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一种芯片的检测系统及方法技术方案
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文档序号:38536440
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本申请公开了一种微流控芯片的检测系统及方法,该系统包括:芯片、芯片检测主体、透明盖板和显示层;显示层包含公共电极;透明盖板覆盖于芯片检测主体远离芯片一侧的表面上;显示层的公用电极靠近透明盖板表面;芯片检测主体包含第一柔性电路板、柔性电路板连...
该专利属于上海天马微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海天马微电子有限公司授权不得商用。
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