本申请涉及一种用于测量机壳结构微变形量的测量系统，包括：工作台，包括顶板、底板以及支撑杆，顶板顶部开设有水平凹槽和竖直凹槽，竖直凹槽垂直于水平凹槽；固定杆，固定于水平凹槽底部；测量杆，穿设于竖直凹槽内；连杆，底部与固定杆上的滑动端铰接，顶部与测量杆的顶部铰接；直流电源，正负极分别连接于固定杆的固定端与滑动端。本申请通过利用直角三角形的结构来测量机壳结构的微变形量，并利用固定杆电阻与长度呈正比的关系来提高固定杆有效长度的测量精度，从而使得计算出的机壳结构的微变形量的精度得到极大的提高，且该测量系统结构简单、操作简单，使用便捷，测量机壳结构速度快，效率高，测量的机壳结构的微变形量精度高。高。高。
【技术实现步骤摘要】
一种用于测量机壳结构微变形量的测量系统及测量方法
[0001]本申请涉及机壳结构微变形量的测量领域，尤其是涉及一种用于测量机壳结构微变形量的测量系统及测量方法。
技术介绍
[0002]随着电子产品深入到社会的各个应用，作为其重要组成部分的结构件也应用到人们生活中的方方面面，例如手机、平板、笔记本电脑、路由器、电视机等。它们的结构件变形在研发生产测试中是一个很重要的环节，尤其是平板、手机这样小而精密的产品；其外壳机构件的微小变形就会对它们的使用性能带来极大的影响。一般测量机壳结构变形的常用方法会用精密直尺，游标卡尺，千分仪去测量，但测量中因无参考坐标，容易人为的施加压力，或者在测量过程中测量变形点时发生倾斜，无法在一个平面上测量位移值；或者用变形测量仪、激光探测或精密传感器抓取位置数据，测量电子设备机壳微变形量，但由于上述精密测量设备价格较为昂贵，而且仪器维护保养费用高，结构精密复杂，维修费时费力，对于一些中小企业而言，难以承受。因此，如何简单、便捷、高效的对电子设备机壳的微变形量进行测量，始终是中小企业的研发重点。
技术实现思路
[0003]为了更好、更快、更高效的对电子设备机壳的微变形量进行测量，同时便于测量人员进行操作，以及减少测量人员的工作了,本申请提供了一种用于测量机壳结构微变形量的测量系统及测量方法，其通过利用直角三角形的结构来测量机壳结构的微变形量，并利用固定杆电阻与长度呈正比的关系来提高固定杆有效长度的测量精度，从而使得计算出的机壳结构的微变形量的精度得到极大的提高，且该测量系统结构简单、操作简单，使用便捷，测量机壳结构速度快，效率高，测量的机壳结构的微变形量精度高。
[0004]第一方面，本申请提供的一种用于测量机壳结构微变形量的测量系统，采用如下的技术方案：
[0005]一种用于测量机壳结构微变形量的测量系统，包括：
[0006]工作台，包括平行设置的顶板和底板以及用于连接顶板与底板的支撑杆，顶板顶部沿水平方向开设有水平凹槽和竖直凹槽，竖直凹槽垂直于水平凹槽，底板上端面为机壳结构的放置部，放置部位于竖直凹槽的正下方；
[0007]固定杆，固定于水平凹槽底部，固定杆为变阻器，固定杆的电阻的有效长度为L1，固定杆的电阻与长度的关系式为R＝aL1，其中a为常数；
[0008]测量杆，穿设于竖直凹槽内，底部为用于抵接于机壳结构上的测量端，测量杆的侧壁与固定杆的一端贴合，其中，测量杆高出固定杆部分的长度为L2；
[0009]连杆，长度为L，底部与固定杆上的滑动端铰接，顶部与测量杆的顶部铰接，其中，
[0010]直流电源，电压为V，正负极分别连接于固定杆的固定端与滑动端，直流电源上设有电流表，固定杆两端的电流为I，R＝V/I；
[0011]机壳结构的微变形量为ΔL2，ΔL2的计算公式为：
[0012][0013]其中，L
22
、L
21
分别为测量机壳结构后和测量机壳结构前的测量杆的长度，L
12
、L
11
分别为测量机壳结构后、测量机壳结构前固定杆的长度，V2、I2分别为测量机壳结构后固定杆两端的电压和固定杆上的电流，V1、I1分别为测量机壳结构前固定杆两端的电压和固定杆上的电流。
[0014]优选的，所述连杆与固定杆之间的夹角为θ，其中θ大于等于85
°
。
[0015]第二方面，本申请提供的一种用于测量机壳结构微变形量的测量方法，采用如下的技术方案：
[0016]一种用于测量机壳结构微变形量的测量方法，应用于上述所述的一种用于测量机壳结构微变形量的测量系统，包括以下步骤：
[0017]构建测量机壳结构微变形量的测量系统；
[0018]测量连杆的长度L；
[0019]记录测量机壳结构前固定杆两端的电压V1和固定杆上的电流I1及记录测量机壳结构后固定杆两端的电压V2和固定杆上的电流I2，计算固定杆的有效使用长度L1，固定杆的有效使用长度L1的计算公式为：
[0020][0021]得到测量机壳结构微变形量前后的固定杆使用的有效长度，分别记录为L
