溯方法，其特征在于，在所述基于各个所述目标测试结果，确定是否对对应的各个所述目标测试用例和各个所述目标测试代码进行更改之后，所述半导体测试的数据追溯方法还包括：若各个所述目标测试结果与预设测试标准不匹配，则确定对各个目标测试用例和各个目标测试代码进行更改。5.根据权利要求1所述的半导体测试的数据追溯方法，其特征在于，通过以下方式确定预设测试计划、测试用例以及测试代码之间的关系表：根据预设测试计划，确定所述预设测试计划对应的测试用例以及所述测试用...

【专利技术属性】
技术研发人员：骆劼行，周浩，
申请(专利权)人：上海孤波科技有限公司，
类型：发明
国别省市：