一种芯片的检测系统及方法技术方案

本申请公开了一种微流控芯片的检测系统及方法，该系统包括：芯片、芯片检测主体、透明盖板和显示层；显示层包含公共电极；透明盖板覆盖于芯片检测主体远离芯片一侧的表面上；显示层的公用电极靠近透明盖板表面；芯片检测主体包含第一柔性电路板、柔性电路板连接器以及第二柔性电路；第二柔性电路通过柔性电路板连接器与第一柔性电路板连接；芯片检测主体包含镂空部，镂空部用于观察显示层的显示情况。通过本申请提供的微流控芯片的检测系统，能够实现对微流控芯片的检测，提高微流控芯片检测的准确率。准确率。准确率。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片的检测系统及方法


[0001]本申请涉及芯片
，尤其涉及一种芯片的检测系统及方法。

技术介绍

[0002]目前所采用的微流控芯片中驱动电极以及驱动电极对应的走线数量多达数百根。由于微流控芯片中的走线与走线之间、走线与驱动电极之间存在相互交错的现象，因此在微流控芯片的生产过程中可能存在因为生产工艺的问题导致微流控芯片的走线和驱动电极出现短路或者断路的现象。
[0003]目前为了检测微流控芯片是否存在短路或者断路的情况，采用镜检的方式对微流控芯片进行检测，进而使得检测工作量以及检测难度都比较大，且检测微流控芯片的准确率得不到保障。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请提供了一种芯片的检测系统及方法，目的在于提高检测芯片是否存在断路或短路的准确率。
[0005]本申请的第一方面提供了一种芯片的检测系统，所述系统包括：芯片、芯片检测主体、透明盖板和显示层；所述显示层包含公共电极；所述透明盖板覆盖于所述芯片检测主体远离所述芯片一侧的表面上；所述显示层的所述公用电极靠近所述透明盖板表面；所述芯片检测主体包本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片的检测系统，其特征在于，所述系统包括：芯片、芯片检测主体、透明盖板和显示层；所述显示层包含公共电极；所述透明盖板覆盖于所述芯片检测主体远离所述芯片一侧的表面上；所述显示层的所述公用电极靠近所述透明盖板表面；所述芯片检测主体包含第一柔性电路板、柔性电路板连接器以及第二柔性电路；所述第二柔性电路通过所述柔性电路板连接器与所述第一柔性电路板连接；所述芯片检测主体包含镂空部，所述镂空部用于观察所述显示层的显示情况。2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述显示层为电泳膜或固态液晶薄膜。3.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述芯片包含多个引脚，其中，多个所述引脚按照预设的第一分组规则被分为第一引脚组和第二引脚组，所述第一分组规则为同一引脚组内的所述引脚均不相邻。4.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述芯片为有源微流控芯片，所述第一柔性电路板为所述有源微流控芯片上的绑定柔性电路板。5.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，所述芯片为无源微流控芯片，所述第一柔性电路板为所述芯片检测主体上的柔性电路板，且，所述第一柔性电路板的电极的位置与所述无源微流控芯片的电极的位置对应。6.根据权利于要求1所述的检测系统，其特征在于，所述检测系统还包括：芯片载台，所述芯片检测主体位于所述芯片载台上；且，所述芯片载台包含凹槽，所述凹槽用于放置所述芯片。7.一种应用于如权利要求1
‑
6任一所述的芯片的检测系统的检测方法，其特征在于，所述方法包括：通过所述第一柔性电路板对所述芯片的所述引脚进行加压；通过所述透明盖板观察所述引脚对应的区域的显示情况，确定所述引脚对应的走线是否存在断路现象或短路现象。8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述方法还包括：通过所述第二柔性电路板对所述第一引脚组加压，其中，所述微流控芯片的引脚按照预设的第一分组规则被分为所述第一引脚组和第二引脚组，所述第一分组规则为同一引脚...

【专利技术属性】
技术研发人员：张东莉，章凯迪，林柏全，李伟，席克瑞，
申请(专利权)人：上海天马微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：