11
和L
12
，
[0022]假设L2在测量机壳结构微变形量前后的长度，分别记录为L
21
、L
22
，则
[0023][0024][0025]其中，ΔL2为测量机壳结构前后测量杆长度的差值，即测量出的机壳结构的微变形量。
[0026]优选的，连杆与固定杆之间的夹角为θ；
[0027]L1的长度可表示为L1＝L*Cosθ，则L1在测量机壳结构微变形量前后的长度变化差值ΔL1＝L
11
‑
L
12
＝L*Cosθ1‑
L*Cosθ2；
[0028]L2的长度可表示为L2＝L*Sinθ，则L2在测量机壳结构微变形量前后的长度变化差值ΔL2＝L
21
‑
L
22
＝L*Sinθ2‑
L*Sinθ1；
[0029]计算ΔL1/ΔL2的比值，其中ΔL1/ΔL2的计算公式为：
[0030][0031]其中，ΔL1和ΔL2分别为L1在测量机壳结构微变形量前后的长度变化差值和L2在测量机壳结构微变形量前后的长度变化差值，θ为固定杆与连杆之间的夹角；
[0032]根据ΔL1/ΔL2的比值调整固定杆与连杆之间的夹角θ。
[0033]优选的，根据ΔL1/ΔL2的比值，固定杆与连杆之间的夹角θ在大于等于85
°
时，ΔL1/ΔL2的比值迅速增大，测量机壳结构的微变形量时，连杆与固定杆之间的夹角为θ大于等于85
°
。
[0034]综上所述，本申请包括以下有益技术效果：
[0035]1.本申请通过利用固定杆电阻与长度呈正比的关系来提高固定杆有效长度的测量精度，从而使得计算出的机壳结构的微变形量的精度得到极大的提高，且该测量系统结构简单、操作简单，使用便捷，测量机壳结构速度快，效率高，测量的机壳结构的微变形量精度高。
[0036]2.本申请通过将固定杆与连杆之间的夹角调整为大于等于85
°
，使得在测量杆的长度发生变化时，连杆在固定杆上的滑动距离会成倍的增加，从而有利于固定杆上电流的变化，从而提高固定杆有效长度计算的精度，进而提高机壳结构微变形量的计算精度。
附图说明
[0037]图1是本申请实施例的整体结构示意图。
[0038]图2是余弦函数与正弦函数的线状图。
[0039]附图标记说明：11、顶杆；12、底板；13、支撑杆；2、固定杆；3、测量杆；4、连杆。
具体实施方式
[0040]以下结合附图对本申请作进一步详细说明。
[0041]本申请实施例公开了一种用于测量机壳结构微变形量的测量系统。
[0042]用于测量机壳结构微变形量本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于测量机壳结构微变形量的测量系统，其特征在于，包括：工作台，包括平行设置的顶板和底板以及用于连接顶板与底板的支撑杆，顶板顶部沿水平方向开设有水平凹槽和竖直凹槽，竖直凹槽垂直于水平凹槽，底板上端面为机壳结构的放置部，放置部位于竖直凹槽的正下方；固定杆，固定于水平凹槽底部，固定杆为变阻器，固定杆的电阻的有效长度为L1，固定杆的电阻与长度的关系式为R＝aL1，其中a为常数；测量杆，穿设于竖直凹槽内，底部为用于抵接于机壳结构上的测量端，测量杆的侧壁与固定杆的一端贴合，其中，测量杆高出固定杆部分的长度为L2；连杆，长度为L，底部与固定杆上的滑动端铰接，顶部与测量杆的顶部铰接，其中，直流电源，电压为V，正负极分别连接于固定杆的固定端与滑动端，直流电源上设有电流表，固定杆两端的电流为I，R＝V/I；机壳结构的微变形量为ΔL2，ΔL2的计算公式为：其中，L
22
、L
21
分别为测量机壳结构后和测量机壳结构前的测量杆的长度，L
12
、L
11
分别为测量机壳结构后、测量机壳结构前固定杆的长度，V2、I2分别为测量机壳结构后固定杆两端的电压和固定杆上的电流，V1、I1分别为测量机壳结构前固定杆两端的电压和固定杆上的电流。2.根据权利要求1所述的一种用于测量机壳结构微变形量的测量系统，其特征在于，所述连杆与固定杆之间的夹角为θ，其中θ大于等于85
°
。3.一种用于测量机壳结构微变形量的测量方法，应用于权利要求1或2所述的一种用于测量机壳结构微变形量的测量系统，其特征在于，包括以下步骤：构建测量机壳结构微变形量的测量系统；测量连杆的长度L；记录测量机壳结构前固定杆两端的电压V1和固定杆上的电流I1及记录测量机壳结构后固定杆两端的电...
【专利技术属性】
技术研发人员：周雷，孙建，夏鹏，
申请(专利权)人：太仓市同维电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